• 한국컴퓨터정보학회논문지
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• 제25권9호
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• pp.193-201
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• 2020

본 연구에서는 Test-and-Set 알고리즘을 수행하는 시뮬레이션 앱을 개발하였다. Test-and-Set 알고리즘은 고난이도 알고리즘이라 이를 이해하기 어려워하는 학습자들을 위하여 이 시뮬레이션 앱을 만들었다. 본 시뮬레이션 앱을 이용하여 Test-and-Set 알고리즘의 이해를 원하는 학습자들이 모여 팀을 이루고 논의하며 실습을 할 수 있도록 하였으며, 이런 여러 팀들이 동시에 실습할 수 있도록 만들었다. 구성한 시뮬레이션 앱에서 기계어 명령어라고 가정한 Test-and-Set 명령어를 큐를 이용하여 인터럽트 받지 않게 구성하였으며, 임계영역 문제에서 해결해야 하는 '상호배제', '진행', '제한된 대기'의 3조건이 모두 잘 수행됨을 볼 수 있었다.

• 정보관리학회지
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• 제11권1호
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• pp.81-102
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• 1994

다양한 정보를 신속, 정확하게 제공할 수 있는 정보검색시스템은 선진국에서 일찍이 개발되어 현재 우리나라에서도 한국어 데이타베이스를 검색할 수 있는 정보검색시스템이 실험적으로 또는 상업적으로 개발되고 있다. 이에 따라 개발된 시스템의 실행 가능성 테스트 (feasibility test)가 계속 부수적으로 수행되어 왔으나 평가 테스트들의 객관성 부족으로 인하여 개발된 정보검색시스템의 성능 또한 논쟁이 되어왔다. 이에 본 연구는 한국어 정보검색시스템과 자동색인기의 객관적인 성능평가를 위하여 실험 데이타 컬렉션을 개발하였다. 실험데이타 컬렉션은 정보과학회논문지, 한국정보과학회 1993 proceedings, 정보관리학회지에 수록된 1,053개의 논문으로 구성되었다. 입력된 모든 데이타는 국문 및 영문 저자, 서명, 서지사항, 초록, 분류번호, 색인어 등 18개의 access point를 지니며, 한국어 문헌 set 구축이외에 test set과 관련된 질의문을 작성하였고 질의문에 해당하는 적합문헌을 제시해 주었다.

• 대한전자공학회논문지
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• 제17권4호
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• pp.31-37
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• 1980

본 논문은 조합논리회로의 고장검출에 관한 것이다. 회로내의 각 line의 test set사이의 관계를 고찰하므로서 모든 test set을 D-algorithm을 반복하여 적용하지 않고 어느 하나의 test set 만을 구하여 이를 전파시켜서 구할 수 있는 방법을 연구하였고, 두번째로는 모든 선마다의 test set을 구하여 이를 회로에 모두 인가하여 고장을 검출하는 종래의 방법을 벗어나서 입력수만큼의 test set을 인가하여 출력의 상고를 점검하여 고장을 검출하는 방법을 제시되었다.

• International Journal of Computer Science & Network Security
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• 제21권12spc호
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• pp.549-555
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• 2021

Machine Learning(ML) splits data into 3 parts, which are usually 60% for training, 20% for validation, and 20% for testing. It just splits quantitatively instead of selecting each set of data by a criterion, which is very important concept for the adequacy of test data. ML measures a model's accuracy by applying a set of validation data, and revises the model until the validation accuracy reaches on a certain level. After the validation process, the complete model is tested with the set of test data, which are not seen by the model yet. If the set of test data covers the model's attributes well, the test accuracy will be close to the validation accuracy of the model. To make sure that ML's set of test data works adequately, we design an experiment and see if the test accuracy of model is always close to its validation adequacy as expected. The experiment builds 100 different SVM models for each of six data sets published in UCI ML repository. From the test accuracy and its validation accuracy of 600 cases, we find some unexpected cases, where the test accuracy is very different from its validation accuracy. Consequently, it is not always true that ML's set of test data is adequate to assure a model's quality.

