나노 결정질 $ZrO_2$ 박막을 제조하여 박막의 표면에서 인산칼슘을 유도하는 능력을 편가하기 위하여, 지르코늄 나프테네이트를 출발물질로 사용하고 화학적 용액법을 이용하여, $ZrO_2/Si$ 구조를 제작하였다. 코팅용액을 (100)Si 기판 위에 스핀코팅한 후, 500$^{\circ}C$에서 10분간 전열처리와 800$^{\circ}C$에서 30분간 최종열처리를 행하였고, 모든 열처리는 공기분위기에서 실시하였다. X-ray diffraction analysis를 이용하여 열처리된 박막의 결정화도를 조사하였고, 표면의 미세구조와 표면 거칠기를 field emission-scanning electron microscope와 atomic force microscope를 이용하여 관찰하였다. 열처리 후의 박막은 표면에 미세한 $ZrO_2$ 나노 결정이 생성되어 있었으며, 박막의 계면은 매우 균질 하였다. 유사생채용액에 1일 및 5일간 침적된 샘플의 표면위에 형성된 인산칼슘을 energy dispersive X-ray spectrometer를 이용하여 관찰하였고, fourier transform infrared spectroscopy를 이용하여 인산칼슘에 카본이 치환되어 있음을 확인하였다.
차세대 LSI용 유전체 박막으로서의 응용을 목적으로 RF 마그네트론 스퍼터링법으로 Si기판위에 SrTiO$_3$박막을 제조하였다. Ar과 $O_2$혼합가스 비, 바이어스 전압변화, 열처리 온도등의 증착조건을 다양하게 변화시키며 SrTiO$_3$박막을 제조하여 최적의 증착조건을 조사하였다. 박막의 결정성을 XRD로, 박막과 Si 사이의 계면의 조성분포를 AES로 각각 분석하였다. Ar과 $O_2$의 혼합가스를 스퍼터링 가스로 사용함으로써 결정성이 좋은 박막을 얻었다. 그리고 보다 치밀한 박막을 얻고자 바이어스 전압을 걸어주며 증착시켰다. 본 실험결과에서는 스퍼터링 가스는 Ar+20% $O_2$혼합가스, 바이어스 전압은 100V에서 좋은 결정성을 얻었다. 또한 하부전극으로 Pt, 완충층으로 Ti를 사용함으로써 SrTiO$_3$막과 Si 기판과의 계면에서 SiO$_2$층의 형성을 억제할 수 있었으며, Si의 확산을 막을 수 있었다. 전류 및 유전특성을 측정하기 위해 Au/SrTiO$_3$/Pt/Ti/SiO$_2$/Si로 구성된 다층구조의 시편을 제작하였다. Pt/Ti층은 RF 스퍼터링으로, Au 전극은 DC 마그네트론 스퍼터링법으로 증착시켰다 $600^{\circ}C$로 열처리함에 의해 미세하던 결정림들이 균일하게 성장하였으며, 이에 따라 유전율이 증가하고 누설전류가 감소하였다. $600^{\circ}C$에서 열처리한 두께 300nm의 막에서 유전율은 6.4fF/$\mu\textrm{m}$$^2$이고, 비유전상수는 217이었으며, 누설전류밀도는 2.0$\times$$10^{-8}$ A/$\textrm{cm}^2$로 양질의 SrTiO$_3$박막을 제조하였다.
Many researchers have been studied as active and transparent electrode using ZnO (Zinc oxide) inorganic semiconductor material due to their good properties such as wide band-gap and high electrical properties compared with amorphous-Si. In this study, we fabricated ZnO films by the RF magnetron sputtering method at a low temperature for a channel layer in thin-film transistor (TFT) and investigated the characteristics of sputtered ZnO films. Also, the electrical properties of TFT using ZnO channel layer such as field effect mobility(${\mu}$), threshold voltage ($V_{th}$), and $I_{on/off}$ ratio are investigated for the application of the display and electronic devices.
We showed that the change of Ar to $N_2$flow during the TiN deposition by the reactive sputtering decides the crystallinity of LPCVD W, as well as the electrical properties of the W-TiN/SiO$_2$Si capacitor. In particular, the threshold voltage can be controlled by the Ar to $N_2$ratio. As compared to the results obtained from the LPCVD W/SiO$_2$/Si MOS capacitor, the insertion of approximately 50 nm TiN film effectively prohibits the fluorine diffusion during the deposition and annealing of W films, resulting in negligible leakage currents at the low electric fields.
