• 한국전기전자재료학회논문지
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• 제16권3호
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• pp.190-194
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• 2003

Dielectric thin films of (P $b_{0.72}$,L $a_{0.28}$) $Ti_{0.93}$ $O_3$ (PLT(28)) have been deposited on Pt(111)/Ti/ $SiO_2$/Si(100) substrates in-situ by pulsed laser deposition using different annealing and deposition Processes. We have investigated the effect of hydrogen annealing on the ferroelectric properties of PLT thin films and found that the annealing process causes the diffusion of hydrogen into the ferroelectric film resulting in the destruction of polarization. We have tried to form the film by a two-step deposition process In order to improve electrical property. Two-step process to grow PLT films was adopted and verified to be useful to enlarge the grain size of the film and to reduce the leakage current characteristics. Structural properties and electrical properties including dielectric constant, ferroelectric characteristics, and leakage current of PLT thin films were shown to be strongly influenced by grain size. The film deposited by using two-step Process including pre-annealing treatment has a strongly(111) orientation. However, the films deposited by using single -step process with hydrogen annealing process show the smallest grain size. The film deposited by using two-step process including pre-annealing treatment shows the leakage current density of below 10$^{-7}$ A/c $m^2$ for the field of smaller than 100 kV/cm. However, the films deposited by using single-step process with hydrogen annealing process and pre-annealing process show worse leakage current density than the film deposited by using two-step process including pre-annealing treatment.tment.

• 한국진공학회지
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• 제20권2호
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• pp.127-134
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• 2011

본 연구에서는 고분해능 X선 회절법을 이용해 Ni/Ag 반사막 p형 오믹 전극의 Ag 집괴에 따른 전극의 구조 분석을 수행하였다. 대기 분위기에서 오믹 전극을 고온 열처리할 경우, 열처리 시간이 증가할수록 Ag의 집괴가 진행되어 24시간 열처리 후, 전류-전압 곡선은 쇼트키 특성을 나타내었고, 또한 460 nm 파장에서 21%의 낮은 반사도를 나타내었다. X선 회절 결과로부터 Ag의 집괴가 진행될수록, Ag 박막의 내부 변형율을 감소되는 방향으로 Ag 원자의 확산이 진행되어, Ag (111) 결정면의 면간 거리가 bulk Ag와 거의 동일하게 나타났다. 이러한 반사막 오믹 전극의 구조 분석은 고출력 고효율 수직형 LED에 적합한 열적 안정성이 우수한 오믹 전극의 개발에 매우 중요함을 알 수 있다.

• 한국재료학회지
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• 제4권7호
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• pp.750-758
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• 1994

본 연구에서는 반구형(HSG) 다결성 실리콘 박막을 제조하여 박막에 존재하는 결정립들의 특성과 각 결정립들의 형성기구를 예측하고자 하였다. LPCVD법으로 실리콘 박막을 증착하여 미세구조를 관찰, 분석한 결과 $575^{\circ}C$ 증착온도에서 HSG 다결정 실리콘 박막이 형성되었음을 관찰하였다. 이 HSG 박막은 비정질 및 결정질 상으로 구성되어 있었으며 결정립은 박막의 표면에 존재하는 upper grain들과 $SiO_{2}$와의계면에 존재하는 lower grain들로 구분되었다. Upper grain은 실리콘 원자의 표면확산에 의하여 형성되었으며, lower grain은 고상성장에 의하여 형성되었다. 성장한 결정립들의 성장방위를 분석한 결과 주로 upper grain은 <110>, lower grain은 <311>과 <111>방위를 나타내었다. 이러한 방위관계는 각 결정립들의 형성기구(formation mechanism)의 차이에 기인한다고 사료된다. 또한 HSG박막의 미세구조와 진공열처리한 시편을 관찰한 결과 HSG 박막의 형성은 실리콘 원자의 표면확산에 의해 지배됨을 알았다.

