• Title/Summary/Keyword: 매몰채널 특성

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Characteristics of submicrometer n-and p-channel MOSFET's fabricated with twin-tub CMOS process (Twin-tub CMOS공정으로 제작된 서브마이크로미터 n채널 및 p채널 MOSFET의 특성)

  • 서용진;최현식;김상용;김태형;김창일;장의구
    • Electrical & Electronic Materials
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    • v.5 no.3
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    • pp.320-327
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    • 1992
  • Twin-tub CMOS 공정에 의해 제작된 서브마이크로미터 채널길이를 갖는 n채널 및 p채널 MOSFET의 특성을 고찰하였다. n채널 및 p채널 영역에서의 불순물 프로파일과 채널 이온주입 조건에 따른 문턱전압의 의존성 및 퍼텐셜 분포를 SUPREM-II와 MINIMOS 4.0을 사용하여 시뮬레이션하였다. 문턱전압 조정을 위한 counter-doped 보론 이온주입에 의해 p채널 MOSFET는 표면에서 대략 0.15.mu.m의 깊이에서 매몰채널이 형성되었다. 각 소자의 측정 결과, 3.3[V] 구동을 위한 충분한 여유를 갖는 양호한 드레인 포화 특성과 0.2[V]이하의 문턱전압 shift를 갖는 최소화된 짧은 채널 효과, 10[V]이상의 높은 펀치쓰루 전압과 브레이크다운 전압, 낮은 subthreshold 값을 얻었다.

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Subthreshold characteristics of buried-channel pMOSFET device (매몰채널 pMOSFET소자의 서브쓰레쉬홀드 특성 고찰)

  • 서용진;장의구
    • Electrical & Electronic Materials
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    • v.8 no.6
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    • pp.708-714
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    • 1995
  • We have discussed the buried-channel(BC) behavior through the subthreshold characteristics of submicron PMOSFET device fabricated with twin well CMOS process. In this paper, we have guessed the initial conditions of ion implantation using process simulation, obtained the subthreshold characteristics as a function of process parameter variation such as threshold adjusting ion implant dose($D_c$), channel length(L), gate oxide thickness($T_ox$) and junction depth of source/drain($X_j$) using device simulation. The buried channel behavior with these process prarameter variation were showed apparent difference. Also, the fabricated pMOSFET device having different channel length represented good S.S value and low leakage current with increasing drain voltage.

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Electrical Characterization of Strained Silicon On Insulator with Pseudo MOSFET (Pseudo MOSFET을 이용한 Strained Silicon On Insulator의 전기적 특성분석)

  • Bae, Young-Ho;Yuk, Hyung-Sang
    • Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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    • 2007.06a
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    • pp.21-21
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    • 2007
  • Strained silicon 기술은 MOSFET 채널 내 캐리어 이동도를 향상시켜 집적회로의 성능을 향상시키는 기술이다. 최근에는 strained 실리콘 기술과 SOI(silicon On Insulator) 기술을 접목시켜 집적회로 소자의 특성을 더욱 향상시킨 SSOI(Strained Silicon On Insulator) 기술이 연구되고 있다. 본 연구에서는 pseudo MOSFET 측정법을 이용하여 strained SOI 웨이퍼의 전기적 특성 분석을 행하였다. pseudo MOSFET 측정법은 SOI 웨이퍼의 전기적 특성분석을 위해 고안된 방법으로써 산화, 도핑 등의 소자 제조 공정 없이도 SOI 표면 실리콘층의 이동도와 매몰산화막과의 계면 특성 등을 분석해 낼 수 있는 기술이다. 표면 실리콘층의 두께와 매몰산화막의 두께가 각각 60nm, 150nm인 SOI 웨이퍼와 동일한 막 두께를 가지며 표면 실리콘층이 strained silicon인 SSOI 웨이퍼를 제작하여 그 특성을 비교 분석하였다. Pseudo MOSFET 측정 결과 Strained SOI 웨이퍼에서 표면 실리콘총 내의 전자 이동도가 일반적인 SOI 웨이퍼보다 약 25% 향상되었으며 정공 이동도나 매몰산화막의 계면 트랩밀도는 큰 차이를 보이지 않았다.

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Reduction of short channel Effects in Ground Plane SOI MOSFET′s (Growld Plane SOI MOSFET의 단채널 현상 개선)

  • ;;;;Jean-Pierre Colinge
    • Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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    • v.41 no.4
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    • pp.9-14
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    • 2004
  • This paper reports the measurement and analysis of the short channel effects and the punchthrough voltage of SOI-MOSFET with a self-aligned ground plane electrode in the silicon mechanical substrate underneath the buried oxide. When the channel length is reduced below 0.2${\mu}{\textrm}{m}$ it is observed that the threshold voltage roll-off and the subthreshold swing with channel length are reduced and DIBL is improved more significantly in GP-SOI devices than FD-SOI devices. It is also observed from the dependence of threshold voltage with substrate biases that the body factor is a higher in GP-SOI devices than FD-SOI devices. From the measurement results of punchthrough voltage, GP-SOI devices show the higher punchthrough voltages than FD-SOI devices

