• Optical Science and Technology
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• v.12 no.1
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• pp.56-61
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• 2008

• Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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• 2007.02a
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• pp.13-14
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• 2007

• Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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• 2006.07a
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• pp.461-462
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• 2006

• Optical Science and Technology
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• v.12 no.1
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• pp.42-48
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• 2008

• Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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• v.5 no.1
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• pp.45-54
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• 1998

본 연구에서는 열벽성장법에 의해 ZnSe 에피막을 GaAs 기판에 성장하고 double crystal x-ray diffractometer와 Photoluminescence (PL) 등의 장치를 이용하여 구조족, 광학 적 특성을 연구하였다. x-선 반치폭과 PL피크강도로부터 최적의 기판온도가 34$0^{\circ}C$임을 알 수 있었다. 또한 기판온도, 열벽부온도, 원료부온도, 성장시간등의 성장조건이 표면거칠기 성 장률, x-선 반치폭, PL 피크강도 등에 미치는 영향에 대하여 살펴보았다. 최적 성장조건하 에성장된 ZnSe 에피막의 x-선 반치폭은 149sec로 나타났는데 이는 HWE 성장법으로 성장 된 ZnSe 에피막에 대하여 보고된 수치 중 가장낮은 값이다. PL 스펙트럼에서 I2 피크와 DAP 피크의 강도는 높고, SA 피크의 강도는 낮다는 사실로부터 본 연구에서 성장된 ZnSe 에피막의 결정질이 매우 우수함을 확인하였다.

• Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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• 2007.07a
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• pp.21-22
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• 2007

The periodic multilayer is considered as the X-ray reflection mirror. High X-ray reflectivity from the incident angle greater than the grazing critical angle can be obtained by the periodic multilayer structure. The Optical constants are investigated in order to determine the material for X-ray reflection mirror. The X-ray reflection mirror is designed for W, Si using computer simulation. The reflectivity is calculated for various incident angles and ratio of thickness.

• Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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• 2000.02a
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• pp.22-23
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• 2000

강한 레이저 펄스에 의해 만들어진 플라즈마를 사용하여 연엑스선(soft X-ray, 10-300 $\AA$) 광원을 얻으려는 노력은 주로 고체나 기체 표적에 대한 것이었다. 최근에 이르러 기체의 단열 팽창에서 생기는 원자 송이(atomic cluster)를 표적으로 하는 연구 결과들이 발표되었다. $^{(1).(2)}$ 원자 송이는 국소적으로는 고체에 가까운 밀도를 가지고 있어서 효율적으로 레이저 에너지를 흡수하는 반면, 전체적으로는 기체 상태에 있기 때문에 파편이 적고, 기체의 압력과 온도를 변화시킴으로써 송이의 크기를 조절할 수 있다. (중략)

• Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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• 2006.07a
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• pp.323-324
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• 2006

• Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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• 2004.02a
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• pp.344-345
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• 2004

• Korean Journal of Optics and Photonics
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• v.7 no.2
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• pp.89-95
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• 1996

Superresolution optics, employing Gaussian apodization, is rigorously treated at the soft X-ray wave-length(λ=0.013 ${\mu}{\textrm}{m}$) region. In the diffraction integral, the line integral along the imaginary axis is found small, and it is ignored, so that the diffraction integral consists of the integration along the real axis. The resolution of the diffracted image is not effected by the pupil angular frequency bandwidth $2{\omega}_0$, which is one of the most important the characteristic features of Gaussian apodization ($e^{-o^2x^2}$ optics. The superresolution optics has resolution ($\frac{1}{2}{\times}FWHM)$=$\Delta$x=0.008 $\mu$m which is smaller than the Rayleigh criterion of 2λ=0.026 ${\mu}{\textrm}{m}$ for NA=0.25. The optical system has ${\omega}_0{\ge}\frac{1}{2}{\sigma}$, which gives the peak intensity of the diffracted image larger than $e^{-2}$ times intensity obtainable by the infinite sperture.