• 한국안광학회지
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• 제13권3호
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• pp.51-55
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• 2008

목적: anamorphoser를 구성하는데 사용되는 anamorphic 프리즘을 계산, 평가할 수 있는 프로그램의 개발. 방법: anamorphic 프리즘 매질의 굴절률과 빔의 확대 비율에 의해 결정되는 프리즘의 정각과 프리즘의 볼륨을 확인해 줄 수 있는 프로그램이 있으면 anamorphic 프리즘 제작이 상당히 정확하게 진행될 수 있으며, anamorphic 프리즘이 사용되는 전체 광학계의 설계와 제작에 편리한 수단을 제공할 수가 있다. 이러한 프로그램을 개발하기 위해 우리는 먼저 프리즘 매질의 굴절률, 빔의 확대 비율이 주어졌을 때 anamorphic 프리즘의 정각 및 배치각을 결정할 수 있는 식을 유도하였고, 다음은 이것을 가시화하여 쉽게 확인 할 수 있도록 하기 위해 델파이 6.0 언어를 사용하여 프로그래밍하였다. 결과: anamorphoser를 구성하는데 사용될 수 있는 anamorphic 프리즘을 계산, 평가할 수 있는 프로그램을 개발하였다. 결론: 개발된 프로그램을 실제 업무에 적용하여 사용 해 본 결과로 볼 때, 이 프로그램은 생산자에게 많은 정확성과 신속성을 제공할 수 있기에 anamorphoser의 구성 부품으로 사용되는 anamorphic 프리즘의 계산과 생산에 유용한 것으로 판단된다.

• 한국광학회지
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• 제18권6호
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• pp.395-400
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• 2007

본 연구는 지문 인식 시스템 중에서 프리즘을 이용한 광학계의 설계에 대한 것이다. 이는 프리즘, 렌즈, 그리고 CMOS 이미지 센서(혹은 CCD) 등으로 구성되어 있는 광학계이다. 종래의 프리즘을 이용한 지문인식 광학계에서는 지문에 물이 묻어 있는 경우에 영상의 품질이 현저히 저하되는 문제점이 있다. 이 경우에 프리즘의 굴절률을 높임으로써 영상의 품질을 충분히 높일 수 있었다. 또한 프리즘과 렌즈를 사용함으로 인하여 발생하는 비대칭 축소 왜곡(anamorphic distortion)과 상면의 지를 최소화되는 프리즘 꼭지각 $\alpha$를 제안한다.

• Journal of the Optical Society of Korea
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• 제13권1호
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• pp.152-157
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• 2009

The structure of the prism sheet and the reflective polarizer sheet in the direct - illumination liquid crystal display (LCD) backlight is optimized and fabricated. The apex angle of the prism sheet was changed from 90 degree to 96.5 and 101.5 degree and the angular spread of the diffuser films attached on the reflective polarizer sheet was changed from 7 to 1.5 degrees. The measured view angle, the normal luminance, and the contrast ratio from the optimized backlight unit showed improved optical performances.

• 한국광학회지
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• 제10권3호
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• pp.208-213
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• 1999

반도체 및 박막의 두께 측정에 많이 이용되는 분광 타원해석기의 입사각을 정밀하게 보정하기 위한 방법을 제안하고 이를 실험적으로 확인하였다. 몇 종류의 광학유리를 이용하여 프리즘과 기판을 가공하였다. 프리즘의 꼭지각과 최소 벗어나 기각을 측정해 광학유리의 굴절률을 결정하였고 브루스터각(Brewster's angle)에서 측정한 유리기판의 타원해석 스펙트럼을 분석하기 위한 기준값으로 이 굴절률을 사용하여 분광 타원해석기의 입사각을 0.01도의 정밀도로 결정,보정하였다.

• 한국광학회지
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• 제28권5호
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• pp.221-228
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• 2017

프리즘 분광계를 사용하여 액체 상태와 고체 상태의 혼합 폴리머(NOA61, NOA84) 굴절률을 측정하였다. 먼저 속이 빈 작은 프리즘을 제작하고 UV (ultra-violet) 에폭시를 채운 다음 프리즘의 꼭지각과 최소 편향각을 측정하여 굴절률을 측정하였다. 고체 상태의 폴리머는 속이 빈 프리즘에 추가 구조물을 넣고 UV 에폭시를 경화하여 고체 폴리머가 채워진 프리즘을 제작하고 굴절률을 측정하였다. 액체 상태나 고체 상태인 경우 모두, 두 종류의 에폭시를 섞어서 혼합 폴리머를 만들고 혼합비를 조절하면서 굴절률을 측정한 결과 혼합비에 비례하는 굴절률 측정값을 얻었다. 이러한 결과는 UV 에폭시를 사용한 원통형 이중 미세 렌즈배열의 초점거리를 조절할 수 있는 방법을 제공한다.

• 한국광학회지
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• 제16권2호
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• pp.113-120
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• 2005

LCD-BLU(liquid crystal device-back light unit)에 사용되는 도광판의 미세 산란패턴을 만드는 새로운 방법으로서, 실리콘 웨이퍼의 비등방 식각에 의해 자연적으로 형성되는 3차원 결정면 구조를 이용하는 방법을 제안하였다. 실리콘 3차원 결정면을 갖는 도광판과 프리즘 시트의 원판을 설계 및 제작하였고, casting 공정을 통해 PDMS 재질로 복제된 도광판을 제작하여 특성을 분석하였다. 측정 결과, 기존 인쇄형 도광판에 비해 실리콘피라미드 패턴의 도광판이 $10\%$ 증가된 정면 휘도 효율을 가질 수 있음을 실험적으로 검증하였다.

• 센서학회지
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• 제26권1호
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• pp.28-34
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• 2017

An NIR grism Si optical area sensor spectrometer with in-band reference wavelength is designed and fabricated. It is composed of a transmission type diffraction grating (spatial density 300 line/mm), a rectangular N-BK7 prism (apex angle 30 degree), NIR filter(cutoff wavelength 720 nm), an imaging convex lens(focal length 50 mm F1.8) and an IR modified DSLR camera (Canon EOS40D) of Si optical area sensor ($3,888{\times}2,592$ pixels, pixel size $5.710{\mu}m$). "In-band reference wavelength function" is implemented using non-dispersive 0th diffraction order optical beam. The NIR grism spectrometer is tested in a laboratory using a halogen lamp and a Neon lamp. And the spectrometer is used in an astronomy field for obtaining the planet Jupiter NIR spectrum. In-band reference wavelength i.e. un-deviation wavelength is 846 nm, an wavelength resolution is 0.3027 nm/pixel, an wavelength resolving power is 2,794 and an wavelength range is 650~1,000 nm.