참고문헌
- Introduction to Component Testing A.Stevens
- 메모리 테스트 강성호;김규철;소병세;홍성제(공저)
- OP-AMP 회로 기초 강경일
- 강경일, 권인현, “활용 OP-AMP 회로” 대영사, pp. 10-23, 1991.
- 활용 OP-AMP 회로 강경일;권인현
- IC op-amp cookbook Jung,Walter G.;H.W.Sams
조명전기설비학회논문지 (Journal of the Korean Institute of Illuminating and Electrical Installation Engineers)
- 제18권1호
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- Pages.105-114
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- 2004
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- 1229-4691(pISSN)
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- 2287-5034(eISSN)
DOI QR Code
반도체 소자의 DC 특성 검사용 회로설계에 관한 연구
A study on the circuit design for DC characteristic inspection of semiconductor devices
초록
본 논문에서 반도체 소자에 대한 DC 파라미터 검사를 위한 회로를 설계하였다. DC 파라미터 검사기는 반도체 소자의 DC 특성을 검사하는 시스템 이다. 본 논문에서 설계한 회로에서는 파라미터를 검사하기 위해 전압(전류)인가 전류(전압)측정 방법을 사용하도록 회로를 설계하였다. 설계한 회로를 OR-CAD를 사용하여 실험하였으며, 설계된 회로의 실험결과를 통해 좋은 성능을 가짐을 알 수 있었다.
In this paper, we design the circuits for DC parameter test of semiconductor devices. The DC parameter tester is the system which inspects the DC parameters of semiconductor devices. In the designed circuits, voltage(current) forcing current(voltage) sensing methods are used to inspect the parameters. The designed circuits are simulated by OR-CAD. The simulation results have good performance.