Journal of the Korean Society for Precision Engineering
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v.17
no.6
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pp.17-24
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2000
1960년 Jawan 등이 1.15㎛ 파장을 포함한 6개의 발진파장을 갖는 He-Ne 레이저의 연속 발진을 성공시킨 이후 레이저는 단색성이나 빛의 진직성을 이용하는 계측에서 특히 정밀길이측정에서 매우 중요하게 사용되고 있다. He-Ne 레이저의 발진선폭은 80㎑로써 길이표준기로 사용되었던 Kr-86 스펙트럼선의 선폭(400㎒)의 5,000 분의 1에 해당되는 매우 좁은 선폭을 갖고 있다.(중략)
International Journal of Precision Engineering and Manufacturing
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v.5
no.3
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pp.19-25
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2004
Pitch measurements of 150 nm one-dimensional grating standards were carried out using a contact mode atomic force microscopy with a high resolution three-axis laser interferometer. This measurement technique was named as the 'nano-metrological AFM'. In the nano-metrological AFM, three laser interferometers were aligned precisely to the end of an AFM tip. Laser sources of the three-axis laser interferometer in the nano-metrological AFM were calibrated with an I$_2$ stabilized He-Ne laser at a wavelength of 633 nm. Therefore, the Abbe error was minimized and the result of the pitch measurement using the nano-metrological AFM could be used to directly measure the length standard. The uncertainty in the pitch measurement was estimated in accordance with the Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement (GUM). The primary source of uncertainty in the pitch-measurements was derived from the repeatability of the pitch-measurements, and its value was about 0.186 nm. The average pitch value was 146.65 nm and the combined standard uncertainty was less than 0.262 nm. It is suggested that the metrological AFM is a useful tool for the nano-metrological standard calibration.
Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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1996.11a
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pp.479-484
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1996
This paper describes a method of measuring tilt motion. This method measures the tilt motion of drilling machines using a laser interferometer, a simple sliding linear bearing, measurement of the probe and the LSC(least square center) method. The next order of business is discussing the procedure of measurement. First, The measured position is considered to be the point of contact between the drill shank and the probe. The revolution of the drill axis delivers the point of contact to the probe. Second, because the laser interferometer is attached on the sliding linear bearing, any movement of probe influences laser reflector. Thus, the laser program displays the moving factor of laser reflector. Namely, this is tilt factor. Third. the points of measurement are a full circle which has 8 points (each are 45$^{\circ}$), After it is finished measuring the 8 points, let the spindle of the drilling machine move down about 5 cm. Repeating this procedure three times, we can get tilt motion's values which are calculated by LSC method. Many error factors affect the accurate measurement of tilt motion. However in this paper we ignore some error factors because they are less significant than tilt motion.
Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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2002.10a
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pp.1007-1010
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2002
The accuracy of high speed feeding type laser cutting M/C is the major factor directly concerned with the accuracy of the processed work, and the feed errors of feed system make the machining errors of work directly on processing. In this point, this study focused on the generative elements in feed errors of laser cutting M/C when operating its laser head. In order to improve the accuracy of this machining center, feed errors are measured by a laser interferometer.
The Transactions of The Korean Institute of Electrical Engineers
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v.57
no.6
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pp.1042-1047
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2008
As an ultra-precision measurement system the heterodyne laser interferometer plays an important role in semiconductor industry. However the errors of environment and nonlinearity which are caused by air refraction and frequency-mixing separately reduce the accuracy of displacement measurement. In this paper we propose a DFNN(data fusion and neural network) method for error compensation. As a hybrid method of data fusion and neural network, DFNN method reduces the environmental and nonlinear error simultaneously. The effectiveness of the proposed error compensation method is proved through experimental results.
Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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2001.04a
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pp.114-118
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2001
HP Laser Interferometer Measurement System[HP5529A] is one of the most powerful equipment for measurement of the motion accuracy. The straightness measurement system of the HP5529A is composed of wollastone prism and reflector. In this system, straightness error is measured by relative lateral motion between prism and reflector. But rotating motion of prism or reflector as moving optic causes not real straightness error but additive straightness error. Especially unwanted straightness error as this becomes very large when reflector is used as moving optic and an interval between reflector and prism is distant. In this paper, the compensation method is proposed for removing additive error and experiment is carried out for theoretical verification.
Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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2003.06a
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pp.911-914
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2003
The non-contact laser measurement system what can be used for the vibration analysis of structures is discussed. There are few systems using laser speckle interferometer for vibration analysis. One of these systems is the Electronic Speckle Pattern Interferometer (ESPI). With ESPI system, one can obtain the vibration mode shape qualitatively and the maximum vibration amplitude quantitatively of the structure at each resonance frequency. In this paper, the phase-shifting ESPI system with stroboscopic illumination for measuring vibration mode shapes is constructed and the operating software is programmed. The results are compared with that of commercial ESPI system.
The heterodyne laser interferometer has a nano-meter scale resolution. However, the unwanted nonlinearity error caused from frequency-mixing limits the ultra-precise resolution. In this paper, we propose a recursive WLS algorithm to improve the resolution of heterodyne laser interferometer. Some experimental results show an effectiveness of the recursive WLS algorithm in nano-meter scale resolution.
Journal of the Korean Society for Nondestructive Testing
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v.33
no.2
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pp.160-164
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2013
A laser ultrasonic inspection system is a non-contact inspection device which generates and measures ultrasonics by using laser beam. A laser ultrasonic inspection system provides a high measurement resolution because the ultrasonic signal generated by a pulse laser beam has a wide-band spectrum and the ultrasonic signal is measured from a small focused spot of a measuring laser beam. In this study, galvanic corrosion phenomenon was measured by non-destructive and non-contact method using the laser. The case of mixed foreign material on the part of corrosion was assumed and laser ultrasonic experiment was conducted. Ultrasonic was generated by pulse laser from the back side of the specimen and ultrasonic signal was acquired from the same location of the front side using continuous wave laser and Confocal Fabry-Perot Interferometer(CFPI). The characteristic of the ultrasonic signal of exist foreign material part was analyzed and the location and size of foreign material was measured.
Journal of the Korean Society for Precision Engineering
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v.16
no.10
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pp.203-208
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1999
By tilting the reference mirror of Twynman-Green interferometer having a reference mirror and a moving mirror, firinge pattern composed of bright and dark parallel lines can be obtained and the fringe pattern is shifted according to the displacement of the mowing mirror. Several studies are executed for displacement measurement by detecting the intensity of the fringe with photo-diodes having small detecting area. In this study, to improve the sensitivity and robustness, the intensity of fringe is detected by using a large-area quadratic photo-diode masked with a grating panel having four kinds of binary grating having phase-difference of 0, {\pi}$/4, {\pi}$/2, 3 {\pi}$/4. The phase of the fringe is calculated with a simple 4-buckets algorithm. A experimental result shows that standard deviation of 5.653 nm is obtained comparing with a capacitive type gap sensor having nearly 1 nm accuracy.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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