• 한국산학기술학회논문지
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• 제17권9호
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• pp.102-111
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• 2016

본 연구는 대전충청지역의 지역혁신체제의 특성 및 지역 내 기업 혁신성과 결정요인을 규명하는 것을 목적으로 한다. 분석의 대상지역인 대전충청지역은 대학, 연구소와 같은 연구기반과 대규모의 하이테크 산업단지, 이들 지원하는 혁신지원네트워크를 잘 갖추고 있다. 기존의 지역혁신체제 연구의 한계점을 보완하기 위해서, 기업의 내부적 요인인 내부역량과 외부적 요인으로서 지역혁신역량을 모두 고려하여, 이들이 기업의 혁신성과에 미치는 영향에 대해 분석한다. 기업의 연구개발역량, 마케팅역량, 기업가지향성과 지역혁신역량이 혁신성과에 영향을 미치는 지와 지역혁신역량이 내부역량들과 기업가지향성과 혁신성과의 관계를 조절하는 가를 분석하였다. 실증분석 위해 대전 충청지역 중소기업을 대상으로 설문조사를 시행하여 120개의 설문을 회수 하였으나 부실응답 56개를 제외한 64개의 설문지가 연구 데이터로 사용되었다. 요인분석과 위계적 회귀분석을 활용하여 실증 분석한 결과 기업의 연구개발역량, 마케팅역량, 기업가 지향성으로 측정한 내부역량이 기술혁신성과에 유의한 영향을 미치는 것으로 나타났다. 이는 기업의 내부역량이 혁신의 가장 중요한 요인임을 주장한 기존의 연구결과를 지지하는 것이다. 그런데 기업가지향성은 혁신적이고 진취적인 기업가 지향성만이 혁신성과에 긍정적인 영향을 미치는 것으로 나타났으며 위험감수적 기업가지향성은 혁신성과 영향을 미치지 않는 것으로 확인되었다. 지역혁신역량도 기업 혁신성과에 통계적으로 유의하게 영향을 미치는 것으로 나타났다. 또한 지역혁신역량은 위험감수적 기업가지향성과 혁신성과의 관계를 조절하는 것으로 확인되었다.

• The Korean Journal of Ceramics
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• 제6권2호
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• pp.110-115
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• 2000

$SrBi_2Ta_2O_9$ thin films were deposited at room temperature on the usual (111) oriented Pt bottom electrodes using r.f. magnetron sputtering, and then post-annealed at 650-$800^{\circ}C$ for 30min in oxygen flow. Low temperature processing which shows the preferred oriented SBT thin films was obtained by controlling the sputtering pressure and/or Sr content in target. The orientation and grain growth behavior of SBT thin films were dependent on Sr contents in films. With increasing the excess Bi content up to 50% in SBT thin films, it was possible to lower the onset temperature of grain growth. The c-axis preferred oriented SBT thin films were well-grown under the condition of low post-annealing($650^{\circ}C$) by lowering post-annealing pressure. After $10^{11}$ switching cycles, no polarization degradation was observed in both preferred oriented SBT capacitors.

• 한국해양공학회:학술대회논문집
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• 한국해양공학회 2004년도 학술대회지
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• pp.342-346
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• 2004

Recently there has been a great world-wide interest in developing and characterizing new nano-structured materials. These newly developed materials are often prepared in limited quantities and shapes unsuitable for the extensive mechanical testing. The development of depth sensing indentation methods have introduced the advantage of load and depth measurement during the indentation cycle. In the present work, ZnO thin films are prepared on the Glass, GaAs(100), Si(111), and Si(100) substrates at different temperatures by pulsed laser deposition(PLD) method. Because the potential energy in c-axis is law, the films always shaw c-axis orientation at the optimized conditions in spite of the different substrates. Thin films are investigated by X-ray diffractometer and Nano indentation equipment. From these measurements it is possible to get elastic modulus and hardness of ZnO thin films on all substrates.

