A comprehensive real-time spectral phase interferometry for direct electric field reconstruction (SPIDER) apparatus for characterizing femtosecond laser pulses is demonstrated. The SPIDER provides the temporal profiles of femtosecond laser pulses, reconstructed at the speed of 3.5 Hz, with parameters of the spectral phase such as group delay dispersion and third-order dispersion. The apparatus is applied successfully to optimize the spectral dispersion of a kHz femtosecond Ti:Sapphire laser by adjusting a grating compressor in real time.
Using tightly focused femtosecond laser pulses, we produce an optical waveguide and optical devices in transparent materials. This technique has the potential to generate not only channel waveguides, but also three-dimensional optical devices. In this paper, an optical splitter and U-grooves, which are used for fiber alignment, are simultaneously fabricated in a fused silica glass using near-IR femtosecond laser pulses. The fiber aligned optical splitter has a low insertion loss, less than 4㏈, including an intrinsic splitting loss of 3㏈ and excess loss due to the passive alignment of a single-mode fiber. Finally, we demonstrate the utility of the femtosecond laser writing technique by fabricating gratings at the surface and inside the silica glass.
Using tightly focused femtosecond laser pulses, we produce an optical waveguide and devices in transparent materials. This technique has the potential to generate not only channel waveguides, but also three-dimensional optical devices. In this paper, an optical splitter and U-grooves, which are used for fiber alignment, are simultaneously fabricated in a fused silica glass using near-IR femtosecond laser pulses. The fiber- aligned optical splitter has a low insertion loss, less than 4 dB, including an intrinsic splitting loss of 3 dB and excess loss due to the passive alignment of a single-mode fiber. Finally, we present an output field pattern, demonstrating that the splitting ratio of the optical splitter becomes approximately 1:1.
Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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2005.10a
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pp.188-191
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2005
A common feature in various methods of optical interferometry for absolute distance measurements is the use of multiple monochromatic light components either in sequence or in parallel at the same time. Two or multiple wavelength synthesis has been studied though its performance is vulnerable to the frequency instability of the light source. Recently continuous frequency modulation is considered a promising method with availability of wide band tunable diode lasers, which also have frequency instability errors. We can lock frequencies of these third-party light sources to the modes of the femtosecond laser which is stabilized to the precision of the standard radio frequency. To this end, we have stabilized all the modes of the femtosecond laser to the atomic frequency standard by using powerful tools of frequency-domain laser stabilization.
Transactions of the Korean Society of Mechanical Engineers A
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v.28
no.9
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pp.1270-1275
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2004
Standard positive photoresist techniques were adapted to generate nano-scale patterns of gold substrate using self-assembled monolayers (SAMs) and femtosecond laser. SAMs formed by the adsorption of alkanethiols onto gold substrate are employed as very thin photoresists, Alkanethiolates formed by the adsorption of alkanethiols are oxidized on exposure to UV light in the presence of air to alkylsulfonates. Specifically, it is known that deep UV light of wavelength less than 200nm is necessary for oxidation to occur. In this study, ultrafast laser of wavelength 800nm and pulse width 200fs is applied for photolithography. Results show that ultrafast laser of visible range wavelength can replace deep UV laser source for photo patterning using thin organic films. Femtosecond laser coupled near-field scanning optical microscopy facilitates not only the patterning of surface chemical structure, but also the creation of three-dimensional nano-scale structures by combination with suitable etching methods.
Indium tin oxide (ITO) is a commonly used conducting transparent oxide film (CTO) used in flat panel display applications. Direct write laser ablation is sometimes employed for ITO patterning and it is important that the substrate material and remaining ITO be affected as little as possible by the laser ablation. In this investigation, femtosecond laser ablation of ITO was studied to identify laser processing parameters which cleanly ablated ITO with a minimum of damage to a glass substrate and surrounding ITO. The Ti:Sapphire chirp pulse amplified femtosecond laser used for the experiments had a wavelength of 775nm and produced pulses with a duration of 150fs at a rate of 2 kHz. Ablation was carried out at a sufficiently high panel scanning speed that single ablation spots could be studied. The pulse energy was adjusted to determine feasible spot diameters and depths which could be ablated into the ITO without damaging the glass substrate. Next, ablation of lines without glass damage was also demonstrated. Experiments were also performed with a high repetition rate (100kHz) femtosecond laser.
Journal of the Korean Society of Manufacturing Technology Engineers
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v.21
no.3
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pp.382-386
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2012
A femtosecond laser with 775nm central wavelength and 150 fs of temporal pulse width was used for multi layered glass cutting applications. Ultrashort pulse was effectively used for clean glass cutting with $50{\mu}m$ depth and minimum cutting width. Laser beam was split to two stages and focused on the top surfaces of each layer. Ablation threshold of used glass was measured to be $2.59J/cm^2$. In experiments, 200mW laser power and 1mm/s scanning speed was used for preliminary experiment. Air gap was the major defect occurring parameter and laser power was less sensitive to glass cutting in the experiment. The maximum cutting speed was measured to be 60mm/min with 2kHz, however, Maximum 3m/min cutting speed can be achievable with a commercially available laser with 100kHz.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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