Line scan camera has been widely used in the area of inspection of glass, film, fabric, iron, PCB and etc. due to the high resolution and the high speed. We developed the line scan based vision system to inspect tangled and cut-off status of yarn in the manufacturing process. The original image is binarized with a proper threshold, and the gap distances in the yarn are measured in real time, so finally the status of the process is decided by the maximum value of the gap distance. All procedures are executed in real time by realization of multi-processed threads. By implementation of this system, the error of the yarn in manufacturing process can be precedently monitored and the loss of the yarn is decreased efficiently.
This paper represents the design of a real-time image preprocessing system. The preprocessing system performs hardware-wise mask operations and thresholding operations at the speed of camera output single rate. The preprocessing system consists of the preprocessing board and the main processing board. The preprocessing board includes preprocessing unit that includes a $5\times5$ mask processor and LUT, and can perform mask and threshold operations in real-time. To achieve high-resolution image input data($20485\timesn$), the preprocessing board has a linescan camera interface. The main processing board includes the image processor unit and main processor unit. The image processor unit is equipped with TI's TMS320C32 DSP and can perform image processing algorithms at high speed. The main processor unit controls the operation of total system. The proposed system is faster than the conventional CPU based system.
수 마이크로 단위로 계측되는 반도체 COG의 검사 정밀도를 높이기 위해서 라인스캔 카메라가 이용된다. 여러 가지 불량 요인 중 이물질 검출은 COG 패턴이 미세하고 복잡하기 때문에 불량 자동 검사 단계에서 가장 어려운 기술이었다. 본 논문에서는 매칭 속도를 높이기 위하여 2단계 영역분할 템플릿 매칭 방법을 제안하였다. 아울러 수 마이크로 단위의 이물짙 검출을 위하여 그라디언트 마스크와 AND 연산을 이용한 새로운 방법을 제안하였다. 제안된 2단계 템플릿 매칭을 사용한 방법은 기존의 상관 계수 이용법 에 비해 0.3-0.4초 매칭 속도를 향상시켰다. 그리고 제안된 마스크 적용 이물질 검출방법은 기존 마스크를 이용하지 않은 방법에 비해 불량 검출률을 $5-8\%$ 향상시켰다.
본 논문은 자동으로 볼트를 고속 정밀 검사할 수 있는 장치에 대한 시스템 설계 및 제품 개발에 관해 다룬다. 볼트를 연속적으로 고속 검사하기 위해 컨베이어를 이용하고 이를 동작시키기 위한 서보모터와 엔코더를 부착하여 정확한 이송량를 유지하게 된다. 엔코더 신호를 수신한 라인스캔 카메라의 동작에 따라 프레임 그래버로 볼트 영상을 전송하며 한 프레임을 구성한 후 영상 검사 알고리즘에 의해 파라메터를 측정하고 검사하게 된다. 제작된 결과물을 이용하여 실험을 통해 본 장치의 효용성을 입증하고자 한다.
In this paper, we designed an image processing system for the high speed line-scan camera which adopts the new memory model we proposed. As a resolution and a data rate of the line-scan camera are becoming higher, the faster image processing systems are needed. But many conventional systems are not sufficient to process the image data from the line-scan camera during a very short time. We designed the memory controller which eliminates the time for transferring image data from the line-scan camera to the main memory with high-speed SRAM and has a dual-port configuration therefore the DSP can access the main memory even though the memory controller are writing the image data. The memory controller is implemented by VHDL and Xilinx SPARTAN-IIE FPGA.
본 논문에서는 양방향 움직임 보상에 의한 필드 보간(bi-directional motion-compensated field interpolation) 방법을 사용한 효과적인 디인터레이싱(de-interlacing) 기법을 제안한다. 움직임 추정(motion estimation)을 이용한 일반적인 디인터레이싱 기법은 서로 다른 샘플링 격자(sampling grid) 관계인 연속한 두 필드(field)들간의 움직임 추정을 위해 line average 같은 비교적 간단한 형태의 디인터레이싱 기법이 선행된다. 그러나, 제안한 방법은 보간할 필드(the interpolated field)의 전후 필드들의 같은 샘플링 관계인 존재하는 스캔 라인(the existing scan line)들 사이에서만 움직임 추정이 이루어지므로 구현이 용이하다. 이때 구해진 움직임 벡터는 양방향 움직임 추정을 위한 초기 값으로 사용되어 진다. 제안한 알고리듬은 기존의 움직임 정보를 이용한 기법에 비해 구현이 용이하며, 카메라 움직임이 있는 panning, zooming 영상에 특히 효율적이다.
