Thin films easily wrinkle under compressive loading due to their small bending stiffness resulting from their tiny thickness. For a thin film deposited on a functionally graded substrate with non-uniform stiffness exponentially changes along the length span in this paper, the uniaxial wrinkling problem is solved analytically in terms of hyper-Bessel functions. For infinite, semi-infinite and finite length systems the wrinkling load and wrinkling wavenumber are determined and compared with those in literature. In comparison with a homogeneous substrate-bounded film in which the wrinkling pattern is uniform along the length span, for a functionally graded substrate-film system the wrinkles accumulate around the softer location of the functionally graded substrate. Therefore, the effective length of the film influenced by the wrinkles decreases, the amplitude of the wrinkles on softer regions of the functionally graded substrate grows and the wrinkling load of the functionally graded substrates with higher softening rate decreases more. The results of the current research are expected to be useful in science and technology of thin films and wrinkling of the structures especially living tissues.
Low-stress silicon nitride (LSN) thin films with embedded metal line have been developed as free standing structures to keep microspheres in proper locations and localized heat source for application to a chip-based sensor array for the simultaneous and near-real-time detection of multiple analytes in solution. The LSN film has been utilized as a structural material as well as a hard mask layer for wet anisotropic etching of silicon. The LSN was deposited by LPCVD (Low Pressure Chemical Vapor Deposition) process by varing the ratio of source gas flows. The residual stress of the LSN film was measured by laser curvature method. The residual stress of the LSN film is 6 times lower than that of the stoichiometric silicon nitride film. The test results showed that not only the LSN film but also the stack of LSN layers with embedded metal line could stand without notable deflection.
The tensile properties of the extruded PC film were measured in the extrusion direction and perpendicular to the extrusion direction. The measured properties were the elastic modulus and Poisson's ratio at the glass transition temperature of PC. The measured orthotropic properties of the film were used for the computer simulation of vacuum forming. In this simulation, three mold shapes were tested: dome, trapezoid, and cubic, and the vacuum was applied between the mold surface and the heated film. The stress, strain, thickness, and stretch ratio distributions of the film in different mold shapes were observed and compared. The thermoforming simulation method used in this study and the obtained results, considering the determined orthotropic properties, can be applied to the thermoforming of various three-dimensional shapes.
Although monolayer black phosphorus (BP) and few-layer BP nanosheets (NSs) have been extensively studied as promising alternatives to graphene, research has focused primarily on atomically thin-layered BP in an isolated form. In order to realize the practical applications of BP-related devices, a BP film based on continuous networking of few-layer BP NSs should be developed. In this study, a transparent BP film with high quality was fabricated via a vacuum filtration method. An oxygen-free water solvent was used as an exfoliation medium to avoid significant oxidation of the few-layer BP NSs in liquid-phase exfoliation. The exfoliation efficiency from bulk BP to the few-layer BP NSs was estimated at 22%, which is highly efficient for the production of continuous BP film. The characteristics of the high-quality BP film were determined as 98% transparency, minimum oxidation of 18%, structural stability, and an appropriate bandgap of about 1.8 eV as a semiconductor layer. In order to demonstrate the potential of the BP film for photocatalytic activity, we performed photoelectrochemical water oxidation of the transparent BP film. Although its performance should be improved for practical applications, the BP film could function as a photoanode, which offers a new potential semiconductor in water oxidation. We believe that if the BP film is adequately engineered with other catalysts the photocatalytic activity of the BP film will be improved.
Pyo, Sukhoon;Loh, Kenneth J.;Hou, Tsung-Chin;Jarva, Erik;Lynch, Jerome P.
Smart Structures and Systems
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v.8
no.1
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pp.139-155
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2011
Polymeric thin-film assemblies whose bulk electrical conductivity and mechanical performance have been enhanced by single-walled carbon nanotubes are proposed for measuring strain and corrosion activity in metallic structural systems. Similar to the dermatological system found in animals, the proposed self-sensing thin-film assembly supports spatial strain and pH sensing via localized changes in electrical conductivity. Specifically, electrical impedance tomography (EIT) is used to create detailed mappings of film conductivity over its complete surface area using electrical measurements taken at the film boundary. While EIT is a powerful means of mapping the sensing skin's spatial response, it requires a data acquisition system capable of taking electrical impedance measurements on a large number of electrodes. A low-cost wireless impedance analyzer is proposed to fully automate EIT data acquisition. The key attribute of the device is a flexible sinusoidal waveform generator capable of generating regulated current signals with frequencies from near-DC to 20 MHz. Furthermore, a multiplexed sensing interface offers 32 addressable channels from which voltage measurements can be made. A wireless interface is included to eliminate the cumbersome wiring often required for data acquisition in a structure. The functionality of the wireless impedance analyzer is illustrated on an experimental setup with the system used for automated acquisition of electrical impedance measurements taken on the boundary of a bio-inspired sensing skin recently proposed for structural health monitoring.
