• Title/Summary/Keyword: 국부결함

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극 저 에너지 이온 주입시 국부 격자결함 축적이 불순물의 분포에 미치는 효과에 관한 연구

  • 강정원;강유석;황호정
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 1999.07a
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    • pp.42-42
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    • 1999
  • 본 연구에서는 극 저 에너지 이온 주입에 관한 연구를 위하여 새로이 제안된 PLDAM(phenomenological local damage accumulation model)을 효과적인 분자동역학 이온 주입 분포 계산 방법(highly efficient molecular dynamics (MD) schemes)에 적용하여 극 저 에너지 이온 주입에 관하여 연구하였다. PLDAM은 셀에 축적된 에너지와 이온 발생 순서(history of recoil event) 및 열 전도를 고려하여 실리콘 자기 이완과 재결합을 고려하고 있다. 효과적인 분자동역학 이온 주입방법으로는 MDRANGE code를 사용하였다. 국부적인 격자결함을 고려하지 않은 MDRANGE의 결과는 불순물 분포의 실험치와 꼬리 부분에서 많은 차이를 보여주었다. 그러나 본 연구에서 사용된 국부적인 격자결함 축적을 고려한 MDRANGE의 결과는 극 저 에너지 이온 주입 실험치와 잘 일치하였다. 또한 본 연구에서는 <100> 실리콘 기판 위의 0.1$\mu\textrm{m}$$\times$0.1$\mu\textrm{m}$ 영역에 도즈에 해당하는 이온만큼을 주입하여 불순물 분포를 계산하였다. 붕소와 비소의 경우에, 도즈와 이온주입 에너지가 증가하에 따라서 국부적으로 축적된 격자결함이 불순물의 분포에 미치는 영향이 커지는 것을 알 수 있었다. 특별히 이온 주입 에너지와 함께 무관하게 도즈 1014/cm2 이상에서는 국부적으로 축적된 격자 결함이 불순물의 분포에 크게 영향을 미치는 것으로 나타났다.

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Implementation of Paper Cutting Defect Detection System Based on Local Binary Pattern Analysis (국부 이진 패턴 분석에 기초한 지절 결함 검출 시스템 구현)

  • Kim, Jin-Soo
    • Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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    • v.17 no.9
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    • pp.2145-2152
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    • 2013
  • Paper manufacturing industries have huge facilities with automatic equipments. Especially, in order to improve the efficiency of the paper manufacturing processes, it is necessary to detect the paper cutting defect effectively and to classify the causes correctly. In this paper, we review the problems of web monitoring system and web inspection system that have been traditionally used in industries for defect detection. Then we propose a novel paper cutting defect detection method based on the local binary pattern analysis and its implementation to mitigate the practical problems in industry environment. The proposed algorithm classifies the defects into edge-type and region-type and then it is shown that the proposed system works stably on the real paper cutting defect detection system.

A Study on the Ultra-Low Energy Ion Implantation using Local Cell Damage Accumulation Model (국부 셀 격자 결함 모델을 사용한 극 저 에너지 이온 주입에 관한 연구)

  • Kwon, Oh-Keun;Kang, Jeong-Won;Hwang, Ho-Jung
    • Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics D
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    • v.36D no.7
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    • pp.9-16
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    • 1999
  • We have investigated effects of local damage accumulation for ultra-low energy As and B ion implant using highly efficient molecular dynamics(MD) scheme. We simulated ion implantation by MD simulation using recoil ion approximation (RIA) method and local cell damage accumulation (LCDA) model proposed in the paper. Local damage accumulation probability function consisted of deposited energy in a unit cell, implant dose rate, target material, projectile atom, and recoil event number. The simulated results were good agreement with the experimental and other simulated results. The MDRANGE results without damage accumulation were different from SIMS data in the tail region. We also simulated 2 dimensional dopant and damage profiles using the local damage accumulation model and recoil ion approximation method.

