본 논문에서는 Crawford TEM cell들의 고조 모드 차단 주파수에 대한 해석 결과를 나타내었다. 1/2 모드 경계영역을 제시하고, 변수 분리에 기초한 Galerkin 법을 적용하여 해석하였다. 대칭형은 물론 비대칭형 TEM 셀에 대한 차단 주파수를 정확히 예측할 수 있었다. 기존 대칭형 TEM cell과 직접 제작된 비대칭형 TEM cell에 적용한 결과 측정치와 매우 일치하고 있음을 볼 수 있었다.
입자 크기에 따라 상전이 경로가 달라지며 매우 큰 응집체로 존재하는 gibbsite 분말과 같은 재료의 정량적인 전이 구조 분석의 전제로서 입자 크기가 선택적인 TEM 시편의 준비가 절실히 요구된다. 입자 크기 선택성을 실현한 TEM 시편 준비의 방법론을 확립하기 위한 방안으로서 본 실험이 전개되었다. 약 1 wt%의 gibbsite 원료 분말을 에탄올 용매에 혼합 한 뒤, ball-milling에 의해 조분쇄 처리를 하고 증류수에 1 : 19의 비로 희석된 분산 조제, Darvan C, 0.25 vol%의 첨가와 함께 ultrasonic 처리를 하여 gibbsite suspension을 만들었다. 제조된 gibbsite suspension의 누적 농도 변화 관찰에 의한 침강 시간의 조정 후 정적 침강 분리에 의해 nm 크기별로 분리된 TEM 시편을 만들 수가 있었다. 시편의 전체적인 양상은 SEM으로 관찰하였고 개개 입자들의 morphology 는 TEM으로 분석하였다. 또한, 공정 과정 중의 상변화 가능성을 검토하기 위해 XRD 분석을 실시하였다.
최근 extended-spectrum $\beta-lactamase$ 생산 임상 균주의 급속한 증가와 확산은 매우 심각한 문제를 야기하고 있다. 이에 국내에서 extended-spectrum $\beta-lactamase$ 생산 임상 균주의 발생율을 파악하고자 국내 한 대학병원에 입원한 환자로부터 대장균을 분리하여 항생제 감수성 검사를 실시하였다. 충 233균주 중 184균주 $(78.9\%)$가 ampicillin에 대해 내성을 나타냈으며, 80균주$(34.3\%)$가 cephalothin에, 93균주$(39.9\%)$가 gentamicin에, 64균주$(27.5\%)$가 norfloxacin에 대해 내성을 나타내었다. 이중 17균주$(7.3\%)$가 double disk synergy test에 의해 양성반응을 나타낸 것으로 확인되었고, 이들에 대해서 6가지 항생제에 대한 최소 억제 농도를 추가적으로 시험한 결과, 13 균주가 4가지 이상의 다른 계열의 항생제에 대한 다중 약제 내성인 것으로 나타났다. Isoelectric focusing gel electrophoresis에 의한 pI값과 DNA 염기서열을 분석한 결과 5균주가 TEM-1,1균주가 TEM-15,1 균주가 TEM-20,4균주가 TEM-52,2균주가 TEM-1과 AmpC, 1균주가 TEM-1과 OXA-30,1 균주가 TEM-1과 OXA-33,1 균주가 TEM-1, CTX-M-3, AmpC, 그리 고 1 균주가 AmpC를 생산하는 것으로 나타났으며, SHV를 생산하는 균주는 없었다. 이들의 항생제내성 유전자가 전달되는지 확인한 결과 동물로부터 분리된 대장균 (CCARM No.1203)에 extended-spectrum $\beta-lactamase$생산 유전자가 전달되는 것을 확인하였다. Random amplified polymorphic DNA와 pulsed field gel electrophoresis분석을 사용하여 genomic DNA에 대한 유전형을 분석한 결과 균주간의 유전적 연관성은 매우 낮은 것으로 나타나 한 병원에서 발견되는 균주는 clonal spread에 의한 것이라는 일반적인 보고와 다른 결과를 얻었다.
네모 동축선은 동축선과 도파관을 연결하는 대표적인 천이구조이다. 또한 TEM 셀은 DUT의 EMC 측정을 위해 광범위하게 사용되는 소자이다. 네모 동축선과 TEM 셀의 동작을 정확히 예측하기 위해서는 네모 동축선과 TEM 셀의 분산관계 해석이 필수적이다. 본 논문에서는 TEM 모드에 대한 분석을 기반으로 고차 모드인 TE와 TM 모드에 대한 분산관계를 단순하면서도 정확한 방법을 이용해 유도한다. 모드정합법과 그린 함수를 이용하여 네모 동축선과 TEM 셀의 분산관계를 해석적으로 정확히 다룬다. 이를 위해 네모 동축선의 구조를 4개의 L블록으로 나누고 중첩의 원리를 사용하여 전체 전자장 표현식을 쉽게 구한다. 분산관계 수렴성을 파악하기 위해 수치해석을 행하고 FDTD 결과와 비교한다.
