Systematically extracting the test patterns of hot spots in an object-oriented software framework is a prerequisite for thoroughly testing the framework's functionality in a variety of contexts in which the framework is extended for reuse. This paper proposes a method for analyzing the design patterns and extracting the test patterns from the interaction test patterns of hot spots in an object-oriented framework. Based on the design pattern of the framework's hot spot, our method captures the object behavior allowed in that hot spot by means of statecharts, which are then used to generate the interaction test patterns and test cases. The generated test patterns and test cases can be applied repeatedly to applications which are built from extending the framework.
The Journal of Korean Institute of Communications and Information Sciences
/
v.24
no.12A
/
pp.2008-2014
/
1999
IDDQ testing is an effective testing method to detect various physical defects occurred in CMOS circuits. In this paper, we consider intra-gate shorts within circuit under test and implement IDDQ test pattern generator to find test patterns which detect considered defects. In order to generate test patterns, gate test vectors which detect all intra-gate shorts have to be found by type of gates. Random test sets of 10,000 patterns are applied to circuit under test. If an applied pattern generates a required test vector of any gate, the pattern is saved as an available test pattern. When applied patterns generate all test vectors of all gats or 10,000 patterns are applied to circuit under test, procedure of test pattern generation is terminated. Experimental results for ISCAS'85 bench mark circuits show that its efficiency is more enhanced than that obtained by previously proposed methods.
Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics B
/
v.29B
no.9
/
pp.1-7
/
1992
This paper proposes a built-in self-test tchnique for CMOS circuits. To detect a stuck-open fault in CMOS circuits, two consequent test patterns is required. The ordered pairs of test patterns for stuck-open faults are generated by feedback shift registers of extended length. A nonlinear feedback shift register is designed by the merging method and reordering algorithms of test patterns proposed in this paper. And a new multifunctional BILBO (Built-In Logic Block Observer) is designed to perform both test pattern generation and signature analysis efficiently.
Journal of Advanced Marine Engineering and Technology
/
v.22
no.5
/
pp.687-692
/
1998
Test pattern generation is one of most difficult problems encountered in automating the design of logic circuits. The goal is to obtain the highest fault coverage with the minimum number of test patterns for a given circuit and fault set. although there have been many deterministic algorithms and heuristics the problem is still highly complex and time-consuming. Therefore new approach-es are needed to augment the existing techniques. This paper considers the problem of test pattern improvement for combinational circuits as a restricted subproblem of the test pattern generation. The problem is to maximize the fault coverage with a fixed number of test patterns for a given cir-cuit and fault set. We propose a new approach by use of a genetic algorithm. In this approach the genetic algorithm evolves test patterns to improve their fault coverage. A fault simulation is used to compute the fault coverage of the test patterns Experimental results show that the genetic algorithm based approach can achieve higher fault coverages than traditional techniques for most combinational circuits. Another advantage of the approach is that the genetic algorithm needs no detailed knowledge of faulty circuits under test.
Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics A
/
v.32A
no.9
/
pp.114-120
/
1995
It is important to test the various kinds of interconnect faults between chips on a card/module. When boundary scan design techniques are adopted, the chip to chip interconnection test generation and application of test patterns is greatly simplified. Various test generation algorithms have been developed for interconnect faults. A new interconnect test generation algorithm is introduced. It reduces the number of test patterns by half over present techniques. It also guarantees the complete diagnosis of mutiple interconnect faults.
Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics C
/
v.35C
no.9
/
pp.38-48
/
1998
Generating test patterns for asynchronous sequential circuits remains to be a very difficult problem. There are few algorithms for this problem, and previous works cut feedback loops, and insert synchronous flip-flops in the feedback loops during ATPG. The conventional algorithms are similar to the algorithms for synchronous sequential circuits. This means that the conventional algorithms generate test patterns by modeling asynchronous sequential circuits as synchronous sequential circuits. So, test patterns generated by those algorithms nay not detect target faults when the test patterns are applied to the asynchronous sequential circuit under test. In this paper an algorithm is presented to generate test patterns for asynchronous sequential circuits. Test patterns generated by the algorithm can detect target faults for asynchronous sequential circuits with the minimal possibility of critical race problem and oscillation. And it is guaranteed that the test patterns generated by the algorithm will detect target faults.
