• Title/Summary/Keyword: 반도체

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Study on the Structural and Transporting Property of Sr2Ru1-xCuxO4-y(0.0≤x≤0.5) (Sr2Ru1-xCuxO4-y(0.0≤x≤0.5) 화합물의 구조 및 전달 특성에 대한 연구)

  • Park, Jung-Chul
    • Journal of the Korean Chemical Society
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    • v.47 no.6
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    • pp.614-618
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    • 2003
  • $Sr_2Ru_{1-x}Cu_xO_{4-y}(0.0{\le}x{\le}0.5)$ compounds were prepared using a conventional solid state reaction. Based on the Rietveld refinements of X-ray diffraction results, it is revealed that $Sr_2Ru_{1-x}Cu_xO_{4-y}$ compounds are the single phases with K2NiF4 type tetragonal system in the range of 0=x=0.3, while the mixed phases of$Sr_2RuO_4$ and $Sr_2CuO_3$ in the range of $0.4{\le}x{\le}0.5$. By means of X-ray photoelectron spectroscopy, the valence states of Ru and Cu in $Sr_2Ru_{1-x}Cu_xO_{4-y}$, have been confirmed to 4+ and 2+, respectively. The bond length difference between $Ru-O_1 ({\times}4)\;and\;Ru-O_2 ({\times}2)\;in\;RuO_6$ octahedron is gradually decreased with increasing Cu content in $Sr_2Ru_{1-x}Cu_xO_{4-y}$, which results in the lower c/a ratio. So, it might be assured that the variation of local symmetry of $RuO_6$ octahedron is very closely related to the transporting property of $Sr_2Ru_{1-x}Cu_xO_{4-y}$ compounds. The behavior of resistivity discloses that the metallic property in $Sr_2RuO_4$ changes into the semiconducting one in proportion to the Cu content in $Sr_2Ru_{1-x}Cu_xO_{4-y}$.

Properties of the interfacial oxide and high-k dielectrics in $HfO_2/Si$ system ($HfO_2/Si$시스템의 계면산화막 및 고유전박막의 특성연구)

