• 제목/요약/키워드: electrostatic discharge tester

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Human body model electrostatic discharge tester using metal oxide semiconductor-controlled thyristors

  • Dong Yun Jung;Kun Sik Park;Sang In Kim;Sungkyu Kwon;Doo Hyung Cho;Hyun Gyu Jang;Jongil Won;Jong-Won Lim
    • ETRI Journal
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    • 제45권3호
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    • pp.543-550
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    • 2023
  • Electrostatic discharge (ESD) testing for human body model tests is an essential part of the reliability evaluation of electronic/electrical devices and components. However, global environmental concerns have called for the need to replace the mercury-wetted relay switches, which have been used in ESD testers. Therefore, herein, we propose an ESD tester using metal oxide semiconductor-controlled thyristor (MCT) devices with a significantly higher rising rate of anode current (di/dt) characteristics. These MCTs, which have a breakdown voltage beyond 3000 V, were developed through an in-house foundry. As a replacement for the existing mercury relays, the proposed ESD tester with the developed MCT satisfies all the requirements stipulated in the JS-001 standard for conditions at or below 2000 V. Moreover, unlike traditional relays, the proposed ESD tester does not generate resonance; therefore, no additional circuitry is required for resonant removal. To the best of our knowledge, the proposed ESD tester is the first study to meet the JS-001 specification by applying a new switch instead of an existing mercury-wetted relay.

Flyback 방식을 이용한 on-wafer용 HBM ESD 테스터 구현 (HBM ESD Tester for On-wafer Test using Flyback Method)

  • 박창근;염기수
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제6권7호
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    • pp.1079-1083
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    • 2002
  • 반도체 소자의 정전기 내성을 알아보기 위해 필요한 HBM ESD 테스터를 작자하였다 .HBM ESD 테스트는 MMIC의 정전기 내성을 측정하는 데 가장 많이 사용하는 방식이다. 고전압의 ESD 신호론 얻기 위하여 DC-DC converter의 일종인 flyback 방식온 도입하였다. Flyback 방식으로 제자된 HBM ESD 테스터는 고전압 부분과 저전압 부분을 서로 격리시킬 수 있는 장점이 있다 스위치로 사용된 relay의 air gap을 이용하여 정전기의 rise time이 국제 규격에 맡도록 설계하였다. 결과적으로, flyback 방식과 relay의 air gap을 이용하여 기생 성분이 최소화된 ESD 테스터를 제작하였다.

Flyback방식을 이용한 on-wafer용 HBM ESD 테스터 구현 (HBM ESD Tester for On-wafer Test using Flyback Method)

  • 박창근;염기수
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국해양정보통신학회 2002년도 추계종합학술대회
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    • pp.469-472
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    • 2002
  • 반도체 소자의 정전기 내성을 알아보기 위해 필요한 HBM ESD 테스터를 제작하였다. HBM ESD 테스트는 MMIC의 정전기 내성을 측정하는데 가장 많이 사용하는 방식이다. 고전압의 ESD 신호를 얻기 위하여 DC-DC converter의 일종인 flyback 방식을 도입하였다. Flyback 방식으로 제작된 HBM ESD 테스터는 고전압 부분과 저전압 부분을 서로 격리시킬 수 있는 장점이 있다. 스위치로 사용된 relay의 air gap을 이용하여 정전기의 rise time이 국제 규격에 맞도록 설계하였다. 결과적으로, flyback 방식과 relay의 air gap을 이용하여 기생 성분이 최소화된 ESD 테스터를 제작하였다.

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