• Title/Summary/Keyword: ZnO:Al박막

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Structural and electrical properties of ZnO:Al, In thin film (ZnO:Al,In 박막의 구조적 및 전기적 특성)

  • 박경일;서무룡;홍범표;김정규;전춘배;박기철
    • Proceedings of the IEEK Conference
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    • 1998.06a
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    • pp.395-397
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    • 1998
  • NH$_{3}$ gas sensitive ZnO:Al, In thin films were prepared by the heat treatment following continuous deposition of very thin In layer and ZnO:Al layer to obtain the modified surface morphology for good sensitivity. Dependence of the structural electrical and optical properties of them on heat treatment temperature was investigated by x-ray diffraction, SEM, 4-point probe method and spectrophotometer.

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가스압 변화에 따라 flexible 기판상에 제작한 Al이 첨가된 ZnO 박막의 특성

  • Kim Gyeong-Hwan;Jo Beom-Jin;Geum Min-Jong
    • Proceedings of the Korean Society Of Semiconductor Equipment Technology
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    • 2006.05a
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    • pp.164-167
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    • 2006
  • In this paper, we prepared Al doped ZnO thin films by using facing targets sputtering method. Al doped ZnO thin film was deposited with different working pressure on flexible substrate. We prepared Al doped ZnO thin film at room temperature, because the flexible substrate has weak thermal resistance. From the results, we could obtain thin film with a resistivity of $8.4{\times}10^{-4}{\Omega}cm$, an average transmittance of over 80% and a film thickness of 200nm.

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ZnO Piezoelectric Thin Film Fabrication and Its Application as a Flow-rate Control Microvalve (ZnO 압전박막의 제조와 유량조절밸브로서의 응용)

  • 박세광
    • Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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    • 1989.06a
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    • pp.66-69
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    • 1989
  • After reviewing previous work done on two piezoelectric thin films(PZT, ZnO), ZnO thin piezofim of 1-3UM is fabricated by sputtering on the different substrates(i. e., P+Si/N-Si, SiO2/P+Si/ N-Si, Al/SiO2/ P+Si/ N+Si). The result shows that ZnO piezofilm on the Al has the best c-axis orientation. One of applications for the ZnO piezofilm as an microvalve to control liquid flow is introduced, and which can be controlled electrically and remotely.

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Optical properties of undoped ZnO films grown by PLD (PLD 법으로 성장한 undoped ZnO 박막의 성장온도에 따른 광학적 특성)

  • Kim, Ki-Hwi;Leem, Jae-Hyeon;Song, Yong-Won;Lee, Sang-Yeol
    • Proceedings of the KIEE Conference
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    • 2008.07a
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    • pp.1264-1265
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    • 2008
  • PLD 방법으로 undoped ZnO박막을 성장 온도별로 성장하여 박막의 광학적 특성이 변화되는 것을 관찰하였다. undoped ZnO박막은 $Al_2O_3(0001)$기판을 이용하였고, pulsed laser deposition(PLD)을 이용하여 증착을 하였다. 이때 파장이 355nm인 Nd:YAG 레이저를 이용하였고 레이저의 에너지 밀도는 1.4 $J/cm^2$ 이었다. 구조적 광학적 특성을 관측하기 위하여 XRD, SEM, PL 등을 측정하였다. PL 측정 결과 성장 온도가 증가함에 따라 undoped ZnO박막의 광학적 특성이 좋아지는 것을 관찰할 수 있었다. XRD 측정 결과도 온도별 FWHM과 intensity ratio가 점차 좋아지는 것을 볼 수 있었다.

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Effects of Sputter Pressure on the Properties of Sputtered ZnO:Al Films Deposited on Plastic Substrate (플라스틱 기판에 증착한 ZnO:Al 박막의 특성에 미치는 스퍼터 압력 효과)

  • Lee, Jae-Hyeong
    • Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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    • v.22 no.3
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    • pp.277-283
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    • 2009
  • In this paper, aluminum doped zinc oxide (ZnO:Al) thin films on plastic substrate such as poly carbonate (PC), polyethylene terephthalate (PET) were prepared by RF magnetron sputtering method for flexible solar cell applications. Effects of the sputter pressure on the structural, electrical and optical properties were investigated. The crystallinity and the degree of the (002) orientation were deteriorated with increasing the sputter pressure. When the sputter pressure was higher, the conductivity of ZnO:Al films was improved because of the high carrier concentration and the Hall mobility. High quality ZnO:Al films with resistivity as low as $1.9{\times}10^{-3}{\Omega}-cm$ and the optical transmittance over 80 % in the visible region have been obtained on PC substrate at 2 mTorr.