  • 남서은;남석우;유정호;고대홍
    • Proceedings of the Korea Crystallographic Association Conference
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    • 2002.11a
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    • pp.45-47
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    • 2002
  • 반도체 소자의 고집적화 및 고속화가 요구됨에 따라 MOSFET 구조의 게이트 절연막으로 사용되고 있는 SiO₂ 박막의 두께를 감소시키려는 노력이 이루어지고 있다. 0.1㎛ 이하의 소자를 위해서는 15Å 이하의 두께를 갖는 SiO₂가 요구된다. 하지만 두께감소는 절연체의 두께와 지수적인 관계가 있는 누설전류를 증가시킨다[1-3]. 따라서 같은 게이트 개패시턴스를 유지하면서 누설전류를 감소시키기 위해서는 높은 유전상수를 갖는 두꺼운 박막이 요구되는 것이다. 그러므로 약 25정도의 높은 유전상수를 갖고 5.2~7.8 eV 정도의 비교적 높은 bandgap을 갖으며, 실리콘과 열역학적으로 안정한 물질로 알려진 HfO2[4-5]가 최근 큰 관심을 끌고 있다. 본 연구에서는 HfO₂ 박막을 실제 소자에 적용하기 위하여 전극 및 열처리에 따른 HfO₂ 박막의 미세구조 및 전기적 특성에 관한 연구를 수행하였다. 이를 위해, HfO₂ 박막을 reactive DC magnetron sputtering 방법으로 증착하고, XRD, TEM, XPS를 사용하여 ZrO₂ 박막의 미세구조를 관찰하였으며, MOS 캐패시터 구조의 C-V 및 I-V 특성을 측정하여 HfO₂ 박막의 전기적 특성을 관찰하였다. HfO₂ 타겟을 스퍼터링하면 Ar 스퍼터링에 의해 에너지를 가진 산소가 기판에 스퍼터링되어 Si 기판과 반응하기 때문에 HfO₂ 박막 형성과 더불어 Si 기판이 산화된다[6]. 그래서 HfO₂같은 금속 산화물 타겟 대신에 순수 금속인 Hf 타겟을 사용하고 반응성 기체로 O₂를 유입시켜 타겟이나 시편위에서 high-k 산화물을 만들면 SiO/sub X/ 계면층을 제어할 수 있다. 이때 저유전율을 갖는 계면층은 증착과 열처리 과정에서 형성되고 특히 500℃ 이상에서 high-k/Si를 열처리하면 계면 SiO₂층은 증가하는 데, 이것은 산소가 HfO₂의 high-k 박막층을 뚫고 확산하여 Si 기판을 급속히 산화시키기 때문이다. 본 방법은 증착에 앞서 Si 표면을 희석된 HF를 이용해 자연 산화막과 오염원을 제거한 후 Hf 금속층과 HfO₂ 박막을 직류 스퍼터링으로 증착하였다. 우선 Hf 긍속층이 Ar 가스 만의 분위기에서 증착되고 난 후 공기중에 노출되지 않고 연속으로 Ar/O₂ 가스 혼합 분위기에서 반응 스퍼터링 방법으로 HfO₂를 형성하였다. 일반적으로 Si 기판의 표면 위에 자연적으로 생기는 비정질 자연 산화막의 두께는 10~15Å이다. 그러나 Hf을 증착한 후 단면 TEM으로 HfO₂/Si 계면을 관찰하면 자연 산화막이 Hf 환원으로 제거되기 때문에 비정질 SiO₂ 층은 관찰되지 않았다. 본 실험에서는 HfO2의 두께를 고정하고 Hf층의 두께를 변수로 한 게이트 stack의 물리적 특성을 살펴보았다. 선증착되는 Hf 금속층을 0, 10, 25Å의 두께 (TEM 기준으로 한 실제 물리적 두께) 로 증착시키고 미세구조를 관찰하였다. Fig. 1(a)에서 볼 수 있듯이 Hf 금속층의 두께가 0Å일때 13Å의 HfO₂를 반응성 스퍼터링 방법으로 증착하면 HfO₂와 Si 기판 사이에는 25Å의 계면층이 생기며, 이것은 Ar/O₂의 혼합 분위기에서의 스퍼터링으로 인한 Si-rich 산화막 또는 SiO₂ 박막일 것이다. Hf 금속층의 두께를 증가시키면 계면층의 성장은 억제되는데 25Å의 Hf 금속을 증착시키면 HfO₂ 계면층은 10Å미만으로 관찰된다. 그러므로 Hf 금속층이 충분히 얇으면 플라즈마내 산소 라디칼, 이온, 그리고 분자가 HfO₂ 층을 뚫고 Si 기판으로 확산되어 SiO₂의 계면층을 성장시키고 Hf 금속층이 두꺼우면 SiO/sub X/ 계면층을 환원시키면서 Si 기판으로의 산소의 확산은 막기 때문에 계면층의 성장은 억제된다. 따라서 HfO₂/Hf(Variable)/Si 계에서 HfO₂ 박막이 Si 기판위에 직접 증착되면, 순수 HfO₂ 박막의 두께보다 높은 CET값을 보이고 Hf 금속층의 두께를 증가시키면 CET는 급격하게 감소한다. 그러므로 HfO₂/Hf 박막의 유효 유전율은 단순 반응성 스퍼터링에 의해 형성된 HfO₂ 박막의 유전율보다 크다. Fig. 2에서 볼 수 있듯이 Hf 금속층이 너무 얇으면 계면층의 두께가 두꺼워 지고 Hf 금속층이 두꺼우면 HfO₂층의 물리적 두께가 두꺼워지므로 CET나 EOT 곡선은 U자 형태를 그린다. Fig. 3에서 Hf 10초 (THf=25Å) 에서 정전 용량이 최대가 되고 CET가 20Å 이상일 때는 high-k 두께를 제어해야 하지만 20Å 미만의 두께를 유지하려면 계면층의 두께를 제어해야 한다.