The Transactions of the Korea Information Processing Society
/
v.5
no.9
/
pp.2369-2377
/
1998
Fault simulators are used to evaluate the quality of a test pattern generated. So far, most fault simulators did not handle bus conflicts properly. We analyzed . all possible bus conflicts when test patterns are applied to a circuit with bus structure and categorized bus conflicts into various types. Also. we proposed an efficient method to identify various types of bus conflicts. The fault simulator which employs the proposed method can evaluate the quality of test patterns generated and also can avoid destruction of bus drivers due to bus conflicts hy warning the use of test patterns which cause bus conflicts. The proposed method can also be incorperated into a test pattern generator so that it can generate conflict-free test patterns.
Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
/
v.43
no.8
s.350
/
pp.27-34
/
2006
During Built-In Self-Test(BIST), The set of patterns generated by a pseudo-random pattern generator may not provide sufficiently high fault coverage and many patterns were undetected fault. In order to reduce the test time, we can remove useless patterns or change from them to useful patterns. In this paper, we reseed modify the pseudo-random and use an additional bit flag to improve test length and achieve high fault coverage. the fat that a random tset set contains useless patterns, so we present a technique, including both reseeding and bit modifying to remove useless patterns or change from them to useful patterns, and when the patterns change, we choose number of different less bit, leading to very short test length. the technique we present is applicable for single-stuck-at faults. the seeds we use are deterministic so 100% faults coverage can be achieve.
Journal of The Korean Association For Science Education
/
v.14
no.2
/
pp.111-122
/
1994
This study tried to find the effect to the representation patterns of science concepts upon the momentum effect. The previous studies showed that the momentum effect is influenced by students' cognitive levels and the abstractness of test items. The representation patterns of science concepts are divided into 4 different types: quantitative and qualitative, verbal and image. The research method used in this study is time series design. The period is 50 days. The period is divided into "pre-lest", "intervention-test", "post-test". Pre-test period is 5 days and in this period class instruction does not exist. Intervention-lest period is 30 days and in this period class instruction exist. Post-test period is 15 days and in this period class instruction does not exist. The results showed longer momentum effect on the image-qualitative representation pattern than the other representation patterns. Qualitative concepts is formed better than quantitative. Momentum effects is not artifact but the essential characteristics of science study.
Transactions of the Korean Society of Automotive Engineers
/
v.9
no.1
/
pp.131-138
/
2001
The performance analysis of an electronic equipment test is very complicate due to the variety o vehicles. In this study, automatic design system for the electronic equipment test has been carried out using the standard load patterns. For the test, standard signal patterns for each item are modeled. The test items can be decided by the user by means of these patterns. Also, engineering software modules are developed and proved to be very efficient for analyzing the test results statistically. Experiments are performed for the test system in the vehicle assembly line. By analyzing the test results, it is found that bad samples can be detected without failure. Also, the engineering software modules provide an analytical tool for the automation of the test process.
본 웹사이트에 게시된 이메일 주소가 전자우편 수집 프로그램이나
그 밖의 기술적 장치를 이용하여 무단으로 수집되는 것을 거부하며,
이를 위반시 정보통신망법에 의해 형사 처벌됨을 유념하시기 바랍니다.
[게시일 2004년 10월 1일]
이용약관
제 1 장 총칙
제 1 조 (목적)
이 이용약관은 KoreaScience 홈페이지(이하 “당 사이트”)에서 제공하는 인터넷 서비스(이하 '서비스')의 가입조건 및 이용에 관한 제반 사항과 기타 필요한 사항을 구체적으로 규정함을 목적으로 합니다.
제 2 조 (용어의 정의)
① "이용자"라 함은 당 사이트에 접속하여 이 약관에 따라 당 사이트가 제공하는 서비스를 받는 회원 및 비회원을
말합니다.
② "회원"이라 함은 서비스를 이용하기 위하여 당 사이트에 개인정보를 제공하여 아이디(ID)와 비밀번호를 부여
받은 자를 말합니다.
③ "회원 아이디(ID)"라 함은 회원의 식별 및 서비스 이용을 위하여 자신이 선정한 문자 및 숫자의 조합을
말합니다.
