• 대한교통학회지
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• 제28권3호
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• pp.119-130
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• 2010

교통사고의 재구성 해석은 도로와 사고흔적, 자동차 손상 등 다양한 자료들을 분석함으로서 이루어진다. 대부분의 자료들은 사고 해석에서 변수로 작용하며, 측정으로부터 구해지는 자료들은 조사자와 도구, 주어진 환경 등에 의해 측정 오차가 발생된다. 따라서 사고해석에서는 측정 오차에서 비롯되는 불확실성이 항상 존재한다. 본 연구는 불확실성이 존재할 가능성이 매우 높은 도로 기하구조와 타이어 흔적 등 길이와 마찰계수 등에 대해 반복 측정 실험을 함으로서 교통 사고해석에서의 불확실성을 정량화하였다. 또한 자동차 충돌 변형량의 사진 계측에 대한 불확실성에 대해서도 해석 결과를 제시하였다. 이러한 통계학적 분포들은 사고 재구성 불확실성을 추정하기 위해 입력 계수의 적절한 범위를 결정하는 것을 도울 수 있다.

• 한국광학회지
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• 제9권6호
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• pp.362-367
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• 1998

중심거리측정법은 서로 붙어있는 두 입자 중심점간의 거리를 측정하여 입자의 지름을 구하는 방법이다. 표면장력에 의해 배열이 형성된 시편 입자들의 초점군을 투과식 광학현미경에 평행 레이저광을 입사시켜 얻어내고 CCD 카메라로 영상을 받아 전산 분석하였다. Global lab image라는 영상처리 프로그램으로 초점들의 중심점을 찾고 붙어있는 입자들의 중심점간 거리를 화소(CCD 카메라의 pixel)단위로 계산하였으며, 화소의 좌표는 레이저 간섭계로 변위를 읽는 이송대를 이용하여 교정하였다. 기존의 측정방법을 개선하여 빠른 시간에 간편하게 측정하면서도 표준입자의 배율고정에 충분한 불확도를 얻을 수 있었다. 본 실험에는 NIST 인증물질인 3$\mu\textrm{m}$와 10$\mu\textrm{m}$ 폴리스티렌구(NIST SRM 1962, 1960)를 측정하였으며, 1%이하의 불확도(신뢰도 99% 수준)로써 NIST 결과와비교하였다.

• 대한안전경영과학회지
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• 제4권1호
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• pp.37-47
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• 2002

Risk analysis is a formal deductive procedure for determining combinations of component failures and human errors that could result in the occurrence of specified undesired events at the system level. This method can be used to analyze the vast majority of industrial system reliability problems. This study deals with the application of knowledge-engineering and a methodology for the assessment ＆ measurement of reliability, availability, maintainability, and safety of industrial systems using FTA(fault tree analysis), A fuzzy methodology for fault-tree evaluation seems to be an alternative solution to overcome the drawbacks of the conventional approach (insufficient Information concerning the relative frequencies of hazard events). To improve the quality of results, the membership functions must be approximated based on heuristic considerations, The purpose of this study is to describe the knowledge engineering approach, directed to integrate the various sources of knowledge involved in a FTA.

• 전기학회논문지
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• 제58권2호
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• pp.369-372
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• 2009

When measuring the luminous flux of a light source at the integrating sphere photometer, it can know the luminous flux to compare the standard lamp with the specimen lamp at the same location. But in case of PLS(plasma lighting system, microwave discharged lamp), that two lamps are cannot be the same location. If the reference illuminant and specimen lamp are cannot measure identical location, we should measure the variation of the luminous flux. For the outcome we can turn out a correction factor to revise and reflect it. But the better way is calibrate the specimen lamp locate the identical location of reference illuminant measured. In this thesis, we've test to find the correction factor for consider that change the measuring location. And it turns out the correction factor. From this, it presents the result to make a select for the reference illuminant which is against the illuminant type for newly produce.