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Crystal Structure and Mossbauer Studies of 57Fe Doped TiO2 (57Fe가 치환된 TiO2의 결정학적 및 뫼스바우어 분광학적 연구)

  • Lee, Hi-Min;Shim, In-Bo;Kim, Chul-Sung
    • Journal of the Korean Magnetics Society
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    • v.13 no.6
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    • pp.237-242
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    • 2003
  • $Ti_{1-x}$$^{57}$ F $e_{x}$ $O_2$(0.0$\leq$x$\leq$0.07) compounds were fabricated using the sol-gel method, and the crystal structure and magnetic properties were investigated as a function of doped $^{57}$ Fe concentration. X-ray diffraction patterns showed a pure anatase single phase, without any segregation of Fe into particulate. With varying $^{57}$ Fe concentration, we could observe unusual magnetic phenomena in these materials. Doping $^{57}$ Fe into the Ti $O_2$ nonmagnetic semiconductor formed magnetic properties, but the gradual increase of $^{57}$ Fe concentration decreased rapidly the ferromagnetic properties rather than enhanced the ferromagnetic properties. Obvious ferromagnetic behavior was shown for the samples with x$\leq$0.01, while paramagnetic behavior was shown for the sample with x$\geq$0.03. These phenomena could be verified using Mossbauer measurement. Separation of the ferromagnetic phase (sextet) and the paramagnetic phase (doublet) of the samples with different $^{57}$ Fe concentration was characterized. Samples with x$\leq$0.01 have sextet and doublet simultaneously, but samples with x$\geq$0.03 have only doublet at room temperature. This indicates that the sample x$\leq$0.01 have the ferromagnetic phase at room temperature. This result corresponded with the M-H loops referenced above and reveals an interesting feature that there is a critical limit of $^{57}$ Fe concentration (0.01$\leq$0.01 samples was fundamentally attributable to the paramagnetic phase as well as the ferromagnetic phase.e.