④ "비밀번호(패스워드)"라 함은 회원이 자신의 비밀보호를 위하여 선정한 문자 및 숫자의 조합을 말합니다.
제 3 조 (이용약관의 효력 및 변경)
① 이 약관은 당 사이트에 게시하거나 기타의 방법으로 회원에게 공지함으로써 효력이 발생합니다.
② 당 사이트는 이 약관을 개정할 경우에 적용일자 및 개정사유를 명시하여 현행 약관과 함께 당 사이트의
초기화면에 그 적용일자 7일 이전부터 적용일자 전일까지 공지합니다. 다만, 회원에게 불리하게 약관내용을
변경하는 경우에는 최소한 30일 이상의 사전 유예기간을 두고 공지합니다. 이 경우 당 사이트는 개정 전
내용과 개정 후 내용을 명확하게 비교하여 이용자가 알기 쉽도록 표시합니다.
제 4 조(약관 외 준칙)
① 이 약관은 당 사이트가 제공하는 서비스에 관한 이용안내와 함께 적용됩니다.
② 이 약관에 명시되지 아니한 사항은 관계법령의 규정이 적용됩니다.
제 2 장 이용계약의 체결
제 5 조 (이용계약의 성립 등)
① 이용계약은 이용고객이 당 사이트가 정한 약관에 「동의합니다」를 선택하고, 당 사이트가 정한
온라인신청양식을 작성하여 서비스 이용을 신청한 후, 당 사이트가 이를 승낙함으로써 성립합니다.
② 제1항의 승낙은 당 사이트가 제공하는 과학기술정보검색, 맞춤정보, 서지정보 등 다른 서비스의 이용승낙을
포함합니다.
제 6 조 (회원가입)
서비스를 이용하고자 하는 고객은 당 사이트에서 정한 회원가입양식에 개인정보를 기재하여 가입을 하여야 합니다.
제 7 조 (개인정보의 보호 및 사용)
당 사이트는 관계법령이 정하는 바에 따라 회원 등록정보를 포함한 회원의 개인정보를 보호하기 위해 노력합니다. 회원 개인정보의 보호 및 사용에 대해서는 관련법령 및 당 사이트의 개인정보 보호정책이 적용됩니다.
제 8 조 (이용 신청의 승낙과 제한)
① 당 사이트는 제6조의 규정에 의한 이용신청고객에 대하여 서비스 이용을 승낙합니다.
② 당 사이트는 아래사항에 해당하는 경우에 대해서 승낙하지 아니 합니다.
- 이용계약 신청서의 내용을 허위로 기재한 경우
- 기타 규정한 제반사항을 위반하며 신청하는 경우
제 9 조 (회원 ID 부여 및 변경 등)
① 당 사이트는 이용고객에 대하여 약관에 정하는 바에 따라 자신이 선정한 회원 ID를 부여합니다.
② 회원 ID는 원칙적으로 변경이 불가하며 부득이한 사유로 인하여 변경 하고자 하는 경우에는 해당 ID를
해지하고 재가입해야 합니다.
③ 기타 회원 개인정보 관리 및 변경 등에 관한 사항은 서비스별 안내에 정하는 바에 의합니다.
제 3 장 계약 당사자의 의무
제 10 조 (KISTI의 의무)
① 당 사이트는 이용고객이 희망한 서비스 제공 개시일에 특별한 사정이 없는 한 서비스를 이용할 수 있도록
하여야 합니다.
② 당 사이트는 개인정보 보호를 위해 보안시스템을 구축하며 개인정보 보호정책을 공시하고 준수합니다.
③ 당 사이트는 회원으로부터 제기되는 의견이나 불만이 정당하다고 객관적으로 인정될 경우에는 적절한 절차를
거쳐 즉시 처리하여야 합니다. 다만, 즉시 처리가 곤란한 경우는 회원에게 그 사유와 처리일정을 통보하여야
합니다.
제 11 조 (회원의 의무)
① 이용자는 회원가입 신청 또는 회원정보 변경 시 실명으로 모든 사항을 사실에 근거하여 작성하여야 하며,
허위 또는 타인의 정보를 등록할 경우 일체의 권리를 주장할 수 없습니다.
