• 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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• 한국전기전자재료학회 2003년도 추계학술대회 논문집 Vol.16
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• pp.469-472
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• 2003

The nematic liquid crystal (NLC) aligning capabilities using a-C:H thin film deposited at the three kinds of rf bias condition were investigated. A high pretilt angle of about $11^{\circ}$ by the ion beam alignment method was observed on the a-C:H thin film (polymer-like carbon) deposited at 1W rf bias condition, and the low pretilt angle of the NLC was observed on the a-C:H thin film(diamond-like carbon) deposited at rf 30W and 60W bias condition. Consequently, the high NLC pretilt angle and the good aligning capabilities of LC alignment by the IB alignment method on the a-C:H thin film deposited at 1W rf bisa condition can be achieved.

• 한국진공학회지
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• 제9권3호
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• pp.233-236
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• 2000

TFT-LCD(thin film transistor-liquid crystal display) 패널의 데이터 배선 재료로 사용하기 위하여 AlW(3 wt%)의 Al합금 박막을 dc 마그네트론 스퍼터링 방법으로 유리 기판에 증착하여 열처리전과 열처리 후의 박막 특성을 조사하였다. 또한 TFT-LCD의 식각 공정상에서 발생할 수 있는 chemical attack에 대한 저항성을 확인하기 위하여 순환전압전류법(cyclic voltammetry)을 사용하여 Ag/AgCl 전극에 대한 ITO와 AlW alloy의 전극 전위를 측정하였다. 증착된 박막을 $350^{\circ}C$에서 20분간 열처리하였을 때 AlW 박막은 비저항이 감소하였고 약 $11\;{\mu\Omega}cm$의 다소 높은 비저항 특성을 보였다. 주사전자현미경(SEM)과 원자힘현미경(AFM)으로 표면을 분석한 결과 좋은 힐록방지 특성을 보임을 알 수 있었다. 순환전압전류법을 사용하여 측정한 Ag/AgCl 에 대한 ITO의 전극 전위은 약 -1.8V이었고, AlW alloy의 전위 전극은 W의 wt.%가 3% 이상이었을 때, ITO의 전극 전위보다 작게 나타났다. 따라서 측정된 특성 값을 볼 때 AlW(over 3 wt.%) 박막은 data bus line으로 사용할 수 있는 것으로 나타났다.

• 한국재료학회지
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• 제4권6호
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• pp.715-722
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• 1994

"Smart window"에 코팅재료로 쓰이는 thermochromic $Vo_{2}$박막을 전자빔 증착 방법으로 유리 기판위에 증착시켜 $0^{\circ}C$-$90^{\circ}C$ 온도범위에서 가시광 및 근적외선의 투과율을 spectrophotometer로 측정하였다. $300^{\circ}C$의 기판온도와 $400^{\circ}C$ 어닐링 온도가 $VO_{2}$ 박막이 결정화되기 때문인 것으로 확인되었다. 또한, $VO_{2}$박막을 알곤중에서 어닐링하면 500nm이하의 파장에서는 그 투과율이 상당히 낮아지는 것으로 나타났다. W가 5a/0첨가된 $V_{0.95}W_{0.05}O_{2}$박막은 약 $0^{\circ}C$의 천이돈도를 나타내었고 Sn이 0.5a/o $V_{0.995}W_{0.005}O_{2}$박막의 경우에는 $300^{\circ}C$의 기판온도에서 증착한 후 $450^{\circ}C$/5시간 동안 알곤가스 중에서 어닐링하였을때 뚜렷한 thermochromism을 나타내었으며 이 박막의 천이온도는 실용가능한 온도인 약 $25^{\circ}C$로 발견되었으며 약간의 이력곡선이 나타났다.력곡선이 나타났다.