질화물계 발광다이오드에서 InGaN/GaN 자우물구조 내 GaN 보호층에 대한 연구

  • Song, Gi-Ryong;Kim, Ji-Hun;Lee, Seong-Nam
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2013.02a
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    • pp.425-426
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    • 2013
  • IIIN계 물질 기반의 광 반도체는 직접 천이형 넓은 밴드갭 구조를 갖고 있기 때문에 적외선부터 가시광선 및 자외선까지를 포함한 폭 넓은 발광파장 조절이 가능하여 조명 및 디스플레이 관련 차세대 광원으로 많은 관심을 받고 있다. 일반적인 청색 및 녹색 발광영역의 활성층으로는 InGaN/GaN 다중양자우물구조를 사용하고 있으나, 장파장의 녹색 발광을 얻기 위해서는 인듐의 함유량이 증가하여야 한다. 하지만, 인듐의 함유량이 증가함에 따라서 InGaN/GaN 다중양자우물 구조내에서 인듐의 편석현상의 발생이 용이하게 되어 계면 특성을 저하할 뿐 아니라, 비발광 센터를 증가하여 발광 효율을 급격히 감소시키는 원인이 되고 있다. 또한, InGaN과 GaN의 큰 성장온도의 차이에 따라 800도 부근의 저온 영역에서 성장된 InGaN층이 1,000도 이상의 고온 영역에서 GaN층이 성장시 InGaN층의 열화 현상이 급격히 발생되고 있다. 이를 억제하기 위해서 금속유기화학증착법의 성장 변수 최적화, 응력제어, 도핑 등의 편석 억제기술 및 보호층이 사용되고 있다. 본 연구에서는 인듐함유량이 증가된 녹색 InGaN/GaN 다중양자우물구조에서 InGaN 우물층 상하부에 도입된 GaN 보호층에 따라 발생되는 양자우물구조의 광학 및 결정학적 특성 분석을 통해 GaN 보호층의 역할을 분석하고자 한다. 본 연구에서는 금속유기화학증착장치를 이용하여 사파이어 기판위에 GaN 템플릿을 성장하고, n-형 GaN, InGaN/GaN 다중양자우물구조 및 p-형 층을 성장하였다. 앞선 언급하였듯이, InGaN/GaN 다중양자우물구조내에 GaN 보호층의 역할을 규명하기 위하여 샘플 A의 경우는 보호층이 전혀 없는 구조이고, 샘플 B의 경우는 InGaN 우물층의 상단부에만, 샘플 C의 경우에는 우물층 상부 및 하단부 모두에 약 2.0 nm 두께의 GaN 보호층을 형성하였다. 이 보호층의 유무에 따른 다중양자우물구조의 계면 특성을 확인하기 위한 X-선 회절을 이용하였고, 광학적 특성을 확인하고 상온 포토루미네선스법을 이용하여 녹색 발광 파장의 변화 및 발광세기를 관찰하였다. 우선적으로, 상온 포토루미네선스법을 이용하여 각 샘플의 발광특성을 확인한 바 상하부 모두에 GaN 보호층이 존재하는 샘플 C의 경우 약 510 nm 부근에서 발광이 관찰되었지만, 상단부에 GaN 보호층이 존재하는 샘플 B는 약 495 nm영역에 발광이 확인되었다. 특히, 전혀 보호층이 존재하지 않는 샘플 A의 경우 약 440 nm에서 발광하는 현상을 관찰하였다. 이는 우물층 상단부 및 하단부에 존재하는 GaN 보호층이 In의 확산을 억제하는 것으로 판단된다. 또한, 발광파장 및 세기를 확인한 바, 보호층의 존재하지 않을수록 단파장화가 발생함에도 불구하고 발광세기는 급격히 약해지는 것으로 보아 계면특성이 저하되어 비발광센터가 증가되는 것으로 판단된다. 이를 구조적으로 확인하기 위하여 X-선 회절법을 통한 ${\omega}$/$2{\Theta}$ 스캔의 결과는 In의 0차 피크가 GaN 보호층이 없을 경우 GaN의 피크 방향으로 이동하는 것으로 보아 GaN 보호층은 우물층 성장 후 GaN 장벽층을 성장하기 위해 온도를 증가시키는 과정에서 In의 확산되는 것으로 판단된다. 또한, 하부 GaN 보호층의 경우 GaN 장벽층 성장 후 온도를 감소시키는 과정에서 성장되므로, 우물층으로부터 In의 탈착현상이 아닌 장벽층과의 상호 확산으로 판단된다. 또한, 계면특성을 확인하기 위해 InGaN의 X-선 위성 피크를 확인한 바 샘플 A의 경우 매우 넓고 약한 피크가 관찰된 반면, 보호층이 존재하는 샘플 B와 C의 경우 강하고 얇은 피크가 확인되었다. 이는 GaN 보호층의 도입으로 인해 계면특성이 향상되는 것으로 판단된다. 따라서, 우리는 InGaN/GaN 다중양자우물구조에서 GaN 보호층은 상부의 열화 억제 뿐아니라, 하부의 장벽층 및 우물층 사이의 상호확산을 억제하는 GaN 보호층의 도입을 통하여 우수한 계면 특성 및 비발광센터의 억제를 얻을 수 있을 것으로 생각되며, 이는 향후 GaN계 발광다이오드의 전계 발광특성을 증가하여 우수한 발광소자를 개발할 수 있을 것으로 기대된다.