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Method of assessment for allowable size of weld defects (熔接缺陷의 許容限界 評價方法)

  • 강성원
    • Journal of Welding and Joining
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    • v.9 no.3
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    • pp.10-17
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    • 1991
  • 용접구조물에서 용접이음부가 차지하는 비율은 매우 작은 경우가 많지만 용접이음부에는 각종 초기결함(이들 결함으로부터 진전하는 피로 균열, 환경에 의한 균열등을 포함) 및 용접 초기의 부정형을 비롯해서 형상적 불연속 등에서 유기되는 국부적인 응력, 변형률의 집중, 잔류응력, 구속응력, 용접금속이 갖는 숙명적인 야금적 특성의 불균일, bond부 및 HAZ부에서의 용접열 싸이클에 의한 재질의 국부적 강도저하등 용접부의 강도를 저하시키는 인자들이 복합되기 쉽고, 용접구조물 전체의 내파괴 건전성평가에서 용접부가 파괴 강도는 매우 중요하다. 용접구조물의 설계, 시공의 목적은 소요성능의 확보에 있고 구조물이 사용중에 성능손실이나 불안정 파괴가 발생하지 않도록 하는 것이 주요요건이 될 것이다. 현재의 제강기술수준에서 볼 때 모재의 강 도보다 오히려 용접부의 강도 특히 피로강도 및 파괴 인성을 적절하고 합리적으로 평가하는 것이 매우 중요하다고 해도 과언이 아닐 것이다. 용접부의 강도를 평가하는데 있어서 용접부에 발 생하는 용접결함에 대한 평가는 매우 중요하며 이들 결함에 대한 허용결함한계를 평가하여 보수 여부 및 용접구조물의 신뢰성을 평가 할 필요가 있다.

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Stress History Evaluation for Truss Bridge with Local Damages by Using Global-Local Model Combination (전체해석과 국부해석 조합법을 이용한 국부결함이 있는 트러스교 응력이력해석)

  • Kim, Hyo-Jin;Park, Sang-il;Bae, Gi-Hoon;Lee, Sang-Ho
    • Journal of Korean Society of societal Security
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    • v.3 no.1
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    • pp.33-42
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    • 2010
  • This study predicts the stress history for truss bridge with local damages by using global-local model combination method. For this end, the global structure is modeled by 3D frame elements and the selected local details are modeled by shell elements. Then superposition principle enable the global-local model to be combined interactively. Because the frame model cannot consider the rigidity of gusset plate and the interation of structural members due to the complexity of stress distribution in truss connection. The section modification factors are proposed to calibrate the stiffness of global frame element. The global-local model combination is verified by comparing the numerical results with experimental data obtained from the proof loading test to the operating truss bridge. Furthermore, stress histrories of the truss bridge are generated in the consideration of the rigidity of truss connection with local damage by using the combination method.

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TFT-LCD Defect Detection Using Double-Self Quotient Image (이중 SQI를 이용한 TFT-LCD 결함 검출)

  • Park, Woon-Ik;Lee, Kyu-Bong;Kim, Se-Yoon;Park, Kil-Houm
    • Journal of KIISE:Computing Practices and Letters
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    • v.14 no.6
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    • pp.604-608
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    • 2008
  • The TFT-LCD image allows non-uniform illumination variation and that is one of main difficulties of finding defect region. The SQI (self quotient image) has the HPF (high pass filter) shape and is used to reduce low frequency-lightness component. In this paper, we proposed the TFT-LCD defect-enhancement algorithm using characteristics of the SQI, that is the SQI has low-frequency flattening effect and maintains local variation. The proposed method has superior flattening effect and defect-enhancement effect compared with previous the TFT-LCD image preprocessing.

Microstructural Observations on Quaternary ZnMgSSe/GaAs Epilayer Grown by MBE (MBE로 성장시킨 4원계 ZnMgSSe/GaAs 에피층의 미세구조 관찰)

  • Lee, Hwack-Joo;Ryu, Hyun;Park, Hae-Sung;Kim, Tae-Il
    • Applied Microscopy
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    • v.25 no.3
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    • pp.82-89
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    • 1995
  • High resolution transmission electron microscopic observations on quaternary $Zn_{1-x}Mg_{x}S_y$ $S_{1-y}$(x=0.13, y=0.16) on (001) GaAs substrate grown up to $1.2{\mu}m$ with 20nm ZnSe buffer layer at $300^{\circ}C$ by RIBER MBE system which has a single growth chamber were investigated by HRTEM working at 300kV with point resolution of 0.18nm. The ZnSe buffer layer maintains the coherency with the GaAs substrate. The stacking faults had begun at ZnSe buffer/$Zn_{1-x}Mg_{x}S_{y}S_{1-y}$ interface, whose length and spacing became larger than 60nm and wider than 40nm, respectively. The inverse triangular stacking fault was bounded by stacking faults which were formed on {111} planes with different variants. There exists rare stacking faults inside the triangular defect. The epilayer surrounded by the straight stacking faults, which had formed in the same direction, became the columnar structure.