• 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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• 한국전기전자재료학회 2002년도 하계학술대회 논문집
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• pp.22-25
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• 2002

In this paper, we deposited MgO buffer layer on p-type (100)Si substrate in the condition of substrate temperature 400$^{\circ}C$, working gas ratio Ar:O$_2$=80:20, RF Power 50W, working pressure 10mtorr, and the thickness of the film was about 300${\AA}$. Then we deposited Ba$\sub$0.5/Sr$\sub$0.5/TiO$_3$ thin film using RF Magnetron sputtering method on the MgO/Si substrate in various RF power of 25W, 50W, 75W. The film deposited in 50W showed the best crystalline from the XRD measurement. To know the electrical properties of the film, we manufactured Al/BSTMgO(300${\AA}$)/Si/Al structure capacitor. In the result of I-V measurement, The leakage current density of the capacitor was lower than 10$\^$-7/A/$\textrm{cm}^2$ at the range of ${\pm}$150kV/cm. From C-V characteristics of the capacitor, can calculate the dielectric constant and it was 305. Finally we deposited BST thin film on bare Si substrate and (100)MgO substrate in the same deposition condition. From the comparate of the properties of these samples, we found the properties of BST thin film which deposited on MgO/Si substrate were better than on bare Si substrate and similar to on MgO substrate.

• 한국자기학회지
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• 제16권1호
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• pp.75-78
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• 2006

텅스턴-보론-카본질소 화합물 박막(W-B-C-N)을 만들기 위하여 박막내에 보론과 카본 그리고 질소의 불순물을 주입한 다음 결정구조를 조사하였으며, 이러한 박막의 식각 특성을 조사하기 위하여 고온에서 열처리한 다음 Cu박막을 W-B-C-N 박막위에 증착한 다음에 열처리하였고 여기에서 열적인 특성을 조사하였다. $1000\;{\AA}$의 박막을 RF magnetron sputtering방법을 이용하여 증착한 후에 박막의 전기적구조적인 특성을 측정하였으며, scratch test를 통해 박막의 결합력을 측정하였고, XRD측정을 통하여 결정성을 조사하였으며, 열처리한 후 etching을 하여 nomarski 현미경을 통하여 확산방지막의 안정성을 조사하였다. 이로부터 확산방지막내의 보론과 카본 질소 등의 불순물이 들어감에 따라 Cu가 Si 속으로 얼마나 들어가는가를 효과적으로 조사하였다. W-B-C-N 확산방지막의 역할은 $850^{\circ}C$까지 고온 열처리를 하는 경우에 Cu 원자가 Si 속으로 확산되어 나가는 것을 효과적으로 방지하는 것을 알 수 있었다. 텅스텐-보론-카본질소 화합물 박막의 비저항은 질소 가스의 유량비를 조절함으로써 쉽게 조절할 수 있었으며, 텅스텐-보론-카본-질소 화합물 박막은 Cu 확산방지막으로 적용했을 때 적절한 질소 농도가 들어간 확산방지막에서는 효과적으로 Cu의 확산을 방지하는 것을 알 수 있었다.

• 전기화학회지
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• 제6권4호
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• pp.236-241
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• 2003

Magnetic CoW thin film alloys were electrodeposited from citrate baths to investigate the resulting microstructure and magnetic properties. Deposit tungsten (W) content in the films electrodeposited at $70^{\circ}C$ were independent of current density, while coercivity decreased from hard $(H_{c,//}\~150\;Oe\;and\;H_{c.{\bot}}\;\~240\;Oe)$ to soft magnetic properties $(H_{c,//}\~20\;Oe\;and\;H_{c.{\bot}}\;\~30\;Oe)$ with increasing current densities from $10\;to\;100mA{\cdot}cm^2$, with deposit W content $(\~40\%)$ relatively unaffected by the applied current density. X-ray diffraction analysis indicated that hcp $Co_3W$ phases [(200), (201) and (220) planes] in the CoW films electrodeposited at $70^{\circ}C\;and\;10mA{\cdot}cm^{-2}$ were dominant, whereas amorphous CoW phases with small amount of hcp $Co_3W$ [(002) planes] were dominant with deposition at $70^{\circ}C\;and\;100mA{\cdot}cm^{-2}$. At intermediate current densities $(25\;and\;50mA{\cdot}cm^{-2}),\;hop\;Co_3W$ phases [(200), (002), (201) and (220)] were observed. The average grain size was measured to be 30 nm from Sheller formula. It is suggested that the change of the deposit coercivities in the CoW thin films electrodeposited at $70^{\circ}C$ is attributed to the change of microstructures with varying the current density. Nanostructured $Co_3W/amorphous-CoW$ multilayers were fabricated by alternating current density between 10 and $100 mA{\cdot}cm^{-2}$, varying the individual layer thickness. The magnetic properties of $Co_3W/amorphous-CoW$ multilayers were strongly dependent on the thickness of the alternating hard and soft magnetic thin films. The nanostructured $Co_3W/amorphous-CoW$ multilayers exhibited a shift from low to high coercivities suggesting a strong coupling effect.