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Artificial diminution of the residual pesticides on horticultural crops using photosensitizers (감광제에 의한 원예작물중 잔류농약의 인위적 경감)

  • Lee, Jae-Koo;Kwon, Jeong-Wook;Ahn, Ki-Chang;Park, Ju-Hyoung;Lee, Jun-Su;Park, Jung-Ok
    • The Korean Journal of Pesticide Science
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    • v.3 no.2
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    • pp.47-53
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    • 1999
  • Photosensitizing activities of some photosensitizers (PS) for the artificial diminution of pesticide residues on horticultural crops were investigated. Five fungicides, iprodione, bitertanol, chlorothalonil, myclobutanil, and dichlofluanid were sprayed on apple and cucumber, followed by the application of each selected photosensitizer, and the samples were collected 0, 1, 3, 7, 15 days after the photosensitizer application and analyzed for the residual amounts. Of the 40 photosensitizers tested, six selected on the basis of the eliminating effect of pesticide residues were PS-1 (aromatic ketone), PS-2 (aromatic amine), PS-3 (quinone), PS-4 (inorganic compound), PS-5 (organic acid salt), and PS-6 (semiconductor photocatalyst). The residual amount of iprodione after 15 days of the application of PS-1 was 74% of that of the control. For bitertanol, the residual amount after 15 days of the application of PS-1 accounted for 78% of that of the control. The residual amounts of chlorothalonil after 1 day of the application of PS-1 and PS-2 accounted for 56 and 54% of those of the control, respectively. The residual amounts of iprodione on cucumber after 3 days of the application of the photosensitizers PS-1 and PS-2 were 44 and 67% of those of the untreated control, respectively. For myclobutanil, the residual amount after 15 days of the application of PS-6 accounted for 45% of that of the control. In case of dichlofluanid, the residual amount after 3 days of the application of PS-1 accounted for 44% of that of the control. Based on the results, PS-1 turned out to be the most promising photosensitizer for the accelerated photodegradation of the above fungicides on apple and cucumber.

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The Influence of the Restrictions in Chinese economic growth on Korean commercial environment (중국 경제성장의 제약요인이 한국 통상환경에 미치는 영향)

  • Shong, Il-Ho;Lee, Gye-Young
    • International Commerce and Information Review
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    • v.15 no.4
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    • pp.457-479
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    • 2013
  • Through a Chinese rise, Chinese dream is actualizing as the world's great power. According to outlook of World Bank and IMF, Around 2030 China will be a great power bigger than America's economic power. The rise of China will give a huge impact to the whole world. China expands her influence through a global manufacturing base and a global market. To actualize 'Peaceful Rise' Strategy, China has many constraints. Chinese society is facing many difficult social problem due to side effects of a rapid development. Such as the spread of corruption, the severity of wealth gap, environmental degradation and energy shortage. Internationally there are containment from hegemon so-called 'China threat' dispute, Taiwan issue and territorial disputes. Western countries are hostile to China for two reasons. Based on expectations, one is China's socialist system and the other is the rising China which will compete for supremacy with Europe and America. Recent emergence of Chinese nationalism and the containment of the neighboring countries are also serious limiting factors. Domestically they have the rampant corruption in the bureaucracy, weakened capacity of Communist rule, wealth disparity due to the discriminatory economic development strategy, seriousness of rural problem, social instability, lack of social security systems and the development gap between the eastern coastal areas and western inland areas, ethnic minorities problems, the constraint of sustainable development issues due to lack of resources, environmental pollution and energy constraints. Like the former Soviet Union, China may face a dismantlement. After the rise, China may encounter possibilities of a war between great powers or a collapse of Chinese society caused by deepening internal conflict. Serious economic polarization would make peasants and urban workers, who are social vulnerable people, to turn their back to communist party and threaten the justification and the appropriateness of the ruling communist party. Chinese government will think internal system security threat is more formidable risk factor than a system security threat from the hegemon. The decline of great country comes from internal reasons rather than external reasons. To achieve peaceful rise, unification with Taiwan is an essential prerequisite. Taiwan issues are complex problems which equipped with international and domestic factors. Lack of energy resources, environmental pollution in China will bring economic crisis to Korean enterprises. Important influence to Korean economy will be a changeover of the method in economic development. It will turn the balance of investment and consumption, GDP-centered growth to consumption and environment-centered growth. Services industries including finance, environment, culture, education, health care and social welfare will grow. Change in China's growth model will give a great challenge upon the intermediate goods industry in Korea. Korea should reduce the portion of machinery, automotive, semiconductor, steel and chemical-centered export industry to China, and should increase the proportion of the service industry.

