Abstract
In this paper, it is proposed the fault detection method of the ASIC, without the Test Requirement Document(TRD), extracting internal logic circuit and analyzed the function of the ASIC using the multipurpose development program and simulation. If there don't have the TRD, it is impossible to analyze the operation of the circuit and find out the fault detection in any chip. Therefore, we make the TRD based on the analyzed logic data of the ASIC, and diagnose of the ASIC circuit at the gate level through the signal control of I/O pins using the Dynamic Pattern signal. According to the experimental results of the proposed method, we is confirmed the good performance of the fault detection capabilities which applied to the non-memory circuit.
본 논문에서는 일반적으로 사용되고 있는 개발 및 분석용 프로그램을 이용하여 시험요구서가 개발되지 않은 ASIC을 대상으로 결함을 검출하는 방법을 제안한다. 시험요구서가 없는 경우, 회로의 동작을 파악하기 힘들어 어떤 칩에서 결함이 발생하였는지 발견하기 어렵다. 따라서 ASIC의 로직 데이터를 분석하여 결함 검출을 위한 시험요구서를 작성하고, 시험요구서에 따라 제작된 Dynamic Pattern 신호를 이용하여 게이트 레벨에서 입출력 핀 신호 제어를 통해 고장진단을 한다. 실험결과 제안된 기법을 비메모리 회로에 적용하여 우수한 결함 검출능력을 확인하였다.