• 한국표면공학회지
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• 제43권6호
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• pp.260-265
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• 2010

STD 61 steel has been widely used for tools, metallic mold and die for press working because of its favorable mechanical properties such as high toughness, and creep strength as well as excellent oxidation resistance. The STD 61 tool steel coated with TiN and ZrN by sputtering results in improvement of wear and corrosion resistance. In this study, surface characteristics of TiN and ZrN film coated STD 61 by sputtering were studied by using FE-SEM, EDS, XRD, and XRR and nanoindentation tests. From the results of surface characteristics of coated specimen, the ZrN coated surface showed finer granular than that of TiN coated surface. The coated layer structures of ZrN and TiN were grown to (111) and (200) preferred orientation. From the results of XRR test for surface roughness, density and growth rate of coating film, surface roughness and growth rate of ZrN coated film revealed lower values those of TiN coated film, whereas density of ZrN coated film showed higher values than that of TiN coated film. From the nanohardness and elastic modulus test, nanohardness value and elastic modulus of ZrN coated film became higher than those of TiN coated film.

• 한국결정성장학회지
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• 제11권3호
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• pp.111-114
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• 2001

초음파분무를 이용한 MOCVD법으로 전도성 산화물 (Ba,Sr)RuO$_3$ 박막을 Si(100) wafer위에 제조하였다. XRD 측정 결과 BSR박막은 (110) 배향성을 가지고 성장하였으며 500$^{\circ}C$ 이상의 증착온도에서 결정성장이 양호하였다. Ba과 Sr의 조성비의 차이에 따라 AFM 측정결과 Ba에 대한 Sr의 비가 증가함에 따라 grain크기가 증가하였다. 또한 비저항의 측정을 통해 Ba에 대해 Sr의 비의 증가에 따라 BSR 박막의 비저항이 415에서 261$\mu$$\Omega$${\cdot}$cm로 감소하였다.

• 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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• 한국전기전자재료학회 2004년도 추계학술대회 논문집 Vol.17
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• pp.191-194
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• 2004

Ferroelectric $Pb(Zr_{0.52}Ti_{0.48})O_3$ (PZT) 박막을 $Pt(111)/Ti/SiO_2/Si$ 기판위에 증착되었고, 수소 후열처리 후의 특성변화를 연구하였다. 동시에 10 nm의 $(Pb_{0.72}La_{0.28})Ti_{0.94}O_3$ (PLT) buffer를 사용한 PZT 박막의 수소 후열처리 효과를 관찰하였다. PZT 박막의 경우, 수소 후열처리 전과 후에 강유전 특성이 현저하게 감소한 반면, PLT buffer가 사용된 PZT 박막의 경우, 강유전 특성에 거의 변화가 없었다. 이는 PLT buffer를 사용함으로써 PZT 박막의 배향성이 향상되고, 이에 따라 forming gas에 의한 수소원자가 박막 내로의 침투가 어렵게 된다. 따라서 수소원자에 대한 PZT 박막의 열화되는 현상이 buffer를 사용하는 경우, 거의 나타나지 않게 된다.

• 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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• 한국전기전자재료학회 2004년도 추계학술대회 논문집 Vol.17
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• pp.243-246
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• 2004

Boron Phosphide films were deposited on (111) Si substrate at $650^{\circ}C$, by the reaction of $B_2H_6$ with PH, using APCVD. $N_2$ was carried out as carrier gas. The optimal gas rates were 20 ml/min for B2H6, 60 ml/min for PH3 and 1 l/min for N2. After as grown the films were insitu annealed fur 1hour in $N_2$ ambient at $550^{\circ}C$ and measured. The measurement of AFM shows that the average surface roughness is $10.108{\AA}$ for the reaction temperature at $450^{\circ}C$ and $29.626{\AA}$ fur the reaction temperature at $650^{\circ}C$. The measurement of XRD shows that the films have the orientation of(1 0 1). Also, the measurement of AES is shown that the films have $B_{13}P_2$ stoichiometry. For the Result of microwaves absorbtion properties using VNA, it obtained the permittivity of BP about 8 between $1.5{\sim}2.5GHz$. In this study, it obtained the BP thin film by deposited in atmosphere pressure And BP thin film can be after to applicate as microwave absolution material is obtained.