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Annealing Effect on Magnetic and Electrical Properties of Amorphous Ge1-xMnx Thin Films (비정질 Ge1-xMnx 박막의 전기적, 자기적 특성에 미치는 열처리 효과)

  • Lee, Byeong-Cheol;Kim, Dong-Hwi;Anh, Tran Thi Lan;Ihm, Young-Eon;Kim, Do-Jin;Kim, Hyo-Jin;Yu, Sang-Soo;Baek, Kui-Jong;Kim, Chang-Soo
    • Journal of the Korean Magnetics Society
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    • v.19 no.3
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    • pp.89-93
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    • 2009
  • Amorphous $Ge_{1-x}Mn_x$ semiconductor thin films grown by low temperature vapor deposition were annealed, and their electrical and magnetic properties have been studied. The amorphous thin films were $1,000{\sim}5,000\;{\AA}$ thick. Amorphous $Ge_{1-x}Mn_x$ thin films were annealed at $300^{\circ}C$, $400^{\circ}C$, $500^{\circ}C$, $600^{\circ}C$ and $700^{\circ}C$ for 3 minutes in high vacuum chamber. X-ray diffraction analysis reveals that as-grown $Ge_{1-x}Mn_x$ semiconductor thin films are amorphous and are crystallized by annealing. Crystallization temperature of amorphous $Ge_{1-x}Mn_x$ semiconductor thin films varies with Mn concentration. Amorphous $Ge_{1-x}Mn_x$ thin films have p-type carriers and the carrier type is not changed during annealing, but the electrical resistivity increases with annealing temperature. Magnetization characteristics show that the as-grown amorphous $Ge_{1-x}Mn_x$ thin films are ferromagnetic and the Curie temperatures are around 130 K. Curie temperature and saturation magnetization of annealed $Ge_{1-x}Mn_x$ thin films increase with annealing temperature. Magnetization behavior and X-ray analysis implies that formation of ferromagnetic $Ge_3Mn_5$ phase causes the change of magnetic and electrical properties of annealed $Ge_{1-x}Mn_x$ thin films.

Enhanced Device Performance of IZO-based oxide-TFTs with Co-sputtered $HfO_2-Al_2O_3$ Gate Dielectrics (Co-sputtered $HfO_2-Al_2O_3$을 게이트 절연막으로 적용한 IZO 기반 Oxide-TFT 소자의 성능 향상)

  • Son, Hee-Geon;Yang, Jung-Il;Cho, Dong-Kyu;Woo, Sang-Hyun;Lee, Dong-Hee;Yi, Moon-Suk
    • Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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    • v.48 no.6
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    • pp.1-6
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    • 2011
  • A transparent oxide thin film transistors (Transparent Oxide-TFT) have been fabricated by RF magnetron sputtering at room temperature using amorphous indium zinc oxide (a-IZO) as both of active channel and source/drain, gate electrodes and co-sputtered $HfO_2-Al_2O_3$ (HfAIO) as gate dielectric. In spite of its high dielectric constant > 20), $HfO_2$ has some drawbacks including high leakage current and rough surface morphologies originated from small energy band gap (5.31eV) and microcrystalline structure. In this work, the incorporation of $Al_2O_3$ into $HfO_2$ was obtained by co-sputtering of $HfO_2$ and $Al_2O_3$ without any intentional substrate heating and its structural and electrical properties were investigated by x-ray diffraction (XRD), atomic force microscopy (AFM) and spectroscopic ellipsometer (SE) analyses. The XRD studies confirmed that the microcrystalline structures of $HfO_2$ were transformed to amorphous structures of HfAIO. By AFM analysis, HfAIO films (0.490nm) were considerably smoother than $HfO_2$ films (2.979nm) due to their amorphous structure. The energy band gap ($E_g$) deduced by spectroscopic ellipsometer was increased from 5.17eV ($HfO_2$) to 5.42eV (HfAIO). The electrical performances of TFTs which are made of well-controlled active/electrode IZO materials and co-sputtered HfAIO dielectric material, exhibited a field effect mobility of more than $10cm^2/V{\cdot}s$, a threshold voltage of ~2 V, an $I_{on/off}$ ratio of > $10^5$, and a max on-current of > 2 mA.