② 당 사이트가 관계법령 및 개인정보 보호정책에 의거하여 그 책임을 지는 경우를 제외하고 회원에게 부여된
ID의 비밀번호 관리소홀, 부정사용에 의하여 발생하는 모든 결과에 대한 책임은 회원에게 있습니다.
③ 회원은 당 사이트 및 제 3자의 지적 재산권을 침해해서는 안 됩니다.
제 4 장 서비스의 이용
제 12 조 (서비스 이용 시간)
① 서비스 이용은 당 사이트의 업무상 또는 기술상 특별한 지장이 없는 한 연중무휴, 1일 24시간 운영을
원칙으로 합니다. 단, 당 사이트는 시스템 정기점검, 증설 및 교체를 위해 당 사이트가 정한 날이나 시간에
서비스를 일시 중단할 수 있으며, 예정되어 있는 작업으로 인한 서비스 일시중단은 당 사이트 홈페이지를
통해 사전에 공지합니다.
② 당 사이트는 서비스를 특정범위로 분할하여 각 범위별로 이용가능시간을 별도로 지정할 수 있습니다. 다만
이 경우 그 내용을 공지합니다.
제 13 조 (홈페이지 저작권)
① NDSL에서 제공하는 모든 저작물의 저작권은 원저작자에게 있으며, KISTI는 복제/배포/전송권을 확보하고
있습니다.
② NDSL에서 제공하는 콘텐츠를 상업적 및 기타 영리목적으로 복제/배포/전송할 경우 사전에 KISTI의 허락을
받아야 합니다.
③ NDSL에서 제공하는 콘텐츠를 보도, 비평, 교육, 연구 등을 위하여 정당한 범위 안에서 공정한 관행에
합치되게 인용할 수 있습니다.
④ NDSL에서 제공하는 콘텐츠를 무단 복제, 전송, 배포 기타 저작권법에 위반되는 방법으로 이용할 경우
저작권법 제136조에 따라 5년 이하의 징역 또는 5천만 원 이하의 벌금에 처해질 수 있습니다.
제 14 조 (유료서비스)
① 당 사이트 및 협력기관이 정한 유료서비스(원문복사 등)는 별도로 정해진 바에 따르며, 변경사항은 시행 전에
당 사이트 홈페이지를 통하여 회원에게 공지합니다.
② 유료서비스를 이용하려는 회원은 정해진 요금체계에 따라 요금을 납부해야 합니다.
제 5 장 계약 해지 및 이용 제한
제 15 조 (계약 해지)
회원이 이용계약을 해지하고자 하는 때에는 [가입해지] 메뉴를 이용해 직접 해지해야 합니다.
제 16 조 (서비스 이용제한)
① 당 사이트는 회원이 서비스 이용내용에 있어서 본 약관 제 11조 내용을 위반하거나, 다음 각 호에 해당하는
경우 서비스 이용을 제한할 수 있습니다.
- 2년 이상 서비스를 이용한 적이 없는 경우
- 기타 정상적인 서비스 운영에 방해가 될 경우
② 상기 이용제한 규정에 따라 서비스를 이용하는 회원에게 서비스 이용에 대하여 별도 공지 없이 서비스 이용의
일시정지, 이용계약 해지 할 수 있습니다.
제 17 조 (전자우편주소 수집 금지)
회원은 전자우편주소 추출기 등을 이용하여 전자우편주소를 수집 또는 제3자에게 제공할 수 없습니다.
제 6 장 손해배상 및 기타사항
제 18 조 (손해배상)
당 사이트는 무료로 제공되는 서비스와 관련하여 회원에게 어떠한 손해가 발생하더라도 당 사이트가 고의 또는 과실로 인한 손해발생을 제외하고는 이에 대하여 책임을 부담하지 아니합니다.
제 19 조 (관할 법원)
서비스 이용으로 발생한 분쟁에 대해 소송이 제기되는 경우 민사 소송법상의 관할 법원에 제기합니다.
[부 칙]
1. (시행일) 이 약관은 2016년 9월 5일부터 적용되며, 종전 약관은 본 약관으로 대체되며, 개정된 약관의 적용일 이전 가입자도 개정된 약관의 적용을 받습니다.