• 제목/요약/키워드: W-N thin film

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고주파 반응성 스퍼터링에 의해 제작된 InN 박막의 특성 (Characteristics of InN thin fabricated by RF reactive sputtering)

  • 김영호;최영복;정성훈;홍필영;문동찬;김선태
    • 한국전기전자재료학회논문지
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    • 제11권7호
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    • pp.527-534
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    • 1998
  • Thin film deposition of InN, which is a less-studied III-nitride compound semiconductor because of the difficulty if crystal growth, was performed by rf reactive sputtering method using In target and $N_2$reactive gas. The structrual, electrical, and optical properties of the produced films were measured and disussed according to the sputtering parameters such as deposition pressure, rf power, and substrate temperature. From the result of deposition pressure, rf power, and substrate temperature, we could obtain optimal conditions of 5m Torr, 60W, $60^{\circ}C$ for preparing InN thin film with high crystallinity, low carrier concentration, and high Hall mobility. The carrier concentration, Hall mobility, and optical bandgap of the fabricated InN thin films at optimal condition were $6.242\times10^{18}cm^{-3}, 212.526cm^2/V\cdot$s, and 1.912eV, respectively.

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Modified PZT계 박막과 bulk의 초전 및 유전특성 비교 (Pyroelectric and dielectric properties of the modified PZT thin films and bulk ceramics)

  • 김경우;강동헌;신상현;조수철;김영호;길상근
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2002년도 하계학술대회 논문집 Vol.3 No.2
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    • pp.743-745
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    • 2002
  • Pyroelectric and dielectric properties of modified PZT thin film and bulk ceramics were studied. In case of bulk specimens were prepared by conventional ceramic process and thin films with same composition and (111) preferred orientation were prepared by the sol-gel process. Their crystal structure, pyroelectric and dielectric properties were investigated after poling at $150^{\circ}C$ for 30 min for bulk ceramics and no poling treatment, respectively. Dielectric constants and losses of bulk and thin film were 600, 875 and 0.028, 0.025, respectively. Pyroelectric coefficients obtained were $50nC/cm^2K$ and $30nC/cm^2K$, respectively.

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질화물 박막을 이용한 단결정 $\beta$-SiC의 고온 ohmic 접촉 연구 (High Temperature Ohmic Contacts to Monocrystalline $\beta$-SiC Thin Film Using Nitride Thin Films)

  • 최연식;나훈주;정재경;김형준
    • 한국재료학회지
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    • 제10권1호
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    • pp.21-28
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    • 2000
  • 내열금속인 W, Ti와 이들의 질화물인 $W_2$N, TiN 박막을 이용하여 탄화규소 ohmic 접촉을 연구하였다. 열처리 온도에 따른 고온 안정성과 전기적 특성 및 상호 확산 억제 특성을 고찰함으로써 이들 질화물의 고온에서 안정한 ohmic 접촉으로 이용가능성을 조사하였다. 새로운 유기화합물 원료인 bis-trimethylsilylmethane을 이용하여 화학기상 증착법으로 증착한 단결정 $\beta$-SiC 박막과 W이 가장 낮은 접촉 비저항, 2.17$\times$10(sup)-5Ω$\textrm{cm}^2$를 보였으며, Ti 계열은 상대적으로 높은 접촉 비저항 값을 나타내었다. 이들 전극 위에 산화 방지막으로 Pt 박막을 증착함으로써 전극의 산화를 막을 수 있었으며, 질화물 전극은 고온에서 금속접촉에 비해 안정한 전기적 특성을 나타내었고, 상호 확산 방지 특성 면에도 우수한 특성을 지니고 있음을 알 수 있었다.

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니켈페라이트 박막 NxFe3-xO4를 이용한 선글라스 렌즈의 자외선 차단효과에 대한 연구 (A Study of cut off effect of ultraviolet in sunglasses lens coated with nickel-ferrite thin film NxFe3-xO4)

  • 하태욱;이용희;최경서;차정원
    • 한국안광학회지
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    • 제8권2호
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    • pp.25-29
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    • 2003
  • 자외선과 전자파를 동시에 차단하는 선글라스렌즈를 제작하기 위하여 유리가판 위에 자성재료인 페라이트에 Ni를 여러 가지 조성비로 첨가한 니켈페라이트 박막 $Ni_xFe_{3-x}O_4$을 페라이트 도금법으로 제작하였다. 이들은 모두 스피넬 구조의 단일상임을 확인할 수 있었으며 육안으로 관찰할 때 거울면과 같은 광택을 가졌으며, 손톱으로 긁었을 때 흠집이 생기지 않는 강도를 보였다. 니켈페라이트는 400nm 부근에서부터 급격히 투과율이 떨어져 자외선을 차단하는데 효과적인 양상을 보이고 있으며 그 중에서 x = 0.09의 Ni 조성비가 자외선 차단효과가 가장 좋은 깃으로 나타났다. 이는 타사제품과 비교하여 자외선 차단효과는 크게 떨어지지 않으므로, 전자파 차단효과가 있는 $Ni_xFe_{3-x}O_4$ 페라이트를 코팅한 선글라스를 착용함으로서 유해전자파와 자외선을 동시에 차단하는 효과를 얻을 수 있을 것이다.

