초록
Au 내부 표준시편을 이용하여 일반 전자회절도형에서도 알바이트와 올리고클레이스의 격자 상수 값을 1% 이내의 오차범위로 얻었다. 자연산 올리고클레이스 시료의 전자회절도형 지도를 작성하였고, 11개 지점의 정대축 전자회절도형을 얻었다 이러한 작업은 삼사정계민 장석으로부터 신뢰성 있는 전자현미경 연구 결과를 얻기 위해서는 필수적인 과정이다. 장식의 {001} 벽개면과 TEM의 양측경사 시료지지대를 이용하면 장석의 구조/화학 분석에 필요한 다음과 같은 정보를 획득할 수 있다: 알칼리 장석은 [001] 방향에서 ＊ 값을, [100] 방향에서 $\alpha$＊ 값을 측정하여 $\alpha$＊ - ＊ plot을 함으로써 미세 영역에서 Si-Al ordering 상태 및 화학 조성을 예측할 수 있다. Na-rich한 사장석은 [001] 방향에서 ＊ 값을 측정하여 Si-Al ordering 상태를 예측할 수 있다. Na-poor한 사장석은 [100] 방향에서 e-reflection의 유무, 회절강도 및 위치 변화를 측정하여 구조 및 화학을 예측할 수 있다.
Measurements of the lattice parameters of albite and oligoclase from electron diffraction patterns with the Au internal standard resulted in errors of less than 1 %. An electron diffraction map for natural oligoclase samples was constructed and 11 stations of zone-axes diffraction patterns were obtained. This process is indispensible for reliable TEM studies of triclinic feldspars. Utilizing the [001] cleavage plane of feldspar and the double-tilting TEM holder the following information is obtainable: Si-Al ordering and chemistry of alkali feldspars could be estimated from the $\alpha$＊ - ＊ plot, where ＊ is measured from the [001] orientation, while $\alpha$＊ is measured from the [100] orientation. Si-Al ordering of Na-rich plagioclase could be estimated from ＊ [001] patterns. Structure and chemistry or Na-poor plagioclase could be estimated from existence of e-reflections, their intensity variations as well as their positional changes.
