This study is about the applicability of copper slag as the ground improvement material. By the geo-technical characteristics of the copper slag and by the effect of consolidation and under drainage condition, it is proved that the copper slag can be used for ground improvement material as substitution for sand. As a result of laboratory tests, it was shown that the permeability of the copper slag was similar to that of sands under the vertical drainage condition. In addition, the copper slag showed higher critical hydraulic gradient than that of sand under up-ward vertical flow state. The copper slag has potential safety against piping and it has internal stability of particles. The conclusion is that the copper slag is suitable for drainage and filter material.
For this study copper ions-containing bioactive glass nanoparticles commonly used in mineral trioxide aggregate (MTA) was developed to improve the mechanical properties and promote antibacterial effect of MTA with the original material. The mechanical properties and antibacterial activity of Cu-BGn incorporating varying amounts cooper incorporated bioactive glass nano particles(BGn) 0.5,1.0,2.0 and 4.0 wt% in MTA were characterized composition of the resulting were investigated. The compressive strength was calculated by weighing specimens with a diameter of 4 mm and a thickness of 6 mm according to ISO 6876 (2012). The antimicrobial effect was evaluated using two strains of S. mutans and E. faecalis. The mechanical properties of the test results was Cu-BGn increased no statistically significant difference was observed (p>0.05). Adhesion experiment results S. mutans in contrast to the control group Ortho MTA, 4.0 wt% of Cu-BGn added experimental group showed a significant difference was observed (p<0.05). Also, E. faecalis statistical analysis indicated a significant difference for antibacterial agents between control and Cu-BGn containing(p<0.05). It seems that this Cu-BGn proved that even a antibacterial effect was demonstrated. Therefore, it was suggest that it is necessary for in-depth research into various environments that can reproduce the oral environment.
Ham, Chang-Woo;Song, Ki-Bong;Suh, Jeong-Dae;Ahn, Se-Jin;Yoon, Jae-Ho;Yoon, Kyung-Hoon
한국신재생에너지학회:학술대회논문집
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2009.06a
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pp.160-162
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2009
We have prepared and characterized particle based CIGS thin films using a thermal evaporator. As the copper rate, selenium rate changed, CIGS particles were obtained at $240^{\circ}C$ for 6 hours from the reaction of $CuCl_2$, $InCl_3$, $GaCl_3$ and Se powder in solvent. The CIGS thin films were deposited on a sodalime glass. The CIGS thin film were identified to have a typical chalcopyrite tetragonal structure by using UV/Vis-spectroscopy, X-ray diffraction(XRD), Auger Electron Spectroscopy(AES), Scanning Electron Microscopy(SEM).
We investigated the effects of oxidizer additive on the performance of Cu-CMP process using commonly used tungsten slurry. According to the CMP removal rates and particle size distribution, and the micro- structures of surface layer as a function of oxidizer contents were greatly influenced by the slurry chemical composition of oxidizers. The difference in removal rate and roughness of copper surface are believed to cause by modification in the mechanical behavior of $Al_{2}O_3$ abrasive particles in CMP slurry.
We investigated the effects of oxidizer additive on the performance of Cu-CMP process using commonly used tungsten slurry. According to the CMP removal rates and particle size distribution, and the micro-structures of surface layer as a function of oxidizer contents were greatly influenced by the slurry chemical composition of oxidizers. The difference in removal rate and roughness of copper surface are believed to cause by modification in the mechanical behavior of $Al_2O_3$ abrasive particles in CMP slurry.
Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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2012.05a
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pp.58.1-58.1
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2012
Direct write technologies provide flexible and economic means to manufacture low-cost large-area electronics. In this regard inkjet printing has frequently been used for the fabrication of electronic devices. Full advantage of this method, which is capable of reliable direct patterning with line and space dimensions in the 10 to 100 um regime, is only made with all-solution based processing. Among these printable electronic materials, silver and copper nanoparticles have been used as interconnecting materials. Specially, solutions of organic-encapsulated silver and copper nanoparticles may be printed and subsequently annealed to form low-resistance conductor patterns. In this talk, we describe novel processes for forming silver nanoplates and copper ion complex which have unique properties, and discuss the optimization of the printing/annealing processes to demonstrate plastic-compatible low-resistance conductors. By optimizing both the interconnecting materials and the surface treatments of substrate, it is possible to produce particles that anneal at low-temperatures (< $200^{\circ}C$) to form continuous films having low resistivity and appropriate work function for formation of rectifying contacts.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.17
no.2
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pp.156-161
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2004
We investigated the effects of oxidizer additive on the performance of Cu-CMP process using commonly used tungsten slurry. In order to compare the removal rate and non-uniformity as a function of oxidizer contents, we used alumina-based tungsten slurry and copper blanket wafers deposited by DC sputtering method. According to the CMP removal rates and particle size distribution, and the microstructures of surface layer by SEM image as a function or oxidizer contents were greatly influenced by the slurry chemical composition of oxidizers. The difference in removal rate and roughness of copper surface are believed to cause by modification in the mechanical behavior of $Al_2$O$_3$abrasive particles in CMP slurry.
We investigated the effects of oxidizer additive on the performance of Cu-CMP process using commonly used tungsten slurry. According to the CMP removal rates and particle size distribution, and the micro-structures of surface layer as a function of oxidizer contents were greatly influenced by the slurry chemical composition of oxidizers. The difference in removal rate and roughness of copper surface are believed to cause by modification in the mechanical behavior of $Al_{2}O_{3}$ abrasive particles in CMP slurry.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.47
no.6
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pp.275-281
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2014
An ultrasound-assisted Sn-Ag-Pd activation method for electroless copper plating was presented in this study. With this activation process, it was shown that the fine catalyst particles were homogeneously distributed with high density on the entire specimen. In addition, it was observed that incubation period occurred during the electroless plating step was decreased owing to the absorption of Ag which holds high catalytic activity. Resulting from the refinement and high densification of catalyst, the defect-free gap-fill was achieved within the 20x nm trench.
Yoon, Hee-Seung;Oh, Jong Hyun;Lee, Hyung Keun;Jeon, Jong-Ki;Ryu, Seung Kon
Korean Chemical Engineering Research
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v.46
no.5
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pp.863-867
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2008
Pitch based activated carbon fiber(ACF) was prepared from reformed naphtha cracking bottom oil(NCB oil) by melt spinning. The fibers obtained were stabilized, carbonized, and then steam activated. The ACF was sensitized with Pd-Sn catalytic nuclei via a single-step activation approach. This sensitized ACF was used as precursors for obtaining copper plated ACFs via electroless plating. ACFs uniformly decorated with metal particles were obtained with reduced copper plating in the reaction solution. Effects of the amount of copper on characteristics of ACF/Cu catalysts were investigated through BET surface area, X-ray diffraction, scanning emission microscopy, and ICP. The amount of copper increased with plating time, but the surface area as well as the pore volume decreased. NO conversion increased with reaction temperature. NO conversion decreased with increasing the amount of copper, which is seemed to be due to the reduction of surface area as well as the dispersion of copper.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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