• 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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• 한국전기전자재료학회 2001년도 하계학술대회 논문집
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• pp.566-569
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• 2001

In this paper, we investigated the electrical characteristics through DC power at manufacturing the MIS capacitor insulator AIN thin film based on reactive sputtering method. In case of deposition temperature 250$^{\circ}C$, pressure 5mTorr, total flow rate 8sccm(Ar:4sccm N2:4sccm), AIN thin film was deposited with changing DC power. As DC power increses, resistivity is observed a little increase. When AIN thin film is deposited at 100W, the result shows leakage current 10$\^$-8/A/$\textrm{cm}^2$ at 0.1MV/cm. Otherwise, In case of depositing at 150W and 200W, the result shows that the characteristic of leakage current is under 10$\^$-9//$\textrm{cm}^2$ at 0.1MV/cm. In C-V characteristic with DC power, deep depletion phenomenon is observed at inversion region in 100W and 150W. In 200W, that phenomenon, however, was showed to decrease. It shows that the hysterisis increases with being increasing DC power.

• 한국진공학회:학술대회논문집
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• 한국진공학회 2003년도 제24회 학술발표회 초록집
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• pp.70-70
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• 2003

• 한국결정성장학회지
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• 제13권6호
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• pp.297-303
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• 2003

rf magnetron sputtering법을 이용하여 Mn-Ni-Co계 써미스터 박막을 증착하였다. $300^{\circ}C$ 및 $Ar/O_2$ = 10/0에서, cubic spinel 상형성이 이루어졌으며 공정가스에 산소 첨가 시, cubic spinel 상은 열처리를 통해서도 형성되지 않았다. 써미스터 박막은 Mn, Ni, Co 성분 외 다른 이종 성분은 포함되어 있지 않았다. 써미스터 박막에 대한 적외선 반사 특성을 분석으로 증착된 박막은 일정 각도로 입사되는 적외선에 대해 비교적 높은 반사율을 가짐을 관찰할 수 있었다. DI water : $HNO_3$: HCI=60 : 30 : 10 vo1%에서 써미스터 박막의 식각 속도는 약 63 nm/min였다. 박막 써미스터의 B상수는 약 3500 K였으며 TCR은 약 -3.95%/K였다 전압감도는 약 108.5 V/W였으며 NEP와 specific detectivity는 각각 $5.1\times 10^{-7}$ W/$Hz^{-1/2}$ $0.2\times 10^6$cm $Hz^{1/2}$/W였다.

• 전기학회논문지
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• 제56권4호
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• pp.751-755
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• 2007

We have studied the variable conditions of reactive sputtering to prepare AM thin film. The leakage current showed below $10^{-9}A/cm^2$ at the deposition temperature of $250^{\circ}C\;and\;300^{\circ}C$ in the field of 0.1 MV/cm, and it was gradually increased and to be saturated in 0.2 MV/cm. The C-V characteristics of the above mentioned deposition temperature conditions showed a deep depletion phenomenon at inversion region. The C-V characteristics showed similarly under the DC power conditions of 100 and 150 W but were degraded at 200W. When the DC power was 100, 200, and 300 W the dielectric breakdown phenomenon was shown in 2.8, 3.2 and 5.2 MV/cm, respectively. It was found that AIN film was dominated by Poole-Frenkel conduction mechanism.