JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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제17권1호
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pp.65-78
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2017
Single Event Transient has a critical impact on highly integrated logic circuits which are currently common in various commercial and consumer electronic devices. Reliability against the soft and intermittent faults will become a key metric to evaluate such complex system on chip designs. Our previous work analyzing soft errors was focused on parallelizing and optimizing error propagation procedures for individual transient faults on logic and sequential cells. In this paper, we present a new propagation technique where a fault binary decision diagram (BDD) continues to merge every new fault generated from the subsequent logic gate traversal. BDD-based transient fault analysis has been known to provide the most accurate results that consider both electrical and logical properties for the given design. However, it suffers from a limitation in storing and handling BDDs that can be increased in size and operations by the exponential order. On the other hand, the proposed method requires only a visit to each logic gate traversal and unnecessary BDDs can be removed or reduced. This results in an approximately 20-200 fold speed increase while the existing parallelized procedure is only 3-4 times faster than the baseline algorithm.
The OBC(on-board computer) of a satellite which plays a role of the controller for the satellite should be equipped with preventive measures against transient errors caused by SEU(single event upset). Since memory devices are pretty much susceptible to these transient errors, it is essential to protect memory devices against SFU. A common method exploits an error detection and correction code and additional memory devices, combined with periodic memory scrubbing. This paper proposes an effective memory scrubbing scheme for the OBC of STSAT-2. The memory system of the OBC is briefly mentioned and the reliability of the information stored in the memory system is analyzed. The result of the reliability analysis shows that there exist optimal scrubbing periods achieving the maximum reliability for allowed overall scrubbing overhead and they are dependent on the significance of the information stored. These optimal scrubbing periods from a reliability point of view are derived analytically.
Nidhin, T.S.;Bhattacharyya, Anindya;Behera, R.P.;Jayanthi, T.;Velusamy, K.
Nuclear Engineering and Technology
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제49권8호
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pp.1589-1599
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2017
Field programmable gate arrays (FPGAs) are getting more attention in safety-related and safety-critical application development of nuclear power plant instrumentation and control systems. The high logic density and advancements in architectural features make static random access memory (SRAM)-based FPGAs suitable for complex design implementations. Devices deployed in the nuclear environment face radiation particle strike that causes transient and permanent failures. The major reasons for failures are total ionization dose effects, displacement damage dose effects, and single event effects. Different from the case of space applications, soft errors are the major concern in terrestrial applications. In this article, a review of radiation effects on FPGAs is presented, especially soft errors in SRAM-based FPGAs. Single event upset (SEU) shows a high probability of error in the dependable application development in FPGAs. This survey covers the main sources of radiation and its effects on FPGAs, with emphasis on SEUs as well as on the measurement of radiation upset sensitivity and irradiation experimental results at various facilities. This article also presents a comparison between the major SEU mitigation techniques in the configuration memory and user logics of SRAM-based FPGAs.
The numerical simulation is performed for the acoustic emission and the wave propagation due to fiber breakage in single fiber composite plates by the finite element transient analysis. The acoustic emission and the following wave motions from a fiber breakage under a static loading is simulated to investigate the applicability of the explicit finite element method and the equivalent volume force model as a simulation tool of wave propagation and a modeling technique of an acoustic emission. For such a simple case of the damage event under static loading, various parameters affecting the wave motion are investigated for reliable simulations of the impact damage event. The high velocity and the small wave length of the acoustic emission require a refined analysis with dense distribution of the finite element and a small time step. In order to fulfill the requirement for capturing the exact wave propagation and to cover the 3-D simulation, we utilize the parallel FE transient analysis code and the parallel computing technology.
대한약학회 2002년도 Proceedings of the Convention of the Pharmaceutical Society of Korea Vol.2
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pp.314.2-314.2
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2002
DNA topoisomerases catalyze changes in DNA topology through cycles of transient DNA strand breakage and religation. During this process. the active site tyrosine in human DNA topoisomerase Ⅰ(Top Ⅰ) becomes covalently linked to the 3'-ends of a single-stranded nick in the DNA duplex, Stabilization of the Top Ⅰ-DNA cleavable complex is the common initial event leading to the cytotoxicity of top 1 inhibitors. (omitted)
Soares, Alexandre K.;Covas, Didia I.C.;Ramos, Helena M.;Reis, Luisa Fernanda R.
