• Title/Summary/Keyword: 박형기판

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Flexible packaging of thinned silicon chip (초 박형 실리콘 칩을 이용한 유연 패키징 기술)

  • 이태희;신규호;김용준
    • Proceedings of the International Microelectronics And Packaging Society Conference
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    • 2003.11a
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    • pp.177-180
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    • 2003
  • 초 박형 실리콘 칩을 이용하여 실리콘 칩들을 포함한 모듈 전체가 굽힘이 자유로운 유연 패키징 기술을 구현하였으며 bending test와 FEA를 통해 초 박형 실리콘 칩의 기계적 특성을 살펴보았다. 초 박형 실리콘칩$(t<30{\mu}m)$은 표면손상의 가능성을 배제하기 위해 화학적 thinning 방법을 이용하여 제작되었으며 열압착 방식에 의해 $Kapton^{(R)}$에 바로 실장 되었다. 실리콘칩과 $Kapton^{(R)}$ 기판간의 단차가 적기 때문에 전기도금 방식으로 전기적 결선을 이룰 수 있었다. 이러한 방식의 패키징은 이러한 공정은 flip chip 공정에 비해 공정 간단하고 wire 본딩과 달리 표면 단차 적다. 따라서 연성회로 기관을 비롯한 인쇄회로기판의 표면뿐만 아니라 기판 자체에 삽임이 가능하여 패키징 밀도 증가를 기대할 수 있으며 실질적인 실장 가능면적을 극대화 할 수 있다.

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Warpage Characteristics Analysis for Top Packages of Thin Package-on-Packages with Progress of Their Process Steps (공정 단계에 따른 박형 Package-on-Package 상부 패키지의 Warpage 특성 분석)

  • Park, D.H.;Jung, D.M.;Oh, T.S.
    • Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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    • v.21 no.2
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    • pp.65-70
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    • 2014
  • Warpage of top packages to form thin package-on-packages was measured with progress of their process steps such as PCB substrate itself, chip bonding, and epoxy molding. The $100{\mu}m$-thick PCB substrate exhibited a warpage of $136{\sim}214{\mu}m$. The specimen formed by mounting a $40{\mu}m$-thick Si chip to such a PCB using a die attach film exhibited the warpage of $89{\sim}194{\mu}m$, which was similar to that of the PCB itself. On the other hand, the specimen fabricated by flip chip bonding of a $40{\mu}m$-thick chip to such a PCB possessed the warpage of $-199{\sim}691{\mu}m$, which was significantly different from the warpage of the PCB. After epoxy molding, the specimens processed by die attach bonding and flip chip bonding exhibited warpages of $-79{\sim}202{\mu}m$ and $-117{\sim}159{\mu}m$, respectively.

Flexible and Embedded Packaging of Thinned Silicon Chip (초 박형 실리콘 칩을 이용한 유연 패키징 기술 및 집적 회로 삽입형 패키징 기술)

  • 이태희;신규호;김용준
    • Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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    • v.11 no.1
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    • pp.29-36
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    • 2004
  • A flexible packaging scheme, which includes chip packaging, has been developed using a thinned silicon chip. Mechanical characteristics of thinned silicon chips are examined by bending tests and finite element analysis. Thinned silicon chips (t<30 $\mu\textrm{m}$) are fabricated by chemical etching process to avoid possible surface damages on them. And the chips are stacked directly on $Kapton^{Kapton}$film by thermal compressive bonding. The low height difference between the thinned silicon chip and $Kapton^{Kapton}$film allows electroplating for electrical interconnection method. Because the 'Chip' is embedded in the flexible substrate, higher packaging density and wearability can be achieved by maximized usable packaging area.

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Warpage Analysis for Top and Bottom Packages of Package-on-Package Processed with Thin Substrates (박형 기판을 사용한 Package-on-Package용 상부 패키지와 하부 패키지의 Warpage 분석)

  • Park, D.H.;Shin, S.J.;Ahn, S.G.;Oh, T.S.
    • Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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    • v.22 no.2
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    • pp.61-68
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    • 2015
  • Warpage analysis has been performed for top and bottom packages of thin package-on-packages processed with different epoxy molding compounds (EMCs). Warpage deviation was measured for packages molded with the same EMCs and also the warpage deviations of top and bottom substrates themselves were characterized in order to identify the major factor causing the package warpage. For the top and bottom packages processed with thin substrates, the warpage deviation of the substrates was large, which made it difficult to figure out the effect of EMC properties on the package warpage. Top packages, where the molding area of $13mm{\times}13mm$ covered the most of the substrate area ($14mm{\times}14mm$), exhibited similar warpage behavior with changing the temperature. On the other hand, bottom packages, where the molding area was only $8mm{\times}8mm$, exhibited the complex warpage behavior due to simultaneous occurrence of (+) and (-) warpages on the same package. Accordingly, the bottom packages showed dissimilar temperature-warpage behavior even being processed with the same EMCs.

