Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.36
no.5
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pp.386-392
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2003
The electroplating process for a solder bump which can be applied for a flip chip was studied. Si-wafer was used for an experimental substrate, and the substrate were coated with UBM (Under Bump Metallization) of Al(400 nm)/Cu(300 nm)Ni(400 nm)/Au(20 nm) subsequently. The compositions of the bump were Sn-Cu and eutectic Sn-Pb, and characteristics of two bumps were compared. Experimental results showed that the electroplated thickness of the solders were increased with time, and the increasing rates were TEX>$0.45 <\mu\textrm{m}$/min for the Sn-Cu and $ 0.35\mu\textrm{m}$/min for the Sn-Pb. In the case of Sn-Cu, electroplating rate increased from 0.25 to $2.7\mu\textrm{m}$/min with increasing current density from 1 to 8.5 $A/dm^2$. In the case of Sn-Pb the rate increased until the current density became $4 A/dm^2$, and after that current density the rate maintains constant value of $0.62\mu\textrm{m}$/min. The electro plated bumps were air reflowed to form spherical bumps, and their bonded shear strengths were evaluated. The shear strength reached at the reflow time of 10 sec, and the strength was of 113 gf for Sn-Cu and 120 gf for Sn-Pb.
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.16
no.2
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pp.27-31
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2009
Sn whiskers can grow from the pure Sn and high Sn-based finish and cause the electrical shorts and failures. Even with the wealth of information on whiskers, we have neither the clear understanding of whisker growth nor methods for its prevention. In this study, the whisker grain roots which connected with intermetallic layer were analyzed by high-resolution transmission electron microscopy (HR-TEM). In the Sn-Cu plated leadframe (LF) that was stored at ambient condition for 540 days, filament-shaped whiskers were grown on the Sn-plated surface and ${\eta}'-Cu_6Sn_5$ precipitates were widely distributed along the grain boundaries at the Sn matrix. The measured of the lattice fringes at the ${\eta}'-Cu_6Sn_5$ was $4.71{\AA}$ at the coarse grain and $2.91{\AA}$ at the fine grain. The $Cu_3Sn$ which generates the tensile stresses was not observed. The formation of $Cu_6Sn_5$ precipitates and intermetallic layer were strongly related to whisker growth, but, the whisker growth tendency does not closely relate with the geometric morphology of irregularly grown intermetallic compound (lMC).
The purpose of this study is to investigate the characteristics of Pb-Free Sn-2%Ag-Bi solder alloys. The solder alloys used in this study is Sn-2%Ag-(3,5,7,9%) Bi It is examined that their properties such as melting range, wettability, microstructure, microhardness, and tensile property. The addition of Bi(3,5,7,9%) lowered the melting point of the solder and the melting range was 196~203$^{\circ}C$. The wettability of the solder as equal to that of Sn-37% Pb solder. The morphology of structure did not change largely by addition of Bi. But the structure of cellular dendrite of linear type displayed. The tensile strength of the solder was superior to that of Sn-37%Pb solder. But the elongation was inferior to that of Sn-37%Pb solder. The hardness of Sn-2%Ag solder was tow times and that of Sn-2%Ag-Bi solder was three times of that in Sn-37%Pb solder. But the effect of increment of Bi content did not change largely.
The $SO_2$ reduction using CO and $H_2$ over Sn-Zr based catalysts was performed in this study. Sn-Zr based catalysts with Sn/Zr molar ratio (0/1, 1/4, 1/1, 2/1, 3/1, 1/0) were prepared by the precipitation and co-precipitation method. The effect of the temperature on the reaction characteristics of the $SO_2$ reduction with a reducing agent such as $H_2$ and CO was investigated under the conditions of space velocity of $10,000ml/g_{-cat.