International Journal of Fluid Machinery and Systems
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제2권4호
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pp.269-277
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2009
The current paper focuses on the analysis of transient cavitating flow in pressurised polyethylene pipes, which are characterized by viscoelastic rheological behaviour. A hydraulic transient solver that describes fluid transients in plastic pipes has been developed. This solver incorporates the description of dynamic effects related to the energy dissipation (unsteady friction), the rheological mechanical behaviour of the viscoelastic pipe and the cavitating pipe flow. The Discrete Vapour Cavity Model (DVCM) and the Discrete Gas Cavity Model (DGCM) have been used to describe transient cavitating flow. Such models assume that discrete air cavities are formed in fixed sections of the pipeline and consider a constant wave speed in pipe reaches between these cavities. The cavity dimension (and pressure) is allowed to grow and collapse according to the mass conservation principle. An extensive experimental programme has been carried out in an experimental set-up composed of high-density polyethylene (HDPE) pipes, assembled at Instituto Superior T$\acute{e}$cnico of Lisbon, Portugal. The experimental facility is composed of a single pipeline with a total length of 203 m and inner diameter of 44 mm. The creep function of HDPE pipes was determined by using an inverse model based on transient pressure data collected during experimental runs without cavitating flow. Transient tests were carried out by the fast closure of the ball valves located at downstream end of the pipeline for the non-cavitating flow and at upstream for the cavitating flow. Once the rheological behaviour of HDPE pipes were known, computational simulations have been run in order to describe the hydraulic behaviour of the system for the cavitating pipe flow. The calibrated transient solver is capable of accurately describing the attenuation, dispersion and shape of observed transient pressures. The effects related to the viscoelasticity of HDPE pipes and to the occurrence of vapour pressures during the transient event are discussed.
Cosmic Ray Experiment (CRE)는 KITSAT-1 의 여 러 module 중 하나로 Total D Dose Experiment (TDE) 와 Cosmic Particle Experiment (CPE) 두개의 sub-system 으로 구성되어 있다. CRE 의 목적은 KITSAT-1 궤도에서의 우주 환경을 조사하는 것이다. KITSAT-1 의 궤도는 inner Van Allen belt에 위치하며, 이 지역 에셔는 고에너지 proton들이 많이 분포하고 있어 위성체에 단기적인 또는 장기적인 radiation 효과를 미치고 있다. 1년여의 설험 결과로부터 Van Allen belt가 무척 안정되어 있고 태양의 활동이 CPE,TDE 및 SEU (Single Event Upset) rate 에 영향을 줌을 알 수 있었다. 또한 CREME code 에 의해 예상됐던 것보다 많은 고에너지 입자 flux가 관찰되었다.
사이클로트론 가속기를 이용한 양성자 우주환경의 모사시험이 수행되었다. 모사시험에 사용된 사이클로트론은 양성자를 약 $10^6-10^8\;protons/cm^2/s$의 선속에서 200 MeV까지 가속 할 수 있다. 가속된 양성자는 우주에서 사용될 MPC860 소자에 입사되었으며, 양성자 조사에 의한 소자의 누적 반응과 순간 반응이 모두 관찰되었다. 주된 순간 반응은 저장된 데이터의 변화였으나, 간헐적인 기능 정지 현상도 관찰되었다. 누적 반응은 소자 내에서 소모되는 전류의 증가로 나타났다.
본 연구는 전자장비가 여러 환경에 노출되어 장비 작동에 영향을 받을 수 있으므로 해소할 수 있는 방법을 찾고자 본 연구를 시작하였다. 텔레스코픽 캐스코드 비교기에 지수정류파(iexp)을 SET(Single Event Transient) 환경으로 설정하여 어떤 영향이 있는지에 대해 실험하였다. 본 논문에서 SET 상황을 설정하지 않은 텔레스코픽 캐스코드 비교기에서는 전파 지연은 0.46㎲, 이득은 0.713으로 측정되었다. SET 상황을 입력한 텔레스코픽 캐스코드 비교기에서 FET T0(M6)는 11㎲ ~ 15㎲에서 큰 스파이크를 나타난 것으로 측정되었다. FET T1(M5)는 10㎲ ~ 16㎲에서 출력 신호가 단락되었다. FET T2(M3)는 단락된 출력신호를 나타냈으며 FET T3(M4)는 큰 스파이크 파형 형태로 출력파형이 측정되었다. FET T4(M1)와 FET T5(M2)는 스파이크 신호가 출력되었다. 그리고 모든 FET에서 전파지연은 0.45㎲~0.54㎲로 변화되었다. 결론적으로 SET 상황에서 텔레스코픽 캐스코드 비교기에 있는 FET소자는 많은 영향을 받는 것으로 측정되었다.
This paper presents the new power dissipation model of individual switching device in a high-level modular multilevel converter (MMC), which can be mostly used in voltage sourced converter (VSC) based high-voltage direct current (HVDC) system and flexible AC transmission system (FACTS). Also, the voltage balancing method based on sorting algorithm is newly proposed to advance the MMC functionalities by effectively adjusting switching variations of the sub-module (SM). The proposed power dissipation model does not fully calculate the average power dissipation for numerous switching devices in an arm module. Instead, it estimates the power dissipation of every switching element based on the inherent operational principle of SM in MMC. In other words, the power dissipation is computed in every single switching event by using the polynomial curve fitting model with minimum computational efforts and high accuracy, which are required to manage the large number of SMs. After estimating the value of power dissipation, the thermal condition of every switching element is considered in the case of external disturbance. Then, the arm modeling for high-level MMC and its control scheme is implemented with the electromagnetic transient simulation program. Finally, the case study for applying to the MMC based HVDC system is carried out to select the appropriate insulated-gate bipolar transistor (IGBT) module in a steady-state, as well as to estimate the proper thermal condition of every switching element in a transient state.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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