• Title/Summary/Keyword: 광 측정계

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Integrated-optic sensors in glass (유리집적 광 센서)

  • 형창희;김종헌
    • Electrical & Electronic Materials
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    • v.9 no.5
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    • pp.518-525
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    • 1996
  • 본 고에서는 유리 집적광센서의 제작에 적합한 유리재료들의 종류와 특성을 설명하였으며, 이들 유리의 종류에 맞도록 개발되어진 제작기술 중에서 이온교환(Ion exchange)방법과 silica-on-silicon(SOS)방법을 소개하였다. 그리고 이러한 공정기술을 이용하여 제작되어진 유리 집적광센서 중에서 물체의 거리를 측정하기 위한 마이클슨 간섭계(michelson interferometer)와 물질의 농도를 측정하기 위한 화학센서(chemical sensor)들을 소개하였다.

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레이져 스페클간섭법에 있어서 스페클 크기와 측정한계에 관한 연구

  • 김경석;양승필;정현철;김정호;이도윤
    • Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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    • 1994.10a
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    • pp.521-528
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    • 1994
  • 레이저광의 우수한 가간섭성으로 인해서 거친표면으로 부터 확산된 광에서도 간섭현상을 볼 수가 있다, 이와 같은 레이져광의 독특한 특성으로 인해 나타나는 스페클은 광학적인 간섭계를 사용하여 광을 확산적으로 반사시키는 물체의 변형과 변위, 진동 등을 비접촉적으로 측정 할수 있게 되었다.이와같은 측정법으로써 Holography 간섭법, Speckle 간섭법, Speckle 사집법등이 있으며 비록 이러한 측정법들이 독립적으로 발전되었다 할지라도 기본적인 광학적인 배치와 함수들에 있어서는 유사한 특징을 가지고 있다. 따라서 본 연구에서는 주로 면내변형을 측정하기위한 스페클간섭법에 있어서의 스페클 사이즈와 그에 따른 측정 한계를 확인할 것이다.

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질화물 계 발광다이오드의 광추출효율 향상을 위한 나노임프린트 리소그래피 공정

  • Byeon, Gyeong-Jae;Hong, Eun-Ju;Park, Hyeong-Won;Lee, Heon
    • Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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    • 2009.05a
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    • pp.27.2-27.2
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    • 2009
  • 현재 질화물 계 발광다이오드는 액정소자의 백라이트유닛, 모바일폰, 차량용램프, 교통신호등 등 다양한 장치의 광원으로 사용되고 있으며, 그 응용분야는 앞으로도 크게 확대되는 추세에 있다. 이는 발광다이오드의 저전력, 장수명, 친환경적인 장점에 의한 것으로, 일반 조명용 광원으로 사용하기 위한 기술개발이 활발히 진행 중이다. 하지만 질화물 계 발광다이오드를 미래의 조명용 광원으로 사용하기 위해서는 광출력이 보다 향상되어야 한다. 발광다이오드의 광출력을 저하시키는 요인으로는 다양한 문제점이 있지만 특히 낮은 광추출특성으로인한 광출력저하 문제를 해결해야 한다. 본 연구에서는 질화물 계 발광다이오드의 광추출특성을 향상시키기 위해서 나노임프린트 리소그래피 공정을 도입하였다. UV 나노임프린트 리소그래피 공정을 통해서 p형 질화갈륨 및 인듐주석산화물 투명전극 층에 sub-micron 급 광결정패턴을 형성하였으며, 광루미네선스와 전기루미네선스 측정을 통하여 광결정패턴으로 인한 광출력 특성을 분석하였다.

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Measurement of POF Refractive Index Profile by using Phase-Shifting Moire Deflectometry (위상천이 모아레 간섭방법을 이용한 POF의 굴절률 분포 측정)

  • 우세윤;이현호;박승한
    • Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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    • 2003.07a
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    • pp.274-275
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    • 2003
  • 광통신 분야의 연구 중 근거리 광통신 분야에 적용하기 위한 Plastic Optical Fiber(POF)에 관한 연구와 개발이 활발히 이루어지고 있다. POF의 광전송 특성을 결정짓는 요소 중 가장 중요한 특성이 바로 굴절률 분포이다. 이에 따라 그동안 다양한 형태의 POF 굴절률 측정 방법이 연구되어 왔다. 기존 Glass Optical Fiber의 굴절률 분포 측정 방법 중 가장 일반적이고 효과적인 방법 중 하나는 coherent 빛의 간섭을 이용한 transverse interferograms을 분석하는 방법으로 Fizeau 간섭계와 같은 간섭계를 이용하여 위상변화를 측정하고 측정한 위상을 tomography적인 해석방법을 통해 굴절률 분포를 계산하는 방법이다. (중략)

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Phase-shifting Diffraction-grating Interferometer (위상천이 회절격자 간섭계)

