Issues in CMP Technology and Future Challenges for Sub-100nm Devices (100nm 이하 Device에서의 CMP 기술의 문제점 및 향후 도전과제)
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- Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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- 한국전기전자재료학회 2004년도 하계학술대회 논문집 Vol.5 No.1
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- pp.224-226
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- 2004