MoS$_2$-Ti films were deposited on SKD-11 tool steel substrate by a D.C. magnetron sputtering system. The influence of deposition parameters on the adhesion of the films was investigated by the scratch test. Crosssection morphology was evaluated using FE-SEM. The plasma etching played an important role on the adhesion of the films. The appropriate etching conditions roughened the surface, resulting In the improved adhesion of the film. The adhesion of the film increased with the interlayer thickness up to 110 nm and then decreased slightly with further increasing of interlayer thickness. The adhesion was highest at a bias voltage of -50 V. Further increase of the bias voltage decreased the film adhesion.
The sputtering systems mainly consist of the three-target holder. The target and substrate were the on-axis type. The MgO and STO substrate were used for the deposition of each layer. The optimum conditions of single-layer thin film were investigated from the SEM images and the XRD patterns. Based on the above conditions, the multi-layer thin films such as YBaCuO/LaGaO/Au/Nb and YBaCuO/Au/Nb were fabricated. The crystalline, the electrical Properties, the energy gap structure and the characteristics of the tunneling barrier on the multi-layer thin film have been investigated and characterized.
$TiO_2$ thin films for solar energy utilization were prepared on ITO coated glass by r.f magnetron sputtering with variations of working pressure, oxygen flow rate and annealing temperature. Ion insertion and extraction reaction, and ion storage properties of films were investigated by using a cyclic voltammetry. Transmittance of thin films in as-prepared, colored and bleached states was measured by UV-VIS spectrophotometer. The samples deposited in our sputtering conditions showed poor electrochromic properties. Improvement in ion storage properties of $TiO_2$ thin film was observed after annealing at temperature of $400^{\circ}C$ in air for 2 hours. It was found that $TiO_2$ thin film in electrochromic device could be used as a passive counter-electrode.
We prepared ITO thin films using Facing Targets Sputtering(FTS) method with various input currents at room temperature on Polycarbonate(PC) and Polyethersulfon(PES) substrates. As a function of sputtering conditions, electrical and optical properties of prepared ITO thin films were measured. The electrical, optical, structural characteristics of ITO thin films were evaluated by Hall Effect Measurement(EGK), X-Ray Diffractormeter(Rigaku) and UV-VIS spectrometer(HP) respectively. From the results, we obtained ITO thin films that have a resistivity of $4{\times}10^{-4}[{\Omega}-cm]$ on PC and $527{\times}10^{-4}[{\Omega}-cm]$ on PES. Also, the optical transmittances of all samples were over 80%.
ZT/PZT/ZT multi-layered thin films were deposited on silicon substrate by co-sputtering method for FEMFET device application. Effects of Pb/(Zr+Ti) ratio, films thickness, annealing conditions and substrate temperature on the ferroelectric behavior of the multi-layered films were studied. The best memory device characteristics with leakage current of 2$\times$10-8 A/$\textrm{cm}^2$ and breakdown field of about 1 MV/cm could be obtained with ZT(250 $\AA$) / PZT(1000 $\AA$)/ZT(750 $\AA$) multi-layered thin film deposited at 35$0^{\circ}C$ and post-annealed at $700^{\circ}C$ for 120 sec by RTA(Rapid Thermal Annealing).
AZO(ZnO:Al) thin film were prepared by FTS(Facing Target Sputtering) system. Change the sputtering conditions, AZO thin film deposited the lower resistivity(<$10-4{\Omega}cm$) so it can use to be a display application electrode. In this study, the electrical and crystallographic effects of target type have been investigated. The crystal structure was studied by XRD and the resistivity of AZO thin film was obtained by the four-point probe.
In this paper, we report electrical, optical and structural properties of Al-doped zinc oxide (AZO) thin films deposited at different substrate temperatures and pressures. The films were prepared by radio frequency (RF) magnetron sputtering on glass substrates in argon (Ar) ambient. The X-ray diffraction analysis showed that the AZO films deposited at room temperature (RT) and 20 Pa were mostly oriented along a-axis with preferred orientation along (100) direction. There was an improvement in resistivity ($3.7{\times}10^{-3}{\Omega}-cm$) transmittance (95%) at constant substrate temperature (RT) and working pressure (20 Pa) using the Hall-effect measurement system and UV-vis spectroscopy, respectively. Our results have promising applications in low-cost transparent electronics, such as the thin-film solar cells and thin-film transistors due to favourable deposition conditions. Furthermore our film deposition method offers a procedure for preparing highly oriented (100) AZO films.
High quality BSCCO thin films have been fabricated by means of an ion beam sputtering at various substrate temperatures, $T_{sub}$, and ozone gas pressures, $PO_3$. The correlation diagrams of the BSCCO phases appeared against $T_{sub}$ and $PO_3$ are established in the 2212 and 2223 compositional films. In spite of 2212 compositional sputtering, Bi220l and Bi2223 phases as well as Bi2212 one come out as stable phases depending on $T_{sub}$ and $PO_3$. From these results, the thermodynamic evaluations of ${\Delta}H$ and ${\Delta}S$ S, which are related with Gibbs' free energy change for single Bi2212 or Bi2223 phase are performed.
Nanocrystalline HfN coatings were prepared by reactively sputtering Hf metal target with N2 gas using a magnetron sputtering system operated in DC and ABPP (asymmetric bipolar pulsed plasma) condition with various duties and frequencies. The effects of duty and frequency, ranging from 75 to 100 % and 5 to 50 kHz, on the coating microstructure, crystallographic and mechanical properties were systematically investigated with FE-SEM, AFM, XRD and nanoindentation. The results show that pulsed plasma has a significant influence on coating microstructure and mechanical properties of HfN coatings. Coating microstructure evolves from the columnar structure to a highly dense one as duty decreases. Average grain size and nano hardness of HfN coatings were also investigated with various pulsed conditions.
ITO (indium tin oxide) thin films on PET (polyethylene terephthalate) substrate have been deposited by a dc reactive magnetron sputtering without heat treatments such as substrate heater and post heat treatment. Each sputtering parameter during the sputtering deposition is an important factor for the high quality of ITO thin films deposited on polymeric substrate. Particularly, the material, electrical and optical properties of as-deposited ITO oxide films are dominated by the ratio of oxygen partial pressure. As the experimental results, the excellent ITO films are prepared on PET substrate at the operating conditions as follows : operating pressure of 5 mTorr, target-substrate distance of 45mm, do power of 20~30W, and oxygen gas ratio of 10%. The optical transmittance is above 80% at 550 nm, and the sheet resistance and resistivity of films are 24 Ω/square and $1.5\times$10$^{-3}$ Ωcm, respectively.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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