$TiO_2$ thin films were deposited on si wafer and glass substrates by rf magnetron sputtering. The films were coated under argon atmosphere at different working pressures: 3mTorr, 5mTorr, 7mTorr, 10mTorr. The films were annealed at $550^{\circ}C$ for 5h after deposition. Film structures were analyzed with XRD, As the increase of working pressure, $TiO_2$ films have been good crystallinity. At 3mTorr and 5mTorr, the films were observed in rutile phase and anatase phase.
Thin film of the (Pb$\_$1-x/La.sub x/)(Zr$\_$0.25/Ti/Sub 0.48/) O$_3$(x=0~13[at%]) were prepared by Sol - Gel method. Multi-layer PLZT thin films were fabricated by spin-coating on Pt/Ti/SiO$_2$/Si substrate. The crystallinity and microstructure of the films were investigated with the sintering condition. At the sintering temperature of of 600[$^{\circ}C$], the perovskite phase was dominat. PLZT(11/52/48)thin films sintered at 600[$^{\circ}C$], 1[hr] had good dielectric constant (1236), dielectric loss (2.2[%]), remanent polarization (1.38[${\mu}$C/$\textrm{cm}^2$] and coercive field(16.86[ kV/cm]) respectively.
Bismuth titanate thin films were prepared on {{{{ { SrTiO}_{3 } }}(100) and Si(100) substrates by dipping-pyrolysis pro-cess using metal naphthenates as starting materials. crystallinity and in-phase alignment of the films were analyzed by X-ray diffraction $\theta$-2$\theta$ scans and $\beta$ scans (pole-figures) respectively. Highly c-axis-oriented {{{{ { { {Bi }_{4 }Ti }_{3 }O }_{12 } }} thin films with smooth surfaces were obtained after heat treatment at 75$0^{\circ}C$ on {{{{ { SrTiO}_{3 } }}(100) sub-strate while the films grown of Si(100) exhibited polycrstalline characteristics. C-axis oriented film show-ed an epitaxial relationship with the {{{{ { SrTiO}_{3 } }} substrate.
In this study, an electro-catalyst of Pt nanoparticles supported by polypyrrole-functionalized graphene (Pt/PPy-reduced graphene oxide [RGO]) is reported. The Pt nanoparticles are deposited on the PPy-RGO composite by chemical reduction of H2PtCl6 using NaBH4. The presence of graphene (RGO) caused higher activity. This might have been due to increased electro-chemically accessible surface areas, increased electronic conductivity, and easier charge-transfer at polymer-electrolyte interfaces, allowing higher dispersion and utilization of the deposited Pt nano-particles. Microstructure, morphology and crystallinity of the synthesized materials were investigated using X-ray diffraction and transmission electron microscopy. The results showed successful deposition of Pt nano-particles, with crystallite size of about 2.7 nm, on the PPy-RGO support film. Catalytic activity for methanol electro-oxidation in fuel cells was investigated using cyclic voltammetry. The fundamental electrochemical test results indicated that the electro-catalytic activity, for methanol oxidation, of the Pt/PPy-RGO combination was much better than for commercial catalyst.
ZnO thin films were prepared by rf-magnetron sputter at various conditions. Crystallinity, microstructure, chemical composition, and optical composition, and optical properties of the films were investigated as functions of substrate temperature (R. T.-50$0^{\circ}C$) an sputter gas (O2/Ar=0-50%). ZnO thin films grown at 50$0^{\circ}C$ with sputter gas of pure argon as well as at R. T. with sputter gas of a mixture of argon & oxygen(O2/Ar=2%) exhibit a strong tendency of (002) preferred orientation, compared with a considerable random orientation at the other conditions. The thin films with (002) preferred orientation has a chemical stoichiometry of Zn/O-1.01, a band gap of 3.3eV, and a packing density of 98% respectively.
Pb(Zr, Ti)O3 (PZT) (Zr:Ti= 52: 48) thin films were prepared on MgO(100) substrates by dipping-py-rolysis process using metal naphthenates as starting materials. Thin films were fabricated by spin coating technique and the precursor films were prefired at 20$0^{\circ}C$ in air for 0.5, 1, 2, 3, and 24 h followed by final heat treatment at 75$0^{\circ}C$ for 30min. Film prefired for 24 h lost orientational properties and pole figure analysis showed the lost of the epitaxial relationship between the films and substrate while highly a/c-axis oriented thin films were obtained for the samples prefired for 1, 2, and 3h.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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