Kim, Sang-Su;Jang, Ki-Wan;Han, Chang-Hee;Lee, Ho-Sueb;Kim, Won-Jeong;Choi, Eun-Kyung;Park, Mun-Heum
Korean Journal of Materials Research
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v.13
no.5
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pp.317-322
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2003
Bismuth layered structure ferroelectric thin films, $Bi_4$$Ti_3$$O_{12}$ / (BTO) and Nb-doped BTO (BTN) were prepared on the Pt(111)/Ti/$SiO_2$/Si(100) substrates by a sol-gel route. We investigated the Nb-doping effect on the grain orientation and ferroelectric properties. $Nb^{5+}$ ion substitution for $Ti^{4+}$ ion in perovskite layers of BTO decreased the degree of c-axis orientation and increased the remanent polarization (2Pr). The fatigue resistance of Nb-doped BTO thin film was shown to be superior to that of BTO, and the leakage current of Nb-doped BTO thin film was decreased about 1 order of magnitude compared with BTO. The improvement of ferroelectric properties with $Nb^{5+}$ doping in BTO could be attributed to the changes in space charge densities and grain orientation in the thin film.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2015.08a
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pp.178.1-178.1
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2015
In and Ga doped ZnO (IGZO) thin films were prepared by radio frequency magnetron sputtering without intentional substrate heating on glass substrate and TiO2-deposited glass substrates to consider the effect of a thin TiO2 buffer layer on the optical and electrical properties of the films. The thicknesses of the TiO2 buffer layer and IGZO films were kept constant at 5 and 100 nm, respectively. Since the IGZO/TiO2 bi-layered films show the higher FOM value than that of the IGZO single layer films, it is supposed that the IGZO/TiO2 bi-layered films will likely perform better in TCO applications than IGZO single layer films.
Effect of MoO3 additiion on the semiconductive BaTiO3 ceramics doped with 0.2 mole% Nb2O5 and their frequency characteristics have been investigated on the view of intergranular barrier layer model through the observation of changes in their electrical properties. The resistivity increases with the increase of MoO3 addition, but the capacitance, the frequency dependence of capacitance and the effect of positive temperature coefficient of resistivity (PTCR) decrease. It is explained by the possible increase in the thickness of potential barrier due to the formation of insulating layer and thus decrease in the degree of energy band bending. Both the PTCR effect and resistivity decrease with the increase of frequency due to the possible elimination of barrier layer at the grain boundary.
The formation and thermal properties of the $BaO_2$ and $TiO_2$ mixtures were prepared by mechanical alloying method was investigated by X-ray diffractometry (XRD), scanning electron microscopy (SEM), and thermogravimetric/differential thermal analysis (TG/DTA). The rotating speed of 750 rpm shows more effects on the formation of $BaTiO_3$ single phase. The internal strain calculated using Williamson-Hall method was $4.27{\times}10^{-3}$ for the mixture milled for 300 min, the crystallite size was calculated using the Scherrer method decreased with milling time. The $BaTiO_3$ crystal improved crystallinity was formed by thermal annealing at a temperature of $600^{\circ}C$ for 1 h for the mixture milled for 300 min.
Ti-doped BSG (borosilicate glass) soot films on the silicone substrate have been deposited in the mixture of $SiCl_{4}$, TMB, $TiCL_{4}$ by flame hydrolysis deposition technique. The soot films are melted to form integrated fine glass films. We can fabricate thick films of serveral $10{\mu}m$ with deposition rate,more than $0.5{\mu}m$/min. Refractive index difference of BSG films are increased to more than 0.3% as function of the amount of Ti dopant. As a result of the process an optical waveguide which is simmilar with dimmension and refractive difference of optical fiber is produced. $BCl_{3}$ is widely used for B dopant, but we abtained the good results by the use of TMB in place of $BCl_{3}$. The melting point of silica soot glass is reduced to $1200^{\circ}C$ increasing B dopant. From FTIR analysis $B_2O_3$ content up to about lOmol% in BSG films. films.
