A Study on Definition and Measurement of Customer Utility based on Attributes of Multiple Generation Technology: Case of 45nm and 32nm Logic Semiconductor (다세대 기술의 속성 기반 고객효용도(Customer utility) 정의 및 측정에 대한 연구: 45nm 및 32nm 로직 반도체 기술 사례)
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- Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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- v.19 no.3
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- pp.260-266
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- 2018