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Nonlinear Buckling and Imperfection Sensitivity Analyses of Shell Structures (셸 구조물의 비선형좌굴 및 결함민감도 해석)

  • 원종진
    • Journal of the KSME
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    • v.33 no.7
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    • pp.614-627
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    • 1993
  • 좌굴하기 쉬운 구조물을 설계할 때는 반드시 좌굴특성에 대한 어떤 직관을 가져야 한다. 이글의 목적은 셸 구조물이 비선형붕괴(nonlinear collapse), 분기좌굴(bifurcation buckling) 또는 이들 모드의 조합에 의해서 어떻게 좌굴될 것인가에 대한 감각을 전하는데 있다. 이 불안정에 대한 직관적 이해는 보강되고 여러 요소들로 조립되며 분지셸(branched shell)을 갖거나 복잡한 벽구 조를 갖는 실제 셸 구조물 등의 많은 예에 의해서 얻어질 수 있다. 이 글에서는 수식의 개발이 아니라 불안정의 예측에 주안점을 두고 있으며, 큰 처짐과 소성의 조합에 의해 발생되는 비선 형좌굴과 결함민감도가 특히 강조된다. 또한 최적화된 구조물의 국부 및 전체 불안정, 좌굴모드의 상호작용, 그리고 결함민감도(imperfection sensitivity) 등이 예시된다.

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Development of Pre-breakdown Partial Discharge Detection Method for Explanation of the Cause of EHV XLPE Cable Joint Breakdown (절연파괴 원인규명을 위한 Pre-breakdown PD 검출기술 개발)

  • Kim, Choong-Sik;Kim, Young-Hong
    • Proceedings of the KIEE Conference
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    • 2008.10a
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    • pp.85-86
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    • 2008
  • 케이블의 원가절감을 위해 절연체의 절연두께를 줄이거나 초초고압화가 되어 갈수록 절연성능의 신뢰성 향상이 한층 요구되고 있다. 이를 위해 케이블 및 접속함의 절연체 내에 각종의 결함이 어느 정도 절연성능을 떨어뜨리는지 정량적으로 파악하여 개선할 필요가 있다. 또한 완제품 내 잔족하고 있는 이물의 종류 및 위치를 알 수 있으면 생산공정 내에서 이물 유입 경로를 파악하여 이물이 유입되는 것을 차단할 수 있다. AC내전압 파괴시험을 수행할 때 설계치 보다 저전계에서 파괴될 경우 파괴공을 조사하여 원인을 규명하고자 하지만 국부적인 결함으로 인한 파괴는 결함부를 소실시키기 때문에 파괴공 및 주위의 절연체를 현미경으로 관찰하여도 찾기가 어렵다. 따라서, 전원을 고속으로 차단하여 결함부가 완전히 소손되는 것을 막고 PD발생 위치를 추정하여 결함을 확인하는 방법이 요구 되어진다. 이러한 시험 방법을 전구차단법 이라고 하며, 고도의 PD측정기술과 판정기술이 필요한 종합적인 기술이다. 본 논문에서는 PPD 기술의 핵심인 노이즈 제거 기술과 판별기술을 서술하고 실제 접속함(PMJ)에 적용하여 PPD 기술의 유효함을 증명하였다.

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A Brazing Defect Detection Using an Ultrasonic Infrared Imaging Inspection (초음파 열 영상 검사를 이용한 브레이징 접합 결함 검출)

  • Cho, Jai-Wan;Choi, Young-Soo;Jung, Seung-Ho;Jung, Hyun-Kyu
    • Journal of the Korean Society for Nondestructive Testing
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    • v.27 no.5
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    • pp.426-431
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    • 2007
  • When a high-energy ultrasound propagates through a solid body that contains a crack or a delamination, the two faces of the defect do not ordinarily vibrate in unison, and dissipative phenomena such as friction, rubbing and clapping between the faces will convert some of the vibrational energy to heat. By combining this heating effect with infrared imaging, one can detect a subsurface defect in material in real time. In this paper a realtime detection of the brazing defect of thin Inconel plates using the UIR (ultrasonic infrared imaging) technology is described. A low frequency (23 kHz) ultrasonic transducer was used to infuse the welded Inconel plates with a short pulse of sound for 280 ms. The ultrasonic source has a maximum power of 2 kW. The surface temperature of the area under inspection is imaged by an infrared camera that is coupled to a fast frame grabber in a computer. The hot spots, which are a small area around the bound between the two faces of the Inconel plates near the defective brazing point and heated up highly, are observed. And the weak thermal signal is observed at the defect position of brazed plate also. Using the image processing technology such as background subtraction average and image enhancement using histogram equalization, the position of defective brazing regions in the thin Inconel plates can be located certainly.