}h$, $([CO(or\;H_2)]/[SO_2])$ of 2.0. As a result, the activity of Sn-Zr based catalysts were higher than $SnO_2$ and $ZrO_2$. The reactivity for the $SO_2$ reduction with CO was higher than that with $H_2$, and sulfur yield in the $SO_2$ reduction by $H_2$ was higher than that by CO. The reactivity for the $SO_2$ reduction with $H_2$ was increased with the reaction temperature regardless of Sn-Zr based catalyst with a Sn/Zr molar ratio. $SnO_2-ZrO_2$ (Sn/Zr=1/4) had highest activity at $550^{\circ}C$, in the $SO_2$ reduction with $H_2$ and $SO_2$ conversion of 94.4% and sulfur yield of 66.4% were obtained at $550^{\circ}C$. On the other hand, in the $SO_2$ reduction by CO, the reactivity was decreased with the increase over $325^{\circ}C$. At the optimal temperature of $325^{\circ}C$, $SO_2$ conversion and sulfur yield were about 100% and 99.5%, respectively, in the $SO_2$ reduction over $SnO_2-ZrO_2$ (Sn/Zr=3/1). Also, the $SO_2$ reduction using syngas with $CO/H_2$ ratio over $SnO_2-ZrO_2$ (Sn/Zr=2/1) was performed in order to investigate the application possibility of the simulated coal gas as the reductant in DSRP. As a result, the reactivity of the $SO_2$ reduction using syngas with $CO/H_2$ ratio was increased with increasing the CO content of syngas. Therefore, it could be known that DSRP using the simulated coal gas over Sn-Zr based catalyst is possible to be realized in IGCC system
Kim, Yi-Young;Kim, Soo-Kil;Han, Jong-Hee;Kim, Han-Sung
Journal of the Korean Electrochemical Society
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v.11
no.2
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pp.109-114
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2008
Though ethanol can theoretically generate 12 electrons during oxidation to carbon dioxide, the complete oxidation of ethanol is hard to achieve due to the strong bond between the two carbons in its molecular structure. Therefore, development of high activity catalyst for ethanol oxidation is necessary for the commercialization of direct ethanol fuel cell. In this study, some binary and ternary electrocatalysts of PtSn/C and PtSnAu/C have been synthesized and characterized. The catalysts were fabricated with modified polyol method with the amounts of 20 wt%, where the Pt : Sn ratios in the PtSn/C were 1 : 0, 4 : 1, 3 : 1, 2 : 1, 1.5 : 1, 1 : 1, 1 : 1.5 and Pt:Sn:Au ratios in the PtSnAu/C were 5 : 5 : 0, 5 : 4 : 1, 5 : 3 : 2, 5 : 2 : 3. From the XRD and TEM analysis results, the catalysts were found to have face centered cubic structure with particle size of around $1.9{\sim}2.4\;nm$. The activity in the ethanol oxidation was examined with cyclic voltammetry and the results indicated that PtSn(1.5 : 1)/C and PtSnAu(5 : 2 : 3)/C had the highest activity in each catalyst system. Further tests with single cell were performed with those catalysts. It was found that PtSn/C(1.5 : 1) exhibited the best performance while the long term stability of PtSnAu/C(5 : 2 : 3) is better than PtSn/C(1.5 : 1).
Cu-cored Sn-Ag solder balls were fabricated by coating pure Sn and Ag on Cu balls. The melting behavior and the solderability of the BGA joint with the Ni/Au coated Cu pad were investigated and were compared with those of the commercial Sn-Ag and Sn-Ag-Cu balls. DSC analyses clarified the melting of Cu-cored solders to start at a rather low temperature, the eutectic temperature of Sn-Ag-Cu. It was ascribed to the diffusion of Cu and Ag into Sn plating during the heating process. After reflow soldering the microstructures of the solder and of the interfacial layer between the solder and the Cu pad were analyzed with SEM and EPMA. By EDX analysis, formation of a eutectic microstructure composing of $\beta$-Sn, Ag$_3$Sn, ad Cu$_{6}$Sn$_{5}$ phases was confirmed in the solder, and the η'-(Au, Co, Cu, Ni)$_{6}$Sn$_{5}$ reaction layer was found to form at the interface between the solder and the Cu pad. By conducting shear tests, it was found that the BGA joint using Cu-cored solder ball could prevent the degradation of joint strength during aging at 423K because of the slower growth me of η'-(Au, Co, Cu, Ni)$_{6}$Sn$_{5}$ reaction layer formed at the solder, pad interface. Furthermore, Cu-cored multi-component Sn-Ag-Bi balls were fabricated by sequentially coating the binary Sn-Ag and Sn-Bi solders on Cu balls. The reflow property of these solder balls was investigated. Melting of these solder balls was clarified to start at the almost same temperature as that of Sn-2Ag-0.75Cu-3Bi solder. A microstructure composing of (Sn), Ag$_3$Sn, Bi and Cu$_{6}$Sn$_{5}$ phases was found to form in the solder ball, and a reaction layer containing primarily η'-(Au, Co, Cu, Ni)$_{6}$Sn$_{5}$ was found at the interface with Ni/Au coated Cu pad after reflow soldering. By conducting shear test, it was found that the BGA joints using this Cu-core solder balls hardly degraded their joint shear strength during aging at 423K due to the slower growth rate of the η'-(Au, Cu, Ni)$_{6}$Sn$_{5}$ reaction layer at the solder/pad interface.he solder/pad interface.
