A Flipflop with Improved Noise Immunity

노이즈 면역을 향상시킨 플립플롭

  • Kim, Ah-Reum (School of Electrical Engineering and Computer Science, Seoul National University) ;
  • Kim, Sun-Kwon (School of Electrical Engineering and Computer Science, Seoul National University) ;
  • Lee, Hyun-Joong (School of Electrical Engineering and Computer Science, Seoul National University) ;
  • Kim, Su-Hwan (School of Electrical Engineering and Computer Science, Seoul National University)
  • 김아름 (서울대학교 전기컴퓨터공학부) ;
  • 김선권 (서울대학교 전기컴퓨터공학부) ;
  • 이현중 (서울대학교 전기컴퓨터공학부) ;
  • 김수환 (서울대학교 전기컴퓨터공학부)
  • Received : 2011.04.03
  • Accepted : 2011.07.27
  • Published : 2011.08.25

Abstract

As the data path of the processor widens and the depth of the pipeline deepens, the number of required registers increases. Consequently, careful attention must be paid to the design of clocked storage elements like latches and flipflops as they have a significant bearing on the overall performance of a synchronous VLSI circuit. As technology is also scaling down, noise immunity is becoming an important factor. In this paper, we present a new flipflop which has an improved noise immunity when compared to the hybrid latch flipflop and the conditional precharge flipflop. Simulation results in 65nm CMOS technology with 1.2V supply voltage are used to demonstrate the effectiveness of the proposed flipflop structure.

휴대용 전자 기기 수요가 증가하면서 저전력 회로에 대한 관심이 커지고 있다. 이와 더불어 프로세서 데이터 패스의 폭이 넓어지고, 파이프라인의 단계가 많아짐에 따라, 사용되는 플립플롭의 수가 증가하였다. 그로 인해 플립플롭의 전력 소모 및 성능이 전체 시스템에 미치는 영향이 커졌다. 또한, 반도체 공정 스케일이 점점 줄면서, 공급 전압과 문턱 전압이 감소되었고 이로 인해 노이즈가 회로에 미치는 영향이 커지고 있다. 본 논문에서는 노이즈 면역을 향상시키면서도 저전력 시스템에 사용할 수 있는 플립플롭을 제안하고자 한다. 제안한 회로는 1.2V에서 동작하는 65nm CMOS 공정으로 구현하였다.

Keywords

References

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