  • 황태준;김승우
    • Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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    • 2003.07a
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    • pp.148-149
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    • 2003
  • 렌즈와 거울의 형상을 정밀하게 측정하고 평가하는 광학시험에 많은 형태의 광간섭계가 개발되고 사용되어왔다. 그 중, 회절격자를 광선분할기로 사용하는 광간섭계들을 통칭하여 회절격자 간섭계라 부른다. 회절격자 간섭계는 별개의 광학표면을 사용하지 않고 회절격자에서 회절된 파면을 직접 기준파면으로 사용할 수 있으므로, 격자의 형태, 주기를 선정하여 기준파면과 측정파면을 원하는 방향으로 재생하여 다양한 형태의 간섭계를 만들 수 있다.(중략)

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Diffraction grating interferometer of large equivalent wavelength for flatness testing of rough surfaces (거친 표면 형상측정을 위한 큰 등가파장 회절격자 간섭계)

  • 황태준;김승우
    • Korean Journal of Optics and Photonics
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    • v.15 no.1
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    • pp.56-62
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    • 2004
  • We present a diffraction grating interferometer of large equivalent wavelength specially designed for flatness testing of rough surfaces. Two transmission diffraction gratings are illuminated on the object under test by use of two measurement beams with different angles of incidence, which yields a large equivalent wavelength. This interferometer design minimizes unnecessary diffraction rays and the systematic error caused by the diffraction gratings, and provides a large working distance and easy alignment. To improve the measurement accuracy, phase shifting technique is applied and the equivalent wavelength error caused by defocus is calibrated. Test results obtained from mirror surfaces and machined rough surfaces are discussed.

Error compensation in the optical 3D phase measuring profilometry (광위상 3차원 형상 측정법에서의 오차보정)

  • 황용선;강영준;백성훈;박승규;임창환
    • Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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    • 2003.07a
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    • pp.154-155
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    • 2003
  • PMP(Phase Measuring Profilometry)측정법은 투영계와 기록계의 기하학적 구성과 광학계의 정렬적인 문제에 의해서 기본적으로 오차를 가지고 측정된다. 일반적으로 PMP 형상 측정에서 측정면과 광학계의 높이가 피 측정면에 비해서 상당히 큰 경우, CCD 카메라에서 높이 방향으로 측정영역이 작아지게됨으로써 측정위상이 기준면에서의 위치와 높이 방향에 따라서 다르게 나타나고 프로젝터가 측정면에 투영되는 간섭무의의 피치가 다르게 적용된다. (중략)

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Stable lateral-shearing interferometer for in-line inspection of aspheric pick-up lenses (생산 라인에서의 광 Pick-up용 비구면 대물 렌즈 측정을 위한 안정된 층밀리기 간섭계)

  • 조우종;김병창;김승우
    • Korean Journal of Optics and Photonics
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    • v.8 no.3
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    • pp.189-193
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    • 1997
  • Aspheric pick-up lenses are increasingly used in consumer products such as computer and multimedia, as their mass production has become possible owing to the injection molding process. However still much work needs to be done for more effective manufacture of aspheric lenses, one area of which is the in-line inspection of produced lenses. In this paper, we present a lateral-shearing interferometer that has specially been designed to have a high immunity to external vibration and atmospheric disturbance. The interferometer comprises four prisms. They are directly attached to each other using an immersion oil so that relative sliding motions between the prisms are allowed. Their relative displacement can readily generate necessary lateral-shearing and phase-shifting to determine the wavefront of the beam collimated by the lens under inspection. A special phase-measuring algorithm of arbitrary-bucket is adopted to compensate the phase-shifting error caused by the thickness reduction in the immersion oil. Zernike polynomial fitting has done for determinating quantitative aberration of aspheric pick-up lenses. The interferometer built in this work is robust to external mechanical vibration and atmospheric disturbance so that experimental results show that it has a repeatability of less than λ/100.

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A Light Source for Heterodyne Interferomtry using Beat Frequency between Two-axial Modes of a He-Ne Laser (2-종모드 레이저의 비트 주파수를 이용한 헤테로다인 간섭계용 광원 개발)

  • 김민석;김승우
    • Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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    • 2001.02a
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    • pp.92-93
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    • 2001
  • 주파수 안정화 레이저 광원은 10-6 이상의 상대 불확도가 필요한 간섭계에서 널리 쓰이고 있으며 특히 변위 측정 시스템에서는 반드시 쓰이고 있다. 상용화된 많은 변위 측정 시스템은 신호 대 잡음비가 우수하고 광학계의 정렬이 더 쉬운 헤테로다인 방식을 채택하고 있으며 이를 위해서 서로 수직 선형 편광인 다른 주파수의 광을 내보내는 광원이 필요하다. 현재 헤테로다인 변위 측정 시스템에 쓰이고 있는 광원은 이중 주파수 광원을 만드는 방식에 따라 지만 효과(Zeeman effect)를 이용한 지만 레이저(HP사)와 음향-광 변조기(Acousto-optic modulator)를 이용한 이중 주파수 레이저(Zy해사)가 있다. (중략)

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