• 한국컴퓨터그래픽스학회논문지
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• 제9권3호
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• pp.7-13
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• 2003

본 논문은 사람의 실제 얼굴에서 캡쳐된 얼굴 모션 데이터를 새로운 얼굴에 재적용하는 리타켓팅 기법을 제안한다. 본 기법은 형태가 매우 상이한 얼굴 모델에도 적용이 가능하며 특히 주름같은 세밀한 모션의 리타켓팅에 적합하다. 본 기법은 다중해상도 메쉬 즉 노말메쉬(normal mesh)를 사용함으로써 소스와 타켓의 계층적으로 대응관계를 결정하고 계층적으로 리타켓팅한다. 노말 메쉬는 주어진 메쉬를 베이스 메쉬 (base mesh)와 일련의 노말 오프셋 (normal offsets)을 이용하여 근사시킨 계층적 메쉬이다. 본 리타켓팅 기법은 우선 베이스 모션을 소스 모델에서 타겟 모델로 리타켓팅한 후 그 모션 위에 노말 오프셋의 모션을 계층적으로 더해준다. 이 기법은 형태가 매우 세밀한 모션에 대하여 안정적이면서도 정교한 리타켓팅 결과를 생성한다.

• 한국CDE학회논문집
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• 제8권4호
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• pp.270-277
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• 2003

In two dimensional mechanical design analysis, quadrilateral element mesh is preferred because it provides more accurate result than triangular element mesh. However, automation of quadrilateral element mesh generation is much more complex because of its geometrical complexities. In this study, an automatic quadrilateral element mesh generation algorithm based on the boundary normal offsetting method and the boundary decomposition method is developed. In so doing, nodes are automatically placed using the boundary normal offsetting method and the decomposition method is applied to decompose the designed domain into a set of convex subdomains. The generated elements are improved by relocation of the existing nodes based on the four criteria - uniformity, aspect ratio, skewness and taper degree. The developed algorithm requires minimal user inputs such as boundary data and the distance between nodes.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제38권1호
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• pp.44-54
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• 2001

본 논문에서는 아날로그 회로에 존재하는 강고장(hard fault)과 약고장(soft fault)을 검출하기 위한 새로운 테스트 방식을 제안한다. 제안한 테스트 방식은 연산 증폭기의 특성중 하나인 오프셋 전압(offset voltage)을 이용한다. 테스트 시, 테스트 대상 회로(CUT: Circuit Under Test)는 귀환 루프를 가지는 단일 이득 연산 증폭기로 변환된다. 연산 증폭기의 입력이 접지되었을 때, 정상 회로는 작은 오프셋 전압을 가지지만 고장이 존재하는 회로는 큰 오프셋 전압을 가진다. 따라서 오프셋 전압의 허용 오차를 벗어나는 연산증폭기 내에 존재하는 고장들을 검출할 수 있다. 제안한 테스트 방식은 테스트 패턴 없이 단지 입력을 접지시키면 되므로 테스트 패턴을 생성하는 문제를 제거시킬 수 있어 테스트 시간과 비용이 감소한다. HSPICE 모의 실험을 통하여 본 논문에서 제안하는 방식을 단일 연산증폭기와 듀얼 슬롭(dual slope) A／D 변환기에 적용한 결과 높은 고장 검출율(fault coverage)을 얻었다.

• 대한전자공학회:학술대회논문집
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• 대한전자공학회 1998년도 추계종합학술대회 논문집
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• pp.507-510
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• 1998

In this paper, a novel test method is proposed to detect hard and soft fault in CMOS operational amplifiers. Proposed test method mark use of the offset character, which is one of the op-amps characteristics. During the test mode, CUT is implemented to unit gain op-amps with feedback loop. When the input is grounded, a good circuit has a small offset voltage, but a faulty circuit has a large offset voltage exceeding predefined range of tolerance. Using the proposed method, no test vector is required to be applied. Therefore the test vector generation problem is eliminated and the test time is reduced. The accuracy and effectiveness of the method is verified through HSPICE simulation.