• Communications for Statistical Applications and Methods
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• 제10권2호
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• pp.535-543
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• 2003

A ranked set sample version of the sign test is proposed for testing hypotheses concerning the quantiles of a population characteristic by Kaur, et. al(2002). In this paper, we proposed the ranked set sample Wilcoxon signed rank test for quantiles under equal allocation. We obtain the asymptotic property and the asymptotic relative efficiencies of the proposed test statistic with respect to Wilcoxon signed rank test of simple random sample for quantiles under equal allocation. We calculate the ARE of test statistics, the proposed test statistic is more efficient than simple random sampling for all quantiles. The relative advantage of ranked set sampling is greatest at the median and tapers off in the tails.

• Communications for Statistical Applications and Methods
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• 제15권6호
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• pp.947-957
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• 2008

In this paper, we consider the c-sample location problem for ordered alternatives using median ranked ordering-set samples(MROSS). We propose the test statistic using the median of samples that have the same ranked order in each cycle of ranted ordering-set sample(ROSS). We obtain the asymptotic property of the proposed test statistic and Pitman efficiency with respect to other test statistic. In simulation study, our proposed test statistic has good powers for some underlying distributions we consider.

• 한국지능시스템학회:학술대회논문집
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• 한국퍼지및지능시스템학회 2002년도 추계학술대회 및 정기총회
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• pp.41-45
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• 2002

From the paper which it sees a strong random number generator it uses a fuzzy set from 16 method of the statistical test which is a cryptograph random number test it verifies. 16 statistical test of NIST extends in crptograph and engineering whole it is a scale which is important distinguishes the distinction incapable characterstic of the random numbers which are used. To try introduce a fuzzy set the possibility of having a more strong randomness in order to be, it strengthens the function of the random number generator.

• 한국컴퓨터정보학회논문지
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• 제26권9호
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• pp.37-47
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• 2021

본 논문에서는 U-네트에서 수용 영역을 다양화하여 기존의 모델보다 정확도가 개선된 새로운 혀 영역 분할을 위한 딥러닝 모델을 제안한다. 수용 영역 다양화를 위하여 병렬 컨볼루션, 팽창된 컨볼루션, 상수 채널 증가 등의 방법을 사용하였다. 제안된 딥러닝 모델에 대하여, 학습 영상과 테스트 영상이 유사한 TestSet1과 그렇지 않은 TestSet2의 두 가지 테스트 데이터에 대해 혀 영역검출 실험을 진행하였다. 수용 영역이 다양화됨에 따라 혀 영역 분할 성능이 향상되는 것을 실험결과에서 확인할 수 있었다. 제안한 방법의 mIoU 값은 TestSet1의 경우 98.14%, TestSet2의 경우 91.90%로 U-net, DeepTongue, TongueNet 등 기존 모델의 결과보다 높았다.

• 대한원격탐사학회:학술대회논문집
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• 대한원격탐사학회 2006년도 Proceedings of ISRS 2006 PORSEC Volume I
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• pp.208-211
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• 2006

The contents of RF test set which can be used for checking the function and performance of 13m antenna installed in KARI site are described in this paper. For the purpose of considering RF test set as the transceiver in COMS, it is designed to retransmit the LRIT and HRIT in L-Band after receiving them in S-Band from 13m antenna. Additionally, this set has a function to turnaround raging tone used for the measurement of distance between satellite and 13m antenna. The required all equipments of RF test set are summarized with configuration. Measurements of several equipments which have already been delivered are described in this paper. The assembled RF test set will be used for the verification of 13m antenna

• 전자공학회논문지A
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• 제30A권2호
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• pp.63-75
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• 1993

As the CMOS technology becomes the most dominant circuit realization method, the cost problem for the test which includes both the transistor-level FET stuck-on and stuck-off faults and the gatelevel stuck-at faults becomes more and more serious. In accordance, this paper proposes a test set and its generation algorithm, which handles both the transistor-level faults and the gate-level faults, thus can unify the test steps during the IC design and fabrication procedure. This algorithm uses only the logic equation of the given logic function as the input resource without referring the transistor of gate circuit. Also, the resultant test set from this algorithm can improve in both the complexity of the generation algorithm and the time to apply the test as well as unify the test steps in comparing the existing methods.