Plastic Substrates for Flexible Display (디스플레이용 플라스틱 기판의 현황)

  • Kim, G.H.;Suh, K.S.
    • Electronics and Telecommunications Trends
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    • v.21 no.5 s.101
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    • pp.129-140
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    • 2006
  • 정보화의 심화 및 대중화에 따라서 다양한 정보를 시각화하여 인간에게 전달하는 디스플레이로서 장소, 시간에 구애됨이 없으면서 초경량, 저전력의 얇고, 종이처럼 가볍고 유연한 플렉시블 디스플레이가 최근 학문적, 산업적으로 많은 주목을 받고 있다. 플렉시블 디스플레이를 구현하기 위해서는 플렉시블 기판(박형 유리, 메탈호일, 플라스틱), 저온 공정용 유기, 무기 소재, 플렉시블 일렉트로닉스, 봉지 그리고 패키징 기술 등이 복합적으로 필요하다. 이중에서 플렉시블 기판은 플렉시블 디스플레이의 성능, 신뢰성, 가격을 결정하는 가장 중요한 부품으로 인식되고 있다. 플렉시블 기판 중에서는 플라스틱 기판이 가공의 용이성, 저 중량(유리의 1/2), 연속 공정의 적합성 등으로 인해서 광범위하게 적용이 검토되고 있다. 본 고에서는 디스플레이용 플라스틱 기판의 최근 산업적, 기술적 동향에 관해서 설명한다.

Thermo-mechanical Behavior Characteristic Analysis of $B^2it$(Buried Bump Interconnection Technology) in PCB(Printed Circuit Board) (인쇄회로기판 $B^2it$(Buried Bump Interconnection Technology) 구조의 열적-기계적 거동특성 해석)

  • Cho, Seung-Hyun;Chang, Tae-Eun
    • Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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    • v.16 no.2
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    • pp.43-50
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    • 2009
  • Although thin PCBs(Printed Circuit Boards) have recently been required for high density interconnection, high electrical performance, and low manufacturing cost, the utilization of thin PCBs is severely limited by warpage and reliability issues. Warpage of the thin PCB leads to failure in solder-joints and chip. The $B^2it$(Buried Bump Interconnection Technology) for PCB has been developed to achieve a competitive manufacturing price. In this study, chip temperature, package warpage, chip stress and solder-joints stress characteristics of the PCB prepared with $B^2it$ process have been calculated using thermo-mechanical coupled analysis by the FEM(Finite Element Method). FEM computation was carried out with the variations in bump shapes and kinds of materials under 1.5W power of chip and constant convection heat transfer. The results show that chip temperature distribution reached more quickly steady-state status with PCB prepared with $B^2it$ process than PCB prepared with conventional via interconnection structure. Although $B^2it$ structures are effective on low package warpage and chip stress, with high strength bump materials arc disadvantage for low stress of solder-joints. Therefore, it is recommended that optimized bump shapes and materials in PCB design should be considered in terms of reliability characteristics in the packaging level.

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사파이어 기판에 sub-micron급 패터닝을 위한 나노 임프린트 리소그래피 공정

  • Park, Hyeong-Won;Byeon, Gyeong-Jae;Hong, Eun-Ju;Lee, Heon
    • Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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    • 2009.05a
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    • pp.50.2-50.2
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    • 2009
  • 사파이어는 질화물계 광전자소자 제작 시 박막 성장 기판으로 주로 사용되어 최근 그 중요성이 부각되고 있다. 특히 미세 패턴이 형성된 사파이어 기판을 이용하여 질화물계 발광다이오드 소자를 제작하면 빛의 난반사가 증가하여 광추출효율에 큰 개선이 나타난다. 또한 사파이어는 화학적 안정성이 뛰어나고, 높은 강도를 지녀 나노임프린트 등 여러 가지 패터닝 공정에서 패턴 형성 몰드로도 응용될 수 있다. 그러나 이와 같은 사파이어의 화학적 안정성으로 인하여 sub-micron 크기의 미세 패턴을 형성하기 힘들며, 현재 사파이어의 패턴은 micron 크기로 제한되어 사용되고 있다. 본 연구에서는 나노임프린트 리소그라피(NIL)를 사용하여 사파이어 웨이퍼의 c-plane위에 sub-micron 크기의 hole 패턴 및 pillar 패턴을 형성하였다. 우선 Hole 패턴을 형성하기 위해 사파이어 기판 위에 금속 hard mask 패턴을 UV 임프린트 공정과 etch 공정을 통해 형성하였다. 그리고 이 금속 패턴을 mask로 사파이어를 ICP 식각을 하여 hole 패턴을 형성하였다. 또한 Pillar 패턴을 형성하기 위해 lift-off 공정을 이용하여 금속 마스크 패턴을 형성하였고 이를 ICP 식각을 통해 사파이어 기판 위에 pillar 패턴을 형성하였다.

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Scarf Welding of Thin Substrates and Evaluation of the Tensile Properties (박형 기판의 사면 접합 공정 및 인장 특성 평가)

  • Beomseok Kang;Jeehoo Na;Myeong-Jun Ko;Minjeong Sohn;Yong-Ho Ko;Tae-Ik Lee
    • Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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    • v.30 no.3
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    • pp.102-110
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    • 2023
  • This paper introduces scarf welding process of thin substrates using flexible laser transmission welding (f-LTW) technology. We examined the behavior of tensile strength relative to the scarf angle for flexible applications. Thin plastic substrates with the thickness of less than 100 ㎛ were bonded and a jig to form a slope at the edge of the substrate was developed. By developing the scarf welding process, we successfully created a flexible bonding technology that maintains joint's thickness after the process. The tensile strength of the joint was assessed through uniaxial test, and we found that the tensile strength increases as the slope of bonding interface decreases. By conducting stress analysis at the bonding interface with respect to the slope angle, design factor of bonding structure was investigated. These findings suggest that the tensile strength depends on the geometry of the joint, even under the same process conditions, and highlights the significance of considering the geometry of the joint in welding processes.