반도체 칩의 신호처리속도를 향상시키기 위한 방법에는 세 가지가 있다. 첫 번째 방법은 금속배선의 배치(layout)를 바꾸는 것이고, 두 번째 방법은 배선으로 사용되는 금속의 비저항을 감소시키는 것이며, 세 번째 방법은 절연재료(insulating material)의 유전상수(dielectric constant)를 감소시키는 것이다. 첫 번째나 두 번째의 방법에 대해서는 많은 연구가 이루어졌고, 지금도 연구가 이루어지고 있다. 그러나 첫 번째나 두 번째의 방법을 통하여 얻을 수 있는 신호처리속도의 향상보다는 세 번째 방법을 통하여 얻을 수 있는 신호처리속도의 향상이 더 크다. 본 논문에서는 먼저 마이크로전자에 응용되기 위한 절연재료의 요구조건을 살펴보고, 지금까지 개발된 저유전율 고분자재료들을 간략하게 소개할 예정이다. 아울러 유전상수를 낮추기 위하여 최근 개발된 기공을 갖는 고분자재료들과 이들을 제조하기 위한 공정에 대해서도 간략하게 소개할 예정이다.
In this study, the compositions for the microwave dielectric materials were investigated to obtain the improved dielectric properties, the high temperature stability, and the sintering temperature of less than $900^{\circ}C$, which was necessary for cofiring with the internal conductor of silver. In addition, the dielectric sheets were prepared by the tape casting technique, after which the sheets were laminated and sintered. In this process, the optimum ratio of powder and binder, laminating pressure, temperature, and possibility for cofiring with the internal conductor were studied. Finally, multilayer chip treplexer filter for the 800-2,000 MHz range were fabricated, and the frequency characteristics of the triplexer filter were investigated. When the $0.6TiTe_3O_8-0.4MgTiO_3+3wt%SnO+7wt%H_3BO_3$ ceramics were sintered at $820^{\circ}C$ for 0.3 hours, the microwave dielectric properties of the dielectric constant of 29.91, quality factor of 33,000 GHz, and temperature coefficient of resonant frequency of -2.76 ppm/$^{\circ}C$ were obtained. Using the Advanced Design System (ADS) and High Frequency Structure Simulator (HFSS), the multilayer chip triplexer filter acting at the range of 800-2,000 MHz were simulated and manufactured. The manufactured triplexer filter had the excellent frequency properties in the CDAM800, GPS and PCS frequency regions, respectively.
In the present work, we have studied low temperature sintering and microwave dielectric properties of $ZnAl_2O_4$-zinc borosilicate (ZBS, 65ZnO-$25B_2O_3-10SiO_2$) glass composites. The focus of this paper was on the improvement of sinterability, low dielectric constant, and on the theoretical proof regarding of microwave dielectric properties in $ZnAl_2O_4$-ZBS glass composites, respectively. The $ZnAl_2O_4$ with 60 vo1% ZBS glass ensured successful sintering below $900^{\circ}C$. It is considered that the non-reactive liquid phase sintering (NPLS) occurred. In addition, $ZnAl_2O_4$ was observed in the $ZnAl_2O_4$-(x)ZBS composites, indicating that there were no reactions between $ZnAl_2O_4$ and ZBS glass. $ZnB_2O_4\;and\;Zn_2SiO_4$ with the willemite structure as the secondary phase was observed in the all $ZnAl_2O_4$-(x)ZBScomposites. In terms of dielectric properties, the application of the $ZnAl_2O_4$-(x)ZBS composites sintered at $900^{\circ}C$ to LTCC substrate were shown to be appropriate; $ZnAl_2O_4$-60ZBS (${\varepsilon}_r$= 6.7, $Q{\times}f$ value= 13,000 GHz, ${\tau}_f$= -30 ppm/$^{\circ}C$). Also, in this work was possible theoretical proof regarding of microwave dielectric properties in $ZnAl_2O_4$-(x)ZBS composites.
