• Title/Summary/Keyword: Subpixel

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비전을 이용한 곡면변형률 측정의 정확도 및 정밀도 향상에 관한 연구 (A Study on the Improvement of Accuracy and Precision in the Vision-Based Surface-Strain Measurement)

  • 김두수;김형종
    • 소성∙가공
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    • 제8권3호
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    • pp.294-305
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    • 1999
  • A vision-based surface-strain measurement system has been still improved since the authors devel-oped the first version of it. New algorithms for the subpixel measurement and surface smoothing are introduced to improve the accuracy and precision in the present study. The effects of these algorithms are investigated by error analysis. And the equations required to calculate 3D surface-strain of a shell element are derived from the shape function of a linear solid finite-element. The influences of external factors on the measurement error are also examined, and several trials are made to obtain possible optimal condition which may minimize the error.

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In-line Critical Dimension Measurement System Development of LCD Pattern Proposed by Newly Developed Edge Detection Algorithm

  • Park, Sung-Hoon;Lee, Jeong-Ho;Pahk, Heui-Jae
    • Journal of the Optical Society of Korea
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    • 제17권5호
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    • pp.392-398
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    • 2013
  • As the essential techniques for the CD (Critical Dimension) measurement of the LCD pattern, there are various modules such as an optics design, auto-focus [1-4], and precise edge detection. Since the operation of image enhancement to improve the CD measurement repeatability, a ring type of the reflected lighting optics is devised. It has a simpler structure than the transmission light optics, but it delivers the same output. The edge detection is the most essential function of the CD measurements. The CD measurement is a vital inspection for LCDs [5-6] and semiconductors [7-8] to improve the production yield rate, there are numbers of techniques to measure the CD. So in this study, a new subpixel algorithm is developed through facet modeling, which complements the previous sub-pixel edge detection algorithm. Currently this CD measurement system is being used in LCD manufacturing systems for repeatability of less than 30 nm.

화상처리법을 이용한 곡면변형률 측정 시스템의 개발 (Development of a Surface-Strain Measurement System Using the Image Processing Technique)

  • 한상준;김영수;김형종;오수익
    • 소성∙가공
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    • 제7권6호
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    • pp.575-585
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    • 1998
  • An automated surface-strain measuring system using the image processing technique is developed in the present study which consists of the hardware to capture and to display digital images. and the software to calculate the 3-D informations of grid points from two views. New or improved algorithms for the mapping and establishing correspondence of grid points and elements the camera calibration and the subpixel measurement of grid points are implemented. As an application of the present system the surface-strains of deformed blanks in the limitting dome height test the square cup deep-drawing and punch stretching to obtain the forming limit diagram are measured. The results are com-pared with those obtained by conventional manual methods.

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반도체 칩의 범프 불량 검사를 위한 정확한 경계 검출 알고리즘 (An Accurate Boundary Detection Algorithm for Faulty Inspection of Bump on Chips)

  • 주기세
    • 해양환경안전학회:학술대회논문집
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    • 해양환경안전학회 2005년도 추계학술대회지
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    • pp.197-202
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    • 2005
  • 일반적으로 수 마이크로 단위로 계측되는 반도체의 검사 정밀도를 높이기 위해서는 라인스캔 카메라가 이용된다. 그러나 불량 검사는 스캔속도와 조명조건에 매우 민감하기 때문에 정확한 경계 검출 알고리즘이 필요하다. 본 논문에서는 반도체 칩의 범프 불량 검출의 정확성을 높이기 위해서 서브픽셀을 적용한 경계 검출을 제안하였다. 범프 에지는 범프 중심점에서 네 방향으로 1차 도함수에 의해서 검출되고 서브픽셀 방법으로 정확한 에지 위치를 찾는다. 그리고 범프 돌기, 범프 브리지, 범프 변색에 의해 범프 크기가 변할 수 있기 때문에 에러를 최소화하기 위해서 최소자승법을 이용하여 정확한 범프 경계를 구한다. 실험 결과 제안된 방법은 기존의 다른 경계 검출 알고리즘에 비하여 커다란 성능향상을 보였다.