Koreanishche Zeitschrift fur Deutsche Sprachwissenschaft
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v.4
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pp.1-27
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2001
이 글의 목적은 독일어 신체어휘 관련 관용구들 가운데 ${\lceil}$Duden Band 11${\rfloor}$에 수록된 108개의 $\lceil$손$\rfloor$ 관련 관용구를 대상으로 이들의 형태$\cdot$통사구조를 파악하고, 그들을 모형화하는 것이다. 우리는 연구 대상을 문장에서 결합가 보유어로서 술어의 기능을 하는 관용구에 한정했다. 우리는 $\lceil$손$\rfloor$ 관련 관용구를 보충어의 수와 형태에 따라 크게 세 가지 부류, 즉 1가, 2가, 3가의 관용구로 구분하였다 보충어의 형태는 명사구(Sn, Sd, Sa)와 전치사구(pS)에 한정했으며 문장형태의 보충어, 예를 들어 부문장(NS)과 부정사문(Inf) 형태는 고려하지 않았다. 이들이 보충어로 간주될 수 있는지의 여부는 아직 더 많은 연구를 필요로 하기 때문에 다음 과제로 남겨두었다. 일차적으로 외적 결합가($\"{a}u{\beta}ere\;Valenz)$에 따라, 이차적으로는 내적 결합가(innere Valenz)에 따라 108개의 $\lceil$손$\rfloor$ 관련 관용구를 분석한 결과 우리는 다음과 같은 형태$\cdot$통사적 문형을 얻을 수 있었다. $\cdot$ 1가 동사 관용구: 1) PL-Sn : (1) PL[VPL - Sa] - Sn (2) PL(VPL - pS) - Sn (3) PL[VPL - Sa - pS] - Sn (4) PL[VPL - pS - pS] - Sn Sondergruppen: PL[VPL - Sa - Inf] - Sn PL[VPL - pS - Inf] - Sn 2) PL - Sd: (1) PL[VPL - Sn] - Sd (2) PL[VPL - Sn(es) - pS] - Sd $\cdot$ 2가 동사 관용구1) PL - Sn - Sd: (1) PL[VPL - Sa] - Sn - Sd (2) PL[VPL - pS] - Sn - Sd (3) PL[VPL - Sa - pS) - Sn - Sd 2) PL - Sn - pS: (1) PL[VPL - Sa] - Sn - pS (2) PL[VPL - pS] - Sn - pS (3) PL(VPL - Sa - pS) - Sn - pS 3) PL[VPL - pS) - Sn -Sa $\cdot$ 3가 동사 관용구: (1) PL[VPL - pS] - Sn - Sd - Sa (2) PL[VPL - pS] - Sn - Sa - pS (3) PL[VPL - Sa] - Sn - Sd - pS 이러한 분류가 보여주듯이, 독일어에는 1가, 2가, 3가의 관용구가 있으며, 구조 외적으로 동일한 통사적 결합가를 갖는다 하더라도 구조 내적 성분구조가 다르다는 것을 알 수 있다. 우리는 이 글이 외국어로서의 독일어를 배우는 이들에게 독일어의 관용구를 보다 올바르게 이해할 수 있는 방법론적인 토대를 제공함은 물론, (관용어) 사전에서 외국인 학습자를 고려하여 관용구를 알기 쉽게 기술하는 데 도움을 줄 수 있기를 바란다.
Byungwoo Kim;Hyeri Go;Gyeongyeong Cheon;Yong-Ho Ko;Yoonchul Sohn
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.30
no.4
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pp.61-68
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2023
In this study, Sn-3.5Ag-15.0Fe composite solder was manufactured and applied to TLP bonding to change the entire joint into a Sn-Fe IMC(intermetallic compound), thereby applying it as a high-temperature solder. The FeSn2 IMC formed during the bonding process has a high melting point of 513℃, so it can be stably applied to power modules for power semiconductors where the temperature rises up to 280℃ during use. As a result of applying ENIG surface treatment to both the chip and substrate, a multi-layer IMC structure of Ni3Sn4/FeSn2/Ni3Sn4 was formed at the joint. During the shear test, the fracture path showed that cracks developed at the Ni3Sn4/FeSn2 interface and then propagated into FeSn2. After 2hours of the TLP joining process, a shear strength of over 30 MPa was obtained, and in particular, there was no decrease in strength at all even in a shear test at 200℃. The results of this study can be expected to lead to materials and processes that can be applied to power modules for electric vehicles, which are being actively researched recently.
$SnO_2$ powders were prepared from the calcination of stannic acids precipitated from the aqueous solution of $SnCl_4$ with ammonium nitrate as a precipitator at $90^{\circ}C$. For the comparison of properties, the stannic acids were prepared from the homogeneous precipitation method using urea as a precipitator at the same temperature. The stannic acid from ammonium nitrate at a thermal gravity analysis showed the weight loss until $700^{\circ}C$ and the percentage of total weight loss was 16.5%. The crystallization of stannic acid into $SnO_2$ finished in the calcination at $600^{\circ}C$ for 2 h. The crystallite size of $SnO_2$ increased with the increase of calcination temperature and initial concentration of $SnCl_4$ solution. In case of the same calcination condition, $SnO_2$ prepared from homogeneous precipitation using urea had a relatively smaller crystallite size rather than $SnO_2$ prepared from ammonium nitrate.
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.9
no.2
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pp.1-9
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2002
The intermetallic formation between Sn-Ag-(Cu) solders and metal pads in a real BGA package was characterized using SEM, EDS, and XRD. The intermetallic phase formed in the interface between Sn-Ag-Cu and Au/Ni/Cu pad is likely to be ternary compound of $(Cu,Ni)_6Sn_5$ from EDS analysis High concentration of Cu was observed in the solder/Ni interface. XRD analysis confirmed that $\eta -Cu_6 Sn_5$ type was intermetallic phase formed in the interface between Cu containing solders and Ni substrates and $Ni_3$Sn_4$ intermetallic was formed in the Sn-Ag solder/Ni interface. The thickness of intermetallic phase increased with the reflow times and Cu concentration in solder.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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