The subject of this paper is the analysis of a Wire-TEM cell(W-TEM cell) which has an inner wire array rather than a metallic septum;its basic structure is similiar to a NBS TEM cell. To verify improved performances of this W-TEM cell as a standard EM field generator, well-known quasi-static approximations are employed and their resultant ingegral equations are numerically analyzed by moment method. Although the electric field strength of a W-TEM cell is 1.4 dB lower than tht of a NBS TEM cell, the uniformity of EM field patterns in a W-TEM cell is improved. It is also shown that the EM field distortions resulting from loading by the conditing objects under test(loading effects), are decreased considerably. This paper also deals with the investigations about relationship between the EM field distributions and the number of wire composing the inner conductor. Finally, the experimental analysis is performed on the practical model which is built on the basis of the design variables brought out by the theoretical andnumerical analysis.
본 논문에서는 FDTD법을 이용하여 TEM Cell의 차단주파수를 분석하고, 모드를 확인하기 위하여 FDTD 에 맞는 경계조건 등 분석방법을 제시한다. 그리고 이전에 발표된 논문들과의 결과비교를 통해 FDTD의 효율성을 확인한다. 그와 더불어 이전에 발표된 논문들 중에서 TEM Cell 특히 symmetric TEM Cell의 차단주 파수에서 논쟁이 되었던 부분에 대해 FDTD 결과를 이용해 의견을 제시한다.
IN 617의 시편으로 1073K의 온도에서 주로 107과 180MPA의 응력에서 $\varepsilon$=0.03-0.30까지 정압크립변형을 하여, 투과전자현미경(TEM)에서 약 십만배의 배율로 아결정립의 전위간 거리 s를 측정하고, TEM에서 측정이 불가능한 경우, 아결정립계가 이루는 각도 ($\theta$_{s}=sin^{-1}$(b/s))를 Kikuchi line을 이용하여 측정하였다. TEM에서 직접 구한 s 값들을 $\theta$_{s}$값으로 환산하여, Kikuchi line으로 측정한 $\theta$_{k}$값을 비교한 결과 거의 같았다.즉, TEM에서 s의 측정이 불가능할 때, $\theta$_{k}$를 측정하여 s값으로 사용하여도 됨을 알 수 있었다.
본 실험에서는 tripod polishing 방법을 이용하여 Pd/GaN/Sapphire 박막, PZT/MgO/Si 박막, 304 stainless steel 분말, $Mo_5Si_3/Mo_2B$ diffusion couple의 매우 다양한 물성이 포함된 불균질 재료의 TEM 시편을 제작하고 분석하였다. Tripod polishing을 사용하여 시편을 준비하면 시편의 종류에 관계없이 시편의 선단부에 매우 광범위한 전자빔 투과 영역을 지닌 TEM 시편을 얻을 수 있었으며, Pd/GaN/Sapphire 박막, PZT/MgO/Si 박막과 같이 기판이 경한 반도체 재료의 경우에는 연마 정도가 균일하며 연마과정 동안 오염이 심하지 않기 때문에 ion milling으로 cleaning 없이 TEM 관찰이 가능하다. 한편 304 stainless steel 분말과 같은 금속재료의 경우 짧은 시간의 ion milling 은 시편의 오염 제거에 도움된다. $Mo_5Si_3/Mo_2B$ diffusion couple에 형성된 실리사이드는 큰 취성 때문에 polishing 동안 시편이 깨지는 현상으로 전자가 투과할 수 있을 정도의 연마가 불가능하여 1시간 정도 ion milling 연마가 필요하다. Tripod polishing으로 TEM 시편을 준비하면 분석하고자 하는 지역을 정확하고도 넓게 연마할 수 있다. 또한 비교적 짧은 시간 내에 ion milling 없이 TEM 시편을 제작할 수 있기 때문에 ion milling에서 유발되는 여러 가지 문제점들을 해결할 수 있는 장점이 있었다. 그러나 tripod polishing은 전부 수작업으로 시편을 준비하기 때문에 시편을 제작하는 과정 동안 매우 세심한 주의가 요구되며 제작자의 숙련도와 경험을 필요로 하는 단점이 있다.
The transverse electromagnetic (TEM) cells are widely used for electromagnetic compatibility (EMC) testing and field probe calibrations. We propose the verification of TEM mode with statistical method using a four-port TEM cell. The verification results are compared with Normal, Rayleigh, and Gamma distribution. As a result, the 75 % quantile of the Rayleigh distribution is excellent agreement with the true quantiles for a number of calibration points.
본 논문에서는 TEM Cell 의 최적 설계방법을 제안한다. 임피던스 부정합을 최소화 시키기 위해 Cell 내부의 특성 임피던스를 $50{\Omega}$으로 유지하며, 동시에 중심 도체판(Septum)의 길이와 도체판 날개(winglet)의 각을 변화 시킴으로써 내부 전자파의 균일도(Uniformity)를 최대로 하는 TEM Cell의 최적설계 방법을 제안하며 (1+1)ES를 적용하여 시험영역을 최대로 하는 최적 설계 변수들을 제시한다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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