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부정확한 부화소 단위의 위치 추정 오류에 적응적인 정규화된 고해상도 영상 재구성 연구 (Regularized Adaptive High-resolution Image Reconstruction Considering Inaccurate Subpixel Registration)

  • 이은실;변민;강문기
    • 방송공학회논문지
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    • 제8권1호
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    • pp.19-29
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    • 2003
  • 기존의 영상 획득 시스템들이 어느 정도의 엘리어싱을 허용하도록 제작되어왔음에도 불구하고, 고해상도 영상에 대한 요구는 점점 더 증가하고 있다. 본 논문에서는 부정확한 부화소 단위의 위치 추정 오류를 고려한 고해상도 재구성 알고리즘을 제안한다. 부정확한 부화소 위치 추정 오류로 인해 생기는 불량위치문제(ill-posedness)를 해결하기 위해 정규화 반복 연산법을 적용하였다, 특히 여러 장의 저해강도 영상들을 개별적으로 고려하기에 적합한 다중채널 영상 재구성 방법을 도입하였다. 각 저해상도 영상에서 발생하는 움직임 추정오류는 서로 다른 경향성을 나타내므로, 정규화 파라미터들은 각 채널에 맞게 결정되어야 한다. 이를 위해 정규화 파라미터들을 자동으로 결정하는 방법을 제안한다. 제안한 알고리즘은 움직임 추정 오류에 매우 안정하며, 원 영상과 잡음에 대한 사전정보를 필요로 하지 않는다. 또한 주관적인 측면과 객관적인 측면에서 모두 우수한 결과를 실험적으로 보인다.

반도체 칩의 범프 불량 검사를 위한 정확한 경계 검출 알고리즘 (Accurate Boundary detection Algorithm for The Faulty Inspection of Bump On Chip)

  • 김은석
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제11권4호
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    • pp.793-799
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    • 2007
  • 제안된 방법은 다른 이미지 서브트랙션 방법에 대하여 커다란 성능향상을 보임을 일련의 실험들을 통하여 보여준다. 일반적으로 수 마이크로 단위로 계측되는 반도체의 검사 정밀도를 높이기 위해서는 라인스캔 카메라가 이용된다. 그러나 불량 검사는 스캔속도와 조명조건에 매우 민감하기 때문에 정확한 경계검출 알고리즘이 필요하다. 본 논문에서는 반도체 칩의 범프 불량 검출의 정확성을 높이기 위해서 서브픽셀을 적용한 경계 검출을 제안하였다. 범프 에지는 범프 중심점에서 네 방향으로 1차 도함수에 의해서 검출되고 서브픽셀 방법으로 정확한 에지 위치를 찾는다. 그리고 범프 돌기, 범프 브리지, 범프 변색에 의해 범프 크기 가 변할 수 있기 때문에 에러를 최소화 하기 위해서 최소자승법을 이용하여 정확한 범프 경계를 구한다. 실험 결과 제안된 방법은 기존의 다른 경계 검출 알고리즘에 비하여 커다란 성능향상을 보였다.

델타 배열 구조를 갖는 디스플레이에서의 시각적 해상도 향상 방법 (Visual Resolution Enhancement Method for a Delta-structured Display)

  • 최원희;이성덕;김창용
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2003년도 신호처리소사이어티 추계학술대회 논문집
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    • pp.19-22
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    • 2003
  • This paper proposes the method of visual resolution enhancement to render a color image on a delta-structured display. The proposed method adopted a subpixel rendering method to reduce a color fringe error caused by delta- structured display and to improve visual resolution

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이미지 상관법의 서브 픽셀 알고리즘을 이용한 측정 분해능 향상에 관한 연구 (Study on Improvement of Measurement Precision in Digital Image Correlation Measurement Method by Using Subpixel Algorithms)

  • 김성종;강영준;최인영;홍경민;유원재
    • 한국정밀공학회지
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    • 제32권12호
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    • pp.1039-1047
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    • 2015
  • Contact type sensors (e.g., displacement sensor and strain gauge) were typically used to evaluate the safety and mechanical properties in machines and construction. However, those contact type sensors have been constrained because of measurement problems such as surface roughness, temperature, humidity, and shape. The Digital Image Correlation (DIC) measurement system is a vision measurement system. This measurement system uses the taken image using a CCD camera and calculates the image correlation between the reference image and the deformed image under external force to measure the displacement and strain rates. In this paper, we discuss methods to improve the measurement precision of the digital image correlation measurement system. A tensile test was conducted to compare the precision improvement effects, by using the universal test machine and the DIC measurement system, with the use of subpixel algorithms, i.e., the Coarse Fine Search (CFS) algorithm and the Peak Finding (PF) algorithm.