Test Pattern Genration for Detection of Stuck-Open and Stuck-On Faults in BiCMOS Circuits (BiCMOS 회로의Stuck-Open 고장과 Stuck-On 고장 검출을 위한 테스트 패턴 생성)
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- Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics C
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- v.34C no.1
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- pp.1-11
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- 1997