The microwave dielectric properties of X BaO-0.15($Nd_{0.87}Bi_{0.13})_2O_3-(0.85-X)TiO_2 (X=0.14~0.17) and 0.16BaO-0.15(Bi_xNd_{1-x})_2O_3-0.69TiO_2$ (X=0.12~0.15) ceramics sintered at 1320~$1380^{\circ}C$ were investigated. The microwave dielectric properties of X BaO-0.15(Nd_{0.87}Bi_{0.13})_2O_3-(0.85-X)TiO_2$ (X=0.14~0.17) can be controlled effectively by adjusting X content : with increasing X from 0.14 to 0.17 both dielectric constant and temperature coefficient of resonant frequency decreased from 94.6 to 86 and from 22 ppm/^${\circ}C to -7 ppm/^{\circ}C$, respectively, while quality factor increased from 1300 to 1920 (at 4GHz). The microwave dielectric properties of 0.16BaO-0.15(Bi_x/Nd_{1-x2}O_3 -0.69TiO_2$ (X=0.12~0.15) can be controlled effectively by adjusting X content : with increasing X from 0.12 to 0.15 both quality factor and temperature coefficient of resonant frequency decreased from 1920 to 1430 and from 9 ppm/^${\circ}C to -10 ppm/^{\circ}C$, respectively, while dielectric constant increased from 87.5 to 92.6.
The $(1-x)Mg_4Ta_2O_9-xwt%TiO_2\;(x=5\sim20)$ microwave dielectric ceramics were prepared by solid-state reaction method and sintered at $1450^{\circ}C$. According to the X-ray diffraction data, the $Mg_4Ta_2O_9-xwt%TiO_2$ ceramics had main phase of $Mg_4Ta_2O_9$ and $MgTi_2O_5$ peaks were added by increasing of $TiO_2$ addition. Microwave dielectric properties of the $Mg_4Ta_2O_9-xwt%TiO_2$ ceramics were influenced by $MgTi_2O_5$ phase and properties of $TiO_2$. There was a little decrement of the quality factor from 116,800GHz of pure $Mg_4Ta_2O_9$ to 100,100GHz of 15wt% $TiO_2$ added one. But there was excellent improvement in temperature coefficient of the resonant frequency (TCRF) by addition of 15wt% $TiO_2$. The dielectric constant quality factor and TCRF of the $Mg_4Ta_2O_9-xwt%TiO_2$ ceramics sintered at $1450^{\circ}C$ were $13.08\sim16.41,\;45,000\sim165,410GHz,\;-24.82\sim+3.88ppm/^{\circ}C$, respectively, depending on the value of x. Simulated dielectric resonator (DR) with $Mg_4Ta_2O_9-15wt%TiO_2$ ceramics had the operating frequency of 11.97GHz and $S_{2,1}$ of -35.034dB.
The microwave dielectric properties of (1-x)Ba(Mg$_{1}$3/Ta$_{2}$3/)O$_3$-xBa(Co$_{1}$3/Nb$_{2}$3)O$_3$(x=0.25~0.5) ceramics depending on the Ba(Co$_{1}$3/Nb$_{2}$3/)O$_3$[BCN] contents and the possibility of application as a microwave dielectric resonator were investigated. The specimens were prepared by he conventional mixed oxide method using there sintering temperature of 1575$^{\circ}C$. It was found that Ba(Mg$_{1}$3/Ta$_{2}$3/)O$_3$[BMT] and BCN formed a solid solution with complex perovskite structure. As the mole fraction of BCN increased, dielectric constant increased while temperature coefficient of resonant frequency decreased. The highest value of quality factor, Qxf$_{0}$=138,205GHz, obtained in the sample of 0.9BMT-0.1BCN ceramics. In the range of x$\geq$0.4, the dielectric constant was about 30. The 0.55BMT-0.45BCN ceramics showed excellent microwave dielectric properties with $\varepsilon$$_{r}$=30.84, Qxf$_{0}$=75,325GHz and $\tau$$_{f}$=2.9015ppm/$^{\circ}C$.EX>.EX>.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제13권3호
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pp.116-120
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2012
In this paper, ZnO-Epoxy nanocomposites (NEP) were prepared and epoxy composites that contain 5 wt% micro ZnO (MEP) and deliberately not well dispersed nano ZnO (NDNEP) were also prepared for purpose of comparison. The effects of the particle size and dispersion of ZnO on dielectric properties of epoxy resin were chiefly studied. Test results showed that: at a loading of 5 wt%, the three epoxy composites seem to have no significant difference on resistivity compared to epoxy resin; Dielectric constants of all the epoxy composites are also basically the same but they are bigger compared to that of the pure epoxy resin (unfilled); Dielectric dissipation factors ($tan{\delta}$) of NDNEP is greater than that of NEP and MEP. NEP has the minimum dielectric loss factor, whereas dielectric loss factors of the three epoxy composites are larger than that of the pure epoxy resin. The decreasing order of electrical breakdown strength for the three epoxy composites and for the pure epoxy resin is as follows: NEP>MEP>NDNEP>EP. Finally, in order to explain the experimental results the aggregation interface phase was proposed. Furthermore, addition of well dispersed nano filler has proved to have a positive effect on the improvement of the dielectric properties of epoxy resin.