본 논문에서는 반도체 패키징 기술의 일종인 TCP, COF의 제품 결함을 영상 처리를 이용하여 검출하는 알고리즘을 제시하고, 신뢰성을 확보 후 실제 검사 공정에 적용하는 방법론을 제시한다. 제안된 방법으로는 TCP, COF의 양품 패턴을 기준 영상으로 취득하고, 제품의 생산 과정에서 라인 스캔 카메라를 이용한 실시간 제품 영상을 취득한 후, 그레이 레벨 영상으로 변환하고, 노이즈를 제거하기 위한 다양한 필터를 적용한다. 그리고 기준 영상과 비교하기 위한 이진화와 라벨링을 통해 제품의 불량을 검출하여, 사용자에게 시각적으로 표현해 주게 된다. 마지막으로 TCP, COF의 다양한 불량 항목 중에서 10여 가지의 불량패턴을 대상으로 제안된 방법의 타당성을 검증하였다.
A low cost lighting system for line-scan cameras has been developed with 3-phase power. When exposure time of line-scan camera is shorter than fluctuation period of illumination, the average gray value of each acquired 1-D image varies. Detecting defects on the objects's surface under such illuminating environment is very difficult. The proposed lighting system is composed of low-cost fluorescent lights based on 3-phase power. The specially designed lighting pack and the properly selected lighting position enable to get the rippleless lighting. The principle of the proposed lighting system has been explained analytically. The lighting system has been tested for fabric inspection with line-scan camera and it's efficacy has been proved.
본 논문에서는 카메라 파라미터가 필요 없는 역 투시변환 영상에 차선 변화벡터와 카디널 스플라인을 이용하여 변화에 강인한 곡선 차선 검출 방법을 제안한다. 이 방법은 역 투시변환과 차선 필터의 전처리 과정이 적용된 영상의 시작 S 프레임과 그 다음 S+1 프레임에서 차선 후보 영역을 설정하여 차선 영역을 검출하고, 검출된 차선영역을 이용하여 차선 변화벡터를 계산한 결과를 가지고 이후의 프레임에서 차선이 위치할 지점을 예측한다. 이후에 예측된 차선 위치에서부터 스캔 영역을 설정하고 이 영역 내에서 새로운 차선 위치를 검출하며, 검출된 차선 위치를 이용해 차선 변화벡터를 갱신하고, 차선 영역 내의 제어 점들에 카디널 스플라인을 적용하여 차선을 검출한다. 제안하는 방법은 차선의 형태 변화에 강인한 곡선 차선 검출방법이지만 직선 차선에도 잘 적응됨을 보였으며 한 프레임을 처리하는 데 약 20ms 정도의 양호한 차선검출 속도를 보였다.
본 논문에서는 FPGA와 Nor-Flash를 사용하여 컬러 라인 스캔 카메라를 위한 고속 신호처리 하드웨어 시스템을 구현하였다. 기존의 시스템에서는 소프트웨어를 기반으로 한 고속 DSP가 적용되어 왔고 주로 RGB 개별 논리에 의해 결함을 검출하는 방법이었지만 본 논문에서는 RGB-HSL 변환기, FIFO, HSL 풀-컬러 결함 디코더 및 이미지 프레임 버퍼로 구성된 하드웨어 기반의 결함 검출기를 제안하였다. 결함 검출기는 RGB에서 HSL로의 색상 공간 변환을 위한 하드웨어 기반 룩업테이블과 4K HSL 풀-컬러 결함 디코더로 구성되어 있다. 또한 단일 라인 데이터 기반의 로컬 픽셀 처리 대신 2차원 배열 구조의 이미지 단위 처리를 위해 라인 데이터 축적용 이미지 프레임을 포함한다. 설계된 시스템을 기존의 곡물 선별기에 적용하여 땅콩을 대상으로 선별해 본 결과 효과적임을 알 수 있었다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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