A Study on Properties of ZnO:Al Films on PC Substrate for Solar Cell Applications (태양전지 응용을 위한 PC 기판상의 ZnO:Al 박막 특성에 관한 연구)

  • Na, Young-il;Lee, Jae-Heong;Lim, Dong-Gun;Yang, Kea-Joon
    • Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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    • v.18 no.2
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    • pp.116-119
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    • 2005
  • Al doped ZnO thin films (ZnO:Al) were deposited on poly carbonate (PC) substrate by rf magnetron sputtering. In addition, the electrical, optical properties of the films prepared at various conditions were investigated. As the sputter power increased, the resistivity of ZnO:Al films decreased, regardless of substrate types. However, the resistivity of the films increased with the sputter pressure. The ZnO:Al films were increasingly dark gray colored as the sputter power increased, resulting in the loss of transmittance. High quality films with resistivity as low as 1.43${\times}$10$^{-4}$ Ω-cm and transmittance over 80 % have been obtained by suitably controlling the deposition parameters.

투명전도막 변화에 따른 CIGS 박막태양전지 특성에 관한 연구

  • Son, Gyeong-Tae;Kim, Min-Yeong;Kim, Gi-Rim;Kim, Jong-Wan;Sin, Jun-Cheol;Jo, Seong-Hui;Im, Dong-Geon
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2014.02a
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    • pp.486-486
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    • 2014
  • CIGS 박막태양 전지는 I-III-VI2 Chalcopyrite 결정구조를 가진 화합물 반도체 태양전지로 인위적인 밴드갭 조작이 용이하여 효율 향상에 높은 가능성을 보이고 있다. 4원소 화합물인 CIGS 광흡수층의 대표적인 제조 방법으로는 co-evaporation 공정법이 있다. 동시 증발법은 CIGS 결정을 최적화하기 위하여 박막이 증착되는 동안 기판의 온도를 3단계로 변화시켜주는 3-stage 공정을 통하여 제작된다. 일반적으로 CIGS 박막태양전지는 전면전극으로 투명전도막이 사용되며 높은 광투과성과 전기전도성을 가져야 한다. 투명전도막의 광학적, 전기적 특성은 CIGS 박막태양전지의 효율에 영향을 미치기 때문에 최적화된 조건이 요구된다. 본 연구에서는 CIGS 광흡수층은 Ga/(In+Ga)=0.31, Cu/(In+Ga)=0.86으로 최적화 시켰으며, 투명전도막은 Al이 도핑된 ZnO 박막을 RF 마그네트론 스퍼터링법을 이용하여 증착하였다. ZnO:Al 박막의 두께를 가변하여 증착하였으며 박막의 특성을 평가하고, CIGS 광흡수층에 이를 적용함으로써 태양전지 변환효율 특성을 연구하였다. CIGS 박막 태양전지의 투명전극인 ZnO:Al 박막의 두께가 500 nm 일 때, Jsc=29.521 mA/cm2, Voc=564 mV, FF factor=71.116%, Efficiency=12.375%의 광 변환효율을 얻을 수 있었으며, 이에 따른 투명 전도막의 전기적, 광학적 특성을 통해 CIGS 박막태양전지에 미치는 영향에 대해 조사하였다.

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증착 환경 변화에 따른 인이 첨가된 ZnO 박막의 물성연구