Ziheng Huang;Ruifeng Niu; Depeng Wang;Weitian Wang
한국재료학회지
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제34권7호
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pp.321-329
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2024
In this work, a series of BaTiO3-based ceramic materials, Ba(Al0.5Nb0.5)xTi1-xO3 (x = 0, 0.04, 0.06, 0.08), were synthesized using a standard solid-state reaction technique. X-ray diffraction profiles indicated that the Al+Nb co-doping into BaTiO3 does not change the crystal structure significantly with a doping concentration up to 8 %. The doping ions exist in Al3+ and Nb5+ chemical states, as revealed by X-ray photoelectron spectroscopy. The frequency-dependent complex dielectric properties and electric modulus were studied in the temperature range of 100~380 K. A colossal dielectric permittivity (>1.5 × 104) and low dielectric loss (<0.01) were demonstrated at the optimal dopant concentration x = 0.04. The observed dielectric behavior of Ba(Al0.5Nb0.5)xTi1-xO3 ceramics can be attributed to the Universal Dielectric Response. The complex electric modulus spectra indicated the grains exhibited a significant decrease in capacitance and permittivity with increasing co-doping concentration. Our results provide insight into the roles of donor and acceptor co-doping on the properties of BaTiO3-based ceramics, which is important for dielectric and energy storage applications.
Effects of $CaF_2$ addition as a filler on the high frequency dielectric properties and sintering of CaO-$Al_2O_3-SiO_2-B_2O_3$(CASB) and ZnO-MgO-$B_2O_3-SiO_2$(ZMBS) glass composites were investigated. The optimal glass composition in the CASB system was 33.0CaO-$17.0Al_2O_3-35.0SiO_2-15.0B_O_3$(in wt%). The corresponding dielectric properties were k=8.1 and $Q{\times}fo$=1,200GHz. The sintering temperature was $800{\mu}m$. In case of 2MBS system, 25.0ZnO-25.0MgO-20.0$B_2O_3-30.0SiO_2$(in wt%) glass showed k=6.8 and $Q{\times}fo$=5,200GHz when it was sintered at $750^{\circ}C$. The maximum amount of $CaF_2$ in the CASB and 2MBS glass system without any detrimental effect on the sintering was 25.0 v/o and 15.0 v/o, respectively. The addition of $CaF_2$ in the glass systems improved the high frequency dielectric properties. In case of CASB+$CaF_2$ composite, k was 7.1 and $Q{\times}fo$ was 2,300GHz. And in case of 2MBS+$CaF_2$ composite, k was 5.9 and $Q{\times}fo$ was 8,100GHz. $CaF_2$ addition also reduced sintering temperature. Effects of $CaF_2$ on the dielectric and sintering properties was analyzed in terms of viscosity and crystallization behavior changes due to the interaction between $CaF_2$ and the glass systems.
(Ba,Sr)$TiO_3$[BST] thin films were fabricated on Pt/Ti/$SiO_2$/Si substrate by RF sputtering. We investigated the effects of substrate temperature on the structural and dielectric properties of BST thin films. Increasing the substrate temperature, barium multi titanate phases were decreased, and BST (100), (200) peaks were increased. The relative dielectric constant and dielectric loss of the BST thin films at the substrate temperature of $500^{\circ}C$ were 300 and 0.018, respectively at l[kHz]. In all films, the dielectric constants decreased. Dielectric losses increased as increasing the frequency. The switching voltage was 5V of the BST thin films at the substrate temperature of $500^{\circ}C$.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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