We have grown carbon nanotubes by thermal chemical vapor deposition of $C_{2}H_{2}$ on catalytic metal deposited on silicon oxide substrates. Highly purified carbon nanotubes are uniformly grown on a large area of the silicon oxide substrates. It is observed that surface modification of catalytic metals deposited on substrates by either etching with dipping in a HF solution and/or $NH_{3}$ pretreatment is a crucial step for the nanotube growth prior to the reaction of $C_{2}H_{2}$ gas. The diameters of carbon naotubes could be controlled by applying the different catalytic metals.
SiGe thin films were deposited by remote plasma enhanced chemical vapor deposition (RPE-CVD) at $400^{\circ}C$ using $SiH_4$ or $SiCl_4$ and $GeCl_4$ as the source of Si and Ge, respectively. The growth rate and the degree of crystallinity of the fabricated films were characterized by scanning electron microscopy and Raman analysis, respectively. The optical and electrical properties of SiGe films fabricated using $SiCl_4$ and $SiH_4$ source were comparatively studied. SiGe films deposited using $SiCl_4$ source showed a lower growth rate and higher crystallinity than those deposited using $SiH_4$ source. Ultraviolet and visible spectroscopy measurement showed that the optical band gap of SiGe is in the range of 0.88~1.22 eV.
The vapor-liquid-solid (VLS) method, where the "liquid" catalytic droplets collecting atoms from vapor precursors build the solid crystal layers via supersaturation, is a ubiquitous technique to synthesize 1-dimensional nanoscale materials. However, the lack of fundamental understanding of chemical information governing the process inhibits the rational route to the structural programming. By combining the in situ or operando IR spectroscopy with post-growth high resolution electron microscopy, we show the strong correlation between the surface chemical species concentration and nanowire structures. More specifically, the critical role of surface adsorbed hydrogen, generated from the decomposition of Si2H6 precursor on the interplay between nanowire / kinking and the defect propagation is demonstrated. Our results show that adsorbed hydrogen atoms are responsible for selecting -oriented growth and indicate that a twin boundary imparts structural coherence. The twin boundary, only continuous at / kinks, reduces the symmetry of the trijunction and limits the number of degenerate directions available to the nanowire. These findings constitute a general approach for rationally engineering kinking superstructures and also provide important insight into the role of surface chemical bonding during VLS synthesis.
We developed a vapor induced crystallization (VIC) process for the first time to obtain high quality polycrystalline Si films by sublimating the mixture of $AlCl_3$ and $NiCl_2$. The VIC process enhanced the crystallization of amorphous silicon thin films. The LPCVD amorphous silicon thin films were completely crystallized after 5 hours at 480 $^{\circ}C$. It is known that needle-like grains with very small width grow in the Ni-metal induced lateral crystallization. In our new method, the width of grains is larger because the grain can also grow perpendicular to the needle growth direction. Also the interface between the merging grain boundaries was coherent. As the results, a polycrystalline film with superior microstructure has been obtained.
Carbon-based materials such as carbon nanotubes and graphene have emerged as promising building blocks in applications for nanoelectronics and energy devices due to electrical property, ease of processability, and relatively inert electrochemistry. In recent years, there has been considerable interest in core-shell nanomaterials, in which inorganic nanowires are surrounded by inorganic or organic layers. Especially, carbon encapsulated semiconductor nanowires have been actively investigated by researchers in lithium ion batteries. We report a method to synthesize silicon nanowire (SiNW) core/carbon shell structures by chemical vapor deposition (CVD), using methane (CH4) as a precursor at growth temperature of $1000{\sim}1100^{\circ}C$. Unlike carbon-based materials synthesized via conventional routes, this method is of advantage of metal-catalyst free growth. We characterized these materials with FE-SEM, FE-TEM, and Raman spectroscopy. This would allow us to use these materials for applications ranging from optoelectronics to energy devices such as solar cells and lithium ion batteries.
A chemical vapor curing method(CVC) was developed to cure polycarbosilane(PCS) fibers by using cyclohexene vapour as a non-oxygen active reactant, instead of air in oder to prepare the silicon carbide(SiC) fiber with low oxygen content. A cross-linked PCS fibers by cyclohexene vapor showed a completely different variation in IR spectra in comparison to the air-cured PCS fiber. CVC method resulted in less than 3 wt% in oxygen content. In this experiment conditions, The average tensile strength and modulus of SiC fiber obtained by CVC had 1995 MPa and 183 GPa respectively, which is higher than that of SiC fiber prepared by air-curing process.
A twt -step carbothermal reduction scheme has been employed for the synthesis of SiC whiskers in an Ar or a H2 atmosphere via vapor-solid two-stage and vapor-liquid-solid growth mechanism respectively. It has been shown that the whisker growth proceed through the following reaction mechanism in an Ar at-mosphere : SiO2(S)+C(s)-SiO(v)+CO(v) SiO(v)3CO(v)=SiC(s)whisker+2CO2(v) 2C(s)+2CO2(v)=4CO(v) the third reaction appears to be the rate-controlling reaction since the overall reaction rates are dominated by the carbon which is participated in this reaction. The whisker growth proceeded through the following reaction mechaism in a H2 atmosphere : SiO2(s)+C(s)=SiO(v)+CO(v) 2C(s)+4H2(v)=2CH4(v) SiO(v)+2CH4(v)=SiC(s)whisker+CO(v)+4H2(v) The first reaction appears to be the rate-controlling reaction since the overall reaction rates are enhanced byincreasing the SiO vapor generation rate.
Capacitance-type alcohol gas sensors using porous silicon (PS) layer as sensitive film were fabricated to measure low alcohol gas concentration. Though sensors using porous silicon layer have show high sensitivity by large internal surface area, there is still much room for improvement to measure low breath alcohol concentration especially at room temperature. In this work, to discuss the response properties against exposure to organic vapor for breath alcohol measurements on the basis of experimental results. we measured the variation of the capacitance for the range of 0 to 0.5% alcohol concentration, and observed the improvement of sensitivity by illumination of UV light. In addition, the effect of CO2 and N2 gases involved commonly in exhaling breath was estimated, and the same procedure against methanol vapor was executed to compare qualitatively with the capacitance characteristics by alcohol vapor.
Amorphous silicon films were deposited on glass, [100] single crystal silicon wafer with thermally grown silicon dioxide, and [100] silicon wafer substrates by Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition(with argon diluted silane source gas). Growth rate, UV optical band edge, and the hydrogen quantity in the amorphous silicon films have been investigated as a function of the preparation conditions by measuring film thickness, UV-absorbency, and FT-IR transmittance. The growth rate of the ${\alpha}$-Si:H films increases with increasing substrate temperture, flow rate and R.F. power density. The UV optical band edge shifts to blue with the increases in the deposition pressure. Increasing substrate temperature shifts the UV optical band edge of the films to red. Hydrogen quantity in the ${\alpha}$-Si:H films increases with an increases in the R.F. powr and decreases with an increase in the substrate temperature.
The effectiveness of silicon nitride SiNx surface passivation is investigated and quantified. This study adopted single-layer antireflection (SLAR) coating of SiNx for efficiency improvement of solar cell. The silicon nitride films were deposited by means of plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) in planar coil reactor. The process gases used were pure ammonia and a mixture of silane and helium. The thickness and the refractive index on the films were measured by ellipsometry and chemical bonds were determined by using an FT-IR equipment. This films obtained were analyzed in term of hydrogen content, refractive index for gas flow ratio $(NH_3/SiH_4)$, and efficiency of solar cell. The polycrystalline silicon solar cells passivated by silicon nitride shows efficiency above 12.8%.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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