  • Jeong, Yeong-Ui;Lee, Seung-Hwan;Hwang, Seon-Min;Jo, Chang-U;Bae, Jong-Seong;Park, Seong-Gyun
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2012.08a
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    • pp.299-299
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    • 2012
  • 투명전도산화물 박막은 디스플레이, 태양전지, 압전소자 등 다양한 응용분야에 많이 이용되고 있는 소재이다. 그 중에서 현재 산업에서 활용 빈도가 높은 투명전도막의 재료는 ITO를 기반으로 하는 물질이다. 하지만 인듐의 높은 생산단가와 플라즈마 노출시 열화로 인한 문제점 때문에 기존의 ITO를 대체하기 위한 새로운 재료에 관심이 증대되고 있다. 본 연구에서는 대표적인 ITO 대체 물질 중의 하나인 ZnO 박막에 대해서 증착환경변화에 따른 물성변화를 조사하였다. 먼저 대기중에서 안정화된 ZnO 박막을 얻기 위해서 인(P) 2% 첨가된 ZnO 세라믹을 고상반응법으로 제작하고, 펄스레이저 증착법을 이용하여 Al2O3(0001)기판에 산소분압을 30~150 mTorr로 변화를 주어 P-ZnO 박막을 제작하였다. 이 때 증착온도는 $400^{\circ}C$로 고정하였다. X선 회절 결과로부터 산소분압에 상관없이 ZnO (002)방향으로 증착되었다. 하지만 결정립의 크기는 산소분압이 증가하면서 줄어들고, ZnO (002)피크로부터 얻어진 격자상수(c-축)는 벌크 값에 가까워짐을 알 수 있었다. 하지만 P첨가로 인해서 박막의 격자상수는 순수한 ZnO 벌크 값 보다 큰 것으로 알 수 있다. 산소분압 변화에 따른 P-ZnO 박막의 산화 상태는 X-선 광전자 분광기를 이용하여 측정하였다. 그 결과 산소 core-level의 스펙트럼은 자연산화, 산소 vacancy, Zn-O 결합으로 구성되어짐을 알 수 있었다. 산소분압이 증가하면 Zn-O 결합은 증가하지만 산소 vacancy는 감소함을 알 수 있었다. 전기적 특성 결과 P-ZnO 박막은 30 mTorr에서는 n형 반도체 특성, 100 mtorr에서 p형 반도체의 특성이 나타내었고, 산소분압이 증가하면 다시 n형 반도체 특성을 나타냄을 알 수 있었다. 광학적 특성 결과 P-ZnO 박막은 산소분압에 상관없이 가시광선 영역에서 80%이상의 투과율을 나타내었으며, 산소분압이 증가할수록 에너지 갭이 증가하였다.

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Cr 함량이 ZnCrO 박막의 구조 및 자기적 특성에 미치는 영향

  • Lee, Hwang-Ho;Kim, Chang-Min;Lee, Byeong-Ho;Choe, Gyeong-San;An, Jang-Hun;U, Bin;Lee, Yeong-Min;Lee, Se-Jun;Kim, Deuk-Yeong
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2014.02a
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    • pp.282.2-282.2
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    • 2014
  • Cr의 함량과 주입 가스의 유량 비율을 변화하여 ZnCrO 박막의 구조적 특성에 미치는 영향과 그것이 자기적 특성에 관여하는 상관관계 등에 관하여 조사하였다. ZnCrO 박막을 Pt/Ti/Al2O3 기판 위에 Sputter법으로 증착하였으며, 이 때 양질의 ZnCrO 박막을 제작하기 위하여 산소 분압 변화에 따른 박막의 표면 및 구조적 특성을 관찰하였다. 아르곤과 산소 분압이 1 : 1 (Ar : O2=15 sccm : 15 sccm) 이었을 경우, 가장 매끄러운 표면을 갖고 또한 구조적으로도 안정된 ZnCrO 박막을 얻을 수 있었다. 동일한 조건에서 Cr 함량을 변화시켜 본 결과, Cr 함량이 작아질수록 자기적 특성이 향상되는 것이 관측되었다. 즉, Cr의 함량이 감소할수록 Cr 입자 1개 당 유효 자화도가 증가하는 것이 관측되었는데, 이러한 결과는 Cr 함량 변화에 따는 ZnCrO 박막의 결정 자기이방성 변화에 따른 것이다.

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Thickness Dependance of Al-doped ZnO Thin Film on Polymer Substrate (폴리머 기판상의 Al-doped ZnO 박막의 두께에 따른 특성 변화)

  • Kim, B.S.;Kim, E.K.;Kang, H.I.;Lee, K.I.;Lee, T.Y.;Song, J.T.
    • Journal of the Korean Vacuum Society
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    • v.16 no.2
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    • pp.105-109
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    • 2007
  • In this paper, we fabricated TCO (transparent conductive oxide) electrode on flexible substrate in order to study effects of electrical and optical properties according to Al-doped ZnO(AZO) film thickness. The thickness of film was from 100 nm to 500 nm and was controlled by changing deposition time. We used High Resolution X-ray Diffractometer (HR-XRD) to analyze crystal structure and UV-visible spectrophotometer to measure property of optical transmittance, respectively. The surface images are obtained by using ESEM (Environment Scanning Electron Microscopy). In this experiment, all the AZO films deposited on flexible substrate show high transmittance over 90% and especially in the films with 400 nm and 500 nm thickness, the resistivity ($4.5{\times}10^{-3}\;{\Omega}-cm$) and optical bandgap energy (3.61 eV) are superior to the other films.