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$(Bi,;Sb)_2;(Te,;Se)_3$계 박막의 열전 특성 및 온도 센서로의 응용 (Thermoelectric properties of $(Bi,;Sb)_2;(Te,;Se)_3$-based thin films and their applicability to temperature sensors)

  • 한승욱;김일호;이동희
    • 한국진공학회지
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    • 제6권1호
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    • pp.69-76
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    • 1997
  • 순간 증착법으로 $Bi_{0.5}Sb_{1.5}Te_3$(p형)와 $Bi_2Te_{2.4} Se_{0.6}$(n형) 박막을 제조하여 두께와 어닐 링 조건에 따른 Seebeck 계수, 전기전도도, carrier 농도 및 이동도, 열전도도, 성능지수의 변화 등 열-전기적 특성을 조사하였다. 473K에서, 1시간 진공 열처리한 결과 p형과 n형의 성능지구는 각각 $1.3{\times}10^{-3}K^{-1}$$0.3{\times}10^{-3}K^{-1}$으로 향상되었으며 두께에 크게 의존하지 않았 다. 이런 성질을 갖는 열전 박막을 소자화한 박막 온도 센서를 유리와 Teflon기판 위에 제 조하였으며, 이들의 온도 변화에 대한 열기전력, 민감도 및 시간 상수 등 센서 특성을 측정 하였다. p 및 n형의 leg 폭 1mm$\times$길이 16mm인 박막 온도 센서의 경우, Teflon 기판일 때 좋은 성능을 나타내었으며, 민감도는 2.91V/W, 시간 상수는 28.2초이었다.

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ST 세라믹 박막의 Ca 치환량에 따른 특성 (Properties with Ca Substitutional Contents of ST Ceramic Thin Film)

  • 오용철;김진사;조춘남;신철기;송민종;최운식;소병문;김충혁
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2005년도 하계학술대회 논문집 Vol.6
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    • pp.160-161
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    • 2005
  • The $(Sr_{1-x}Ca_x)TiO_3$(SCT) thin films are deposited on Pt-coated electrode (Pt/TiN/$SiO_2$/Si) using RF sputtering method with substitutional contents of Ca. The optimum conditions of RF power and $Ar/O_2$ ratio were 140[W] and 80/20, respectively. Deposition rate of SCT thin film was about 18.75$[{\AA}/min]$. The dielectric constant was increased with increasing the substitutional contents of Ca, while it was decreased if the substitutional contents of Ca exceeded over 15[mol%]. All SCT thin films used in this study show the phenomena of dielectric relaxation with the increase of frequency, and the relaxation frequency is observed above 200[kHz].

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W-TiN 복층 전극 소자에서 TiN 박막 형성 조건에 따른 특성 분석 (Characteristics of W-TiN Gate Electrode Depending on the Formation of TiN Thin Film)

  • 윤선필;노관종;양성우;노용한;김기수;장영철;이내응
    • 한국진공학회지
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    • 제10권2호
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    • pp.189-193
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    • 2001
  • TiN을 불소의 확산 방지막으로 사용한 W-TiN 복층 게이트 소자의 물리적.전기적 특성 변화를 살펴보았다. TiN 스퍼터링 증착시 $N_2$/Ar 가스 비율이 증가할수록 TiN 박막은 N-과다막이 되어 비저항이 증가하였으나, W-TiN복층 구조에서는 $N_2$/Ar가스 비율이 증가할수록 상부 텅스텐 박막의 결정화가 증가하여 비저항이 감소하였다. 한편, 같은 $N_2$/Ar 비율의 경우, TiN 박막 열처리 온도 변화(600~$800^{\circ}C$)에 무관하게 W(110) 방향으로 우선 배향된 결정 구조를 보였다. 누설 전류 특성은 TiN증착시 $N_2$/Ar 비율 변화에 무관하게 우수하였으며, TiN을 확산 방지막으로 사용함으로서 순수 텅스텐 전극만을 적용시 나타나는 초기 저전계 누설 특성을 향상시킬 수 있음을 확인하였다.

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반응성 RF 마그네트론 스퍼터링으로 증착한 AlN 박막의 특성에 질소농도 변화가 미치는 영향 (Effect of nitrogen concentration on the microstructures of AlN thin films fabricated by reactive RF sputtering)

  • 임동기;김병균;정석원;노용한
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2008년도 하계학술대회 논문집 Vol.9
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    • pp.367-367
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    • 2008
  • Aluminum nitride (AlN) thin films have been deposited on Si substrate by using reactive RF magnetron sputtering method in a gas mixture of Ar and $N_2$ at different $N_2$ concentration. It was found that $N_2$ concentration was varied in the range up to 20-100%, highly c-axis oriented film can be obtained at 50% $N_2$ with full width at half maximum (FWHM) $4.5^{\circ}$. Decrease in surface roughness from 7.5 nm to 4.6 nm found to be associated with decrease in grain size, with $N_2$ concentration; however, the AlN film fabricated at 20% $N_2$ exhibited a granular type of structure with non-uniform grains. The absorption peak was observed around 675 $cm^{-1}$ in fourier transform infrared spectroscopy (FTIR). It is concluded that the AlN film deposited at $N_2$ concentration of 50% exhibited the most desirable properties for the application of high-frequency surface acoustic devices.

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플라즈마 화학 증착에서 증착압력에 따른 TiN 박막의 성장거동 (The Study on the Behavior of TiN Thin Film Growth According to Deposition Pressure in PECVD Process)

  • 이종훈;남옥현;이인우;김문일
    • 열처리공학회지
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    • 제5권2호
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    • pp.95-102
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    • 1992
  • In this study, we tried to describe the quantitative model of TiN film structure which was deposited by PECVD process. The macro-grain growth behavior was studied at the various deposition pressures and times. As a result, It was confirmed that TiN films had the typical Zone 1 structure, and macro-columnar grains were, without reference to the deposition pressure, grown ballistic type by the growth-death competition following the equation, $Y=aX^2$, approximately obtained by regression analysis. Also, the thickness and the crystallization of TiN thin films were increased, the chlorine contents were decreased according to the decreasing of deposition pressure.

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