We have investigated the structural and electrical properties of Ga-doped ZnO (GZO) thin films deposited by an RF magnetron sputtering at various RF powers from 50 to 90W. All the GZO thin films are grown as a hexagonal wurtzite phase with highly c-axis preferred parameters. The structural and electrical properties are strongly related to the RF power. The grain size increases as the RF power increases since the columnar growth of GZO thin film is enhanced at an elevated RF power. This result means that the crystallinity of GZO is improved as the RF power increases. The resistivity of GZO rapidly decreases as the RF power increases up to 70 W and saturates to 90W. In contrast, the electron concentration of GZO increases as the RF power increases up to 70 W and saturates to 90W. GZO thin film shows the lowest resistivity of $2.2{\times}10^{-4}{\Omega}cm$ and the highest electron concentration of $1.7{\times}10^{21}cm^{-3}$ at 90W. The mobility of GZO increases as the RF power increases since the grain boundary scattering decreases due to the reduced density of the grain boundary at a high RF power. The transmittance of GZO thin films in the visible range is above 90%. GZO is a feasible transparent electrode for application as a transparent electrode for thin film solar cells.
Fiber reinforced composites fabricated by the resin film infusion (RFI) process, which is one of the outof-autoclave process, have the advantage of significantly reducing the processing cost in large structures while having excellent mechanical properties and uniform impregnation of the resin. In this study, we applied RFI carbon fiber composites to unmanned aerial vehicle structures to improve structural safety and achieve weight reduction. The tensile test results showed that the strength was 46% higher than that of generic T300 grade plain weave carbon fiber composites. As a result of the layup design and finite element analysis of the composite wing structure using the above material properties, the wing tip deflection is decreased by 31%, the structural safety factor is increased by 28% and the weight of the entire structure can be reduced by more than 10% compared to the reference model using glass fiber composite material.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2000.07a
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pp.889-892
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2000
We have investigated the Pt doping effect on structural and electrochemical properties of amorphous vanadium oxide film, grown by radio frequency magnetron sputtering. Room temperature charge-discharge measurements based on a half-cell with a constant current clearly indicated that the Pt doping could improve the cyclibility of V$_2$O$_{5}$ cathode film. Using glancing angle x-ray diffraction (GXRD) and high resolution transmission electron microscopy (HRTEM) analysis, we found that the Pt doping with l0W r.f. power induce more random amorphous structure than undoped V$_2$O$_{5}$ film. As the r.f. power of Pt increases, large amount of Pt incorporates into amorphous V$_2$O$_{5}$ and makes PtOx microcrystalline phase in amorphous matrix. This result suggests that the semicondcuting PtOx microcrystalline phase in amorphous matrix lead to a drastically faded cyclibility of 50W Pt doped V$_2$O$_{5}$ cathode film. Possible explanations are given to describe the Pt doping effect on cyclibility of vanadium oxide cathode film.de film.
Purpose: We subjected scanning electron microscopic (SEM) images of the active layer of EBT3 film to texture analysis to determine the dose-response curve. Methods: Uncoated Gafchromic EBT3 films were prepared for direct surface SEM scanning. Absorbed doses of 0-20 Gy were delivered to the film's surface using a 6 MV TrueBeam STx photon beam. The film's surface was scanned using a SEM under 100× and 3,000× magnification. Four textural features (Homogeneity, Correlation, Contrast, and Energy) were calculated based on the gray level co-occurrence matrix (GLCM) using the SEM images corresponding to each dose. We used R-square to evaluate the linear relationship between delivered doses and textural features of the film's surface. Results: Correlation resulted in higher linearity and dose-response curve sensitivity than Homogeneity, Contrast, or Energy. The R-square value was 0.964 for correlation using 3,000× magnified SEM images with 9-pixel offsets. Dose verification was used to determine the difference between the prescribed and measured doses for 0, 5, 10, 15, and 20 Gy as 0.09, 1.96, -2.29, 0.17, and 0.08 Gy, respectively. Conclusions: Texture analysis can be used to accurately convert microscopic structural changes to the EBT3 film's surface into absorbed doses. Our proposed method is feasible and may improve the accuracy of film dosimetry used to protect patients from excess radiation exposure.
$MgF_2$ is a current material for the optical applications in the UV and deep UV range. Process variables for manufacturing the $MgF_2$ thin film were established in order to clarify optimum conditions for growth of the thin film depending upon process conditions, and then by changing a number of vapor deposition conditions and substrate temperature, Annealing conditions variously, structural and Optical characteristics were measured. Thereby, optimum process variables were derived. Nevertheless, modern applications still require improvement of the optical and structural quality of the deposited layers. In the present work, the composition and microstructure of $MgF_2$ single layers grown on slide glass substrate by Electro beam Evaporator(KV-660) processes, were analyzed and compared. The surface Substrate temperature having an effect on the quality of the thin film was changed from 200[$^{\circ}C$] to 350[$^{\circ}C$] at intervals of 50[$^{\circ}C$]. and annealing temperature an effect on the thin film was changed from 200[$^{\circ}C$] to 400[$^{\circ}C$] at intervals of 50[$^{\circ}C$]. Physical properties of the thin film were investigated at various fabrication conditions substrate temperature, annealing and temperature, annealing time by XRD, FE-SEM.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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