Reliability Assessment of Flexible InGaP/GaAs Double-Junction Solar Module Using Experimental and Numerical Analysis (유연 InGaP/GaAs 2중 접합 태양전지 모듈의 신뢰성 확보를 위한 실험 및 수치 해석 연구)

  • Kim, Youngil;Le, Xuan Luc;Choa, Sung-Hoon
    • Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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    • v.26 no.4
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    • pp.75-82
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    • 2019
  • Flexible solar cells have attracted enormous attention in recent years due to their wide applications such as portable batteries, wearable devices, robotics, drones, and airplanes. In particular, the demands of the flexible silicon and compound semiconductor solar cells with high efficiency and high reliability keep increasing. In this study, we fabricated a flexible InGaP/GaAs double-junction solar module. Then, the effects of the wind speed and ambient temperature on the operating temperature of the solar cell were analyzed with the numerical simulation. The temperature distributions of the solar modules were analyzed for three different wind speeds of 0 m/s, 2.5 m/s, and 5 m/s, and two different ambient temperature conditions of 25℃ and 33℃. The flexibility of the flexible solar module was also evaluated with the bending tests and numerical bending simulation. When the wind speed was 0 m/s at 25 ℃, the maximum temperature of the solar cell was reached to be 149.7℃. When the wind speed was increased to 2.5 m/s, the temperature of the solar cell was reduced to 66.2℃. In case of the wind speed of 5 m/s, the temperature of the solar cell dropped sharply to 48.3℃. Ambient temperature also influenced the operating temperature of the solar cell. When the ambient temperature increased to 33℃ at 2.5 m/s, the temperature of the solar cell slightly increased to 74.2℃ indicating that the most important parameter affecting the temperature of the solar cell was heat dissipation due to wind speed. Since the maximum temperatures of the solar cell are lower than the glass transition temperatures of the materials used, the chances of thermal deformation and degradation of the module will be very low. The flexible solar module can be bent to a bending radius of 7 mm showing relatively good bending capability. Neutral plane analysis was also indicated that the flexibility of the solar module can be further improved by locating the solar cell in the neutral plane.

Identifying Bridging Nodes and Their Essentiality in the Protein-Protein Interaction Networks (단백질 상호작용 네트워크에서 연결노드 추출과 그 중요도 측정)

  • Ahn, Myoung-Sang;Ko, Jeong-Hwan;Yoo, Jae-Soo;Cho, Wan-Sup
    • Journal of Korea Society of Industrial Information Systems
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    • v.12 no.5
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    • pp.1-13
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    • 2007
  • In this research, we found out that bridging nodes have great effect on the robustness of protein-protein interaction networks. Until now, many researchers have focused on node's degree as node's essentiality. Hub nodes in the scale-free network are very essential in the network robustness. Some researchers have tried to relate node's essentiality with node's betweenness centrality. These approaches with betweenness centrality are reasonable but there is a positive relation between node's degree and betweenness centrality value. So, there are no differences between two approaches. We first define a bridging node as the node with low connectivity and high betweenness value, we then verify that such a bridging node is a primary factor in the network robustness. For a biological network database from Internet, we demonstrate that the removal of bridging nodes defragment an entire network severally and the importance of the bridging nodes in the network robustness.

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