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.30
no.6
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pp.232-236
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2020
In this study, the optical properties of CaF2-Al2O3-B2O3-TiO2 (CABT) system glass doped with rare earth ion, that is used in various light devices due to its excellent luminous properties, were analyzed as a function of kind of crystal phases formed and size of crystals generated in the glass matrix. TiO2 was added to control nucleation and crystallization, and Eu2O3 was added to enhance the luminescence characteristics. DTA analysis was performed to confirm the heat treatment condition of crystal generation, and XRD and SEM anal ysis were carried out for the crystal phase change of nanometer size. As a result of the analysis, the luminous properties of oxy-fluoride-based glass were improved duo to crystallization of nanometer size, but was rather degraded when excessively large crystals were generated.
Ferroelectric Ce-doped $Bi_4Ti_3O_{12}$ (BCT) thin films were deposited by liquid delivery metal organic chemical vapor deposition (MOCVD) onto a $Pt(111)/Ti/SiO_2/Si(100)$ substrate. X-ray diffraction (XRD) and scanning electron microscopy (SEM) were used to identify the crystal structure, the surface, and the cross-section morphology of the deposited ferroelectric flims. After annealing above $640^{\circ}C$, the BCT films exhibited a polycrystalline structure with preferred (001) and (117) orientations. The BCT lam capacitor with a top Pt electrode showed a large remnant polarization ($2P_r$) of $44.56{\mu}C/cm^2$ at an applied voltage of 5 V and exhibited fatigue-free behavior up to $1.0{\times}10^{11}$ switching cycles at a frequency of 1 MHz. This study clearly reveals that BCT thin film has potential for application in non-volatile ferroelectric random access memories and dynamic random access memories.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2003.11a
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pp.51-54
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2003
Tb-doped lead zirconate titanate($Pb_{1.1}(Zr_{0.6}Ti_{0.4})O_3$; PZT) thin films on $Pt(111)/Ti/SiO_2/Si(100)$ substrates prepared by a sol-gel method. Films have a Zr/Ti ratio of 60:40 and perovskite phase structure. The effect on the structural and electrical properties of films measured according to Tb content. Dielectric and ferroelectric properties of PZT thin films were altered significantly by Tb-doping. The PZT thin film with higher dielectric constant and improved leakage current characteristic was obtained by adding 0.3 mol% Tb. At 100 kHz, the dielectric constant and the dielectric loss of the 0.3 mol% Tb-doped PZT thin film were 1611 and 0.24, respectively The remanent polarization(2Pr) of the 0.3 mol% Tb-doped PZT thin film was $61.4\;{\mu}C/cm^2$ and the coercive field was 61.9 kV/cm. Tb-doped PZT thin films showed improved fatigue characteristics comparing to the undoped PZT thin film.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2003.07b
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pp.685-688
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2003
[ $(Ba,Sr,Ca)TiO_3$ ] powders, prepared by the sol-gel method, were mixed with an organic vehicle and the BSCT thick films were fabricated by the screen printing techniques on alumina substrates. The grain size decreased with increasing amounts of $MnO_2$, and the BSCT(50/40/10) thick film doped with 1wt% $MnO_2$ showed a value of 6.5mm. The thickness of thick films by four-cycle on printing/drying was approximately 100mm. The relative dielectric constant, dielectric loss and tunability of the BSCT(S0/40/10) thick films doped with 1.0wt% $MnO_2$ were 1296, 0.61% and 11.18%, respectively.
BaTiO3 ceramics doped with 0.1 to 4.0 mol% Nb2O5 were prepared by conventional solid stage sintering process, so as to investigate the effect of the amount of Nb2O5 on the dielectric properties and complex impedance patterns of barium titanates. From the measurement of capacitance, we found that the dielectric constant of BaTiO3 samples with 1 mol% or more Nb2O5 remained approximately constant around room temperature with values higher than 2500. In this paper, the effect of impurity content as well as temperature on complex impedance patterns was discussed in detail. In particular, the grain and grain boundary behavior of samples which showed PTCR characteristics was discussed in terms of measuring temperature.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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