S곡선 기반 기술적 불연속성(Technological discontinuity)의 정의 및 측정 : 로직 반도체의 기술대체 사례 (Definition and measurement of S-curve based technological discontinuity : case of technological substitution of logic semiconductors)
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- 한국산학기술학회논문지
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- 제18권7호
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- pp.102-108
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- 2017