• 한국전자현미경학회:학술대회논문집
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• 한국현미경학회 2002년도 제33차 춘계학술대회
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• pp.76-77
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• 2002

• 한국전자현미경학회:학술대회논문집
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• 한국현미경학회 2000년도 제31차 춘계학술대회
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• pp.85-86
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• 2000

• 한국전자현미경학회:학술대회논문집
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• 한국현미경학회 2001년도 제32차 춘계학술대회
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• pp.61-62
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• 2001

• 한국전자현미경학회:학술대회논문집
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• 한국현미경학회 2001년도 제32차 추계학술대회
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• pp.87-88
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• 2001

• 한국광물학회지
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• 제17권2호
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• pp.177-187
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• 2004

Au 내부 표준시편을 이용하여 일반 전자회절도형에서도 알바이트와 올리고클레이스의 격자 상수 값을 1% 이내의 오차범위로 얻었다. 자연산 올리고클레이스 시료의 전자회절도형 지도를 작성하였고, 11개 지점의 정대축 전자회절도형을 얻었다 이러한 작업은 삼사정계민 장석으로부터 신뢰성 있는 전자현미경 연구 결과를 얻기 위해서는 필수적인 과정이다. 장식의 {001} 벽개면과 TEM의 양측경사 시료지지대를 이용하면 장석의 구조/화학 분석에 필요한 다음과 같은 정보를 획득할 수 있다: 알칼리 장석은 [001] 방향에서 ＊ 값을, [100] 방향에서 $\alpha$＊ 값을 측정하여 $\alpha$＊ - ＊ plot을 함으로써 미세 영역에서 Si-Al ordering 상태 및 화학 조성을 예측할 수 있다. Na-rich한 사장석은 [001] 방향에서 ＊ 값을 측정하여 Si-Al ordering 상태를 예측할 수 있다. Na-poor한 사장석은 [100] 방향에서 e-reflection의 유무, 회절강도 및 위치 변화를 측정하여 구조 및 화학을 예측할 수 있다.