Analytical Modeling for Dark and Photo Current Characteristics of Short Channel GaAs MESFETs (단채널 GaAs MESFET의 DC특성 및 광전류 특성의 해석적 모델에 대한 연구)

  • 김정문;서정하
    • Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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    • v.41 no.3
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    • pp.15-30
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    • 2004
  • In this paper, an analytical modeling for the dark and photo-current characteristics of a buried-gate short- channel GaAs MESFET is presented. The presented model shows that the increase of drain current under illumination is largely due to not the increase of photo-conductivity in the neutral region but the narrowing effect of the depletion layer width. The carrier density profile within the neutral region is derived from solving the carrier continuity equation one-dimensionally. In deriving the photo-generated current, we assume that the photo-current is compensated with the thermionic emission current at the gate-channel interface. Moreover, the two-dimensional Poisson's equation is solved by taking into account the drain-induced longitudinal field effect. In conclusion, the proposed model seems to provide a reasonable explanation for the dark and photo current characteristics in a unified manner.

다결정 실리콘 박막트랜지스터 1T-DRAM에 관한 연구

  • Park, Jin-Gwon;Jo, Won-Ju;Jeong, Hong-Bae;Lee, Yeong-Hui
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2011.02a
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    • pp.109-109
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    • 2011
  • 1T-1C로 구성되는 기존의 DRAM(Dynamic Random Access Memory)은 데이터를 저장하기 위한 적절한 capacitance를 확보해야 한다. 따라서 캐패시터 면적으로 인한 집적도에 한계에 직면해있다. 따라서 이를 대체하기 위한 새로운 DRAM인 1T (Transistor) DRAM이 각광받고 있다. 기존의 DRAM과 달리 SOI (Silicon On Insulator)기술을 이용한 1T-DRAM은 데이터 저장을 위한 캐패시터가 필요없다. Impact Ionization 또는 GIDL을 이용해 발생한 정공을 채널영역에 가둠으로 서 발생하는 포텐셜 변화를 이용한다. 이로서 드레인 전류가 변화하며, 이를 이용해 '0'과 '1'을 구분한다. 기존의 1T-DRAM은 단결정 실리콘을 이용하여 개발되었으나 좀더 광범위한 디바이스로의 적용을 위해서는 다결정 실리콘 박막의 형태로 제작이 필수적이다. 단결정 실리콘을 이용할 경우 3차원 집적이나 기판재료선택에 제한적이지만 다결정 실리콘을 이용할 경우, 기판결정이 자유로우며 실리콘 박막이나 매몰 산화층의 형성 및 두께 조절이 용이하다. 때문에 3차원 적층에 유리하여 다결정 실리콘 박막 형태의 1T-DRAM 제작이 요구되고 있다. 따라서 이번연구에서는 엑시머 레이저 어닐링 및 고상결정화 방법을 이용하여 결정화 시킨 다결정 실리콘을 이용하여 1T-DRAM을 제작하였으며 메모리 특성을 확인하였다. 기판은 상부실리콘 100 nm, buried oxide 200 nm로 구성된 SOI구조의 기판을 사용하였다. 엑시머 레이저 어닐링의 경우 400 mJ/cm2의 에너지를 가지는 KrF 248 nm 엑시머 레이저 이용하여 결정화시켰으며, 고상결정화 방법은 $400^{\circ}C$ 질소 분위기에서 24시간 열처리하여 결정화 시켰다. 두가지 결정화 방법을 사용하여 제작되어진 박막트랜지스터 1T-DRAM 모두 kink 현상을 확인할 수 있었으며 메모리 특성 역시 확인할 수 있었다.

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Practical Study on Methods to Revitalize Traditional Market (전통시장 활성화 방법에 관한 실제적 연구)

  • Yoon, Seongwon
    • Journal of Service Research and Studies
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    • v.14 no.2
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    • pp.69-81
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    • 2024
  • The The purpose of this study is to have a positive impact on the evaluation of the traditional market revitalization project by discussing the business details and implementation process of the commercial district revitalization project in depth. The research method uses practical methods for traditional market revitalization projects. First, the activation method of the place was examined through the concepts of Oldenburg's 'Third Place' and Carr et al.'s 'Five Demands for Public Space' and the theories related to non-face-to-face transactions were examined. The first study case was the commercial district revitalization project of the Cheongju Global Market Development Project(Seongan-gil Street Shopping Mall and Yukgeori traditional Market), which discussed revitalization of open space, revitalization through reproduction, and revitalization through festivals. The revitalization project through representation is a project to install a symbolic sculpture at the estimated location of the 'Namseokgyo' buried in Yukgeori traditional Market. The revitalization through the festival is the Korea Sale Festa, which is a vibrant business due to increased sales at traditional markets and shopping malls and floating population in open spaces. The second study case was the Cultural Tourism Promotion Project(Hanmin traditional Market), which discussed revitalization through the development of local brands and SNS content. In the conclusion, the relationship between the six projects and commercial district revitalization methods was discussed, and policy recommendations were made, mentioning the importance of reflecting regional characteristics in design planning. We hope that this study will be used to positively evaluate the traditional market revitalization project, showing that stakeholders are working hard to produce positive results within institutional limitations.