A modeling of the nucleation and dynamical behavior of defects from an inhomogeneous surface configuration using fast Q-tensor method is realized. On modeling the defect nucleation and dynamics, A fast Q-tensor method is applied. From the numerical modeling, we confirmed that surface inhomogeneity which makes strong strain energy in the local liquid crystal director field could cause defects. Experimental result has compared with numerical modeling in order to verify the simulation of the defect nucleation.
General wheel mark in mono-crystalline silicon wafer finding is able to be expected because it depends on radius ratio and angular velocity ratio of wafer and wheel. The pattern is predominantly determined by the contour of abrasive grits resulting from a relative motion. Although such a wheel mark is made uniform pattern if the process parameters are fixed, sub-surface defect is expected to be distributed non-uniformly because of characteristic of mono-crystalline silicon wafer that has diamond cubic crystal. Consequently it is considered that this phenomenon affects the following process. This paper focused on kinematic analysis of wafer grinding process and simulation program was developed to verify the effect of process variables on wheel mark. And finally, we were able to predict sub-surface defect distribution that considered characteristic of mono-crystalline silicon wafer
The mechanism for lattice-shaped mura defects was proposed by characterizing the electro-optic properties of liquid crystal (LC), which showed different transmission properties between the normal and mura defect areas. An increase in the mura defect rate was observed when the dotted LC in the one drop filling (ODF) was exposed for a longer time. The dotted LC droplet at the edge evaporated more rapidly than that in the center. This resulted in a higher concentration of polar singles at the edge of the dotted LC droplet, leading to a higher ${\Delta}n$ value and higher transmittance. This implies that the reductio of the exposure time of the dotted LC to air plays a critical role in decreasing the occurrence of lattice-shaped mura defects in ODF.
초크랄스키 실리콘 기판의 뒷면에 형성된 기계적 손상이 미치는 효과에 대하여 고찰하였다. 기계적 손상의 정도는 레이저 여기/극초단파 반사 광전도 감쇠법에 의한 소수반송자 재결합 수명, 습식산화/선택적 식각 방법, 표면 부위 미소 결함 및 X-선 단면 측정 분석으로 평가하였다. 그 결과, 웨이퍼 뒷면에 가해지는 기계적 손상의 세기가 강할수 록 소수반송자 재결합 수명은 짧아지고, 표면 부위 미소 결함 밀도는 비례적으로 증가하였으며, 산화 유기 적충 결함 밀 도와도 상호 일치하였다. 그래서, 표면 부위 미소 결함 기술은 산화 유기 적층 결함을 측정하는데 있어서 통상적인 부식 방법과는 별도로 사용될 수 있다.
균일한 조성과 doping 효과를 얻을 수 있는 floating zone(FZ)법으로 조화용융조성의 undoped $LiNbO_{3}$ 및 5 mol%의 MgO 또는 ZnO를 각각 첨가한 $LiNbO_{3}$ 단결정을 육성하였다. 결정성장시 최적성장조건을 실험적으로 확립하였으며, 결정내에 존재하는 domain 구조, 전위구조, slip band, 미세쌍정등의 결함구조를 조사 및 분석하였다.
Structural and electronic properties of bulk GaN with nitrogen vacancy($V_N$), oxygen substitution on nitrogen site($O_N$), and complex of nitrogen vacancy and oxygen substitution on nitrogen site($V_N-O_N$) were investigated using the first principle calculations. It was found that stability of defect formation is dependent on the epilayer growth conditions. The complex of $V_N-O_N$ is energetically the most favorable state in a condition of Ga-rich, however, oxygen substitution in nitrogen site is the most favorable state in N-rich condition. The electronic property of complex with negative charge states at $\Gamma$ point was changed from semiconductor to metal. On the contrary, the properties of nitrogen vacancy except for neutral charge state have shown the semiconductor characteristics at $\Gamma$ point. In the oxygen substitution on nitrogen site, the energy differences between conduction band minimum and Fermi level were smaller than that of defect-free GaN.
We propose a highly birefringent and dispersion compensating photonic crystal fiber based on a double line defect core. Using a finite element method (FEM) with a perfectly matched layer (PML), it is demonstrated that it is possible to obtain broadband large negative dispersion of about -400 to -427 ps/(nm.km) covering all optical communication bands (from O to U band) and to achieve the dispersion coefficient of -425 ps/(nm.km) at 1.55μm. In addition, the highest birefringence of the proposed PCF at 1.55 μm is 1.92 × 10-2 and the value of birefringence from the wavelength of 1.26 to 1.8 μm (covering O to U bands) is about 1.8 × 10-2 to 1.92 × 10-2. It is confirmed that from the simulation results, the confinement loss of the proposed PCF is always less than 10-3 dB/km at 1.55 μm with seven fiber rings of air holes in the cladding.
The size of crystallites in mono-dispersed cubic silver bromide grains was measured by applying a powder X-ray diffraction method and Scherrer's equation to grains that were suspended in swollen gelatin layers. In order to evaluate the existence of defects, the measured crystallite size was compared to those measured by using a scanning electron microscope. In the case of the grains prepared by the controlled double jet method, the size of crystallites was equal to the edge length of the grains that had edge lengths smaller than 400 nm. This result proved the usefulness of the above-stated method for measuring the size of crystallites and also evaluating the presence of any crystal defect in each grain. In the case of the grains, which were precipitated in the presence of a sensitizing dye and potassium iodide, the size of crystallites was smaller than the edge's length, indicating the discontinuities in the grains introduced during the precipitation process.
The ratio of optimized concentration on optical characteristics for phase-separated composite organic films (PSCOF) liquid crystal display is 30% of pre-polymer (NOA65) and 70% of ferroelectric liquid crystal (Felix). The layer structure in ferroelectric liquid crystal cell made by 30% NOA65 and 70% Felix materials is tilt-bookshelf layer structure. The angle of tilt-bookshelf structure are 17$^{\circ}$, 12$^{\circ}$ which are almost same of tilt angle of ferroelectric liquid crystal in Sm $C^{\ast}$ phase. We know that this result is from compensating the layer buckling. In this paper, we will discuss the effect of layer structure in PSCOF cell on ratio of concentration between pre-polymer and liquid crystal by x-ray measurements. We believe that technology of PSCOF is a good solution to solve the problems of align-defect and mechanical shock for future TV application and plastic LCD.
기상 결정 성장법을 이용하여 twin, grain free인 (100) ZnSe 결정을 성장하였다. (100) ZnSe 결정내의 결함은 X-ray Rocking Curve에 의해 분석하였으며, seed의 질과 성장 속도가 ZnSe 결정의 결함에 가장 큰 영향을 미쳤다. 성장된 (100) ZnSe 결정의 형태는 seed의 모양과 로내의 등온 곡선 및 면들의 성장속도에 의존하였다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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