• 한국컴퓨터정보학회논문지
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• 제3권2호
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• pp.105-112
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• 1998

본 논문에서는 다중 보드를 시험하기 위한 새로운 구조인 확장된 스캔 경로(ESP: Extended Scan Path) 구조를 제안한다. 보드를 시험하기 위한 기존의 구조로는 단일 스캔경로와 다중 스캔 경로가 있다. 단일 스캔경로 구조는 시험 데이타의 전송 경로인 스캔 경로가 하나로 연결되므로 스캔 경로가 단락이나 개방으로 결함이 생기면 나머지 스캔 경로에올바른 시험 데이타를 입력할 수 없다. 다중 스캔 경로 구조는 다중 보드 시험 시 보드마다별도의 신호선이 추가된다 그러므로 기존의 두 구조는 다중 보드 시험에는 부적절하다. 제안된 ESP 구조를 단일 스캔 경로 구조와 비교하면, 스캔 경로 상에 결함이 발생하더라도 그 결함은 하나의 스캔 경로에만 한정되어 다른 스캔 경로의 시험 데이타에는 영향을 주지않는다. 뿐만 아니라, 비스트 (BIST: Built In Self Test)와 IEEE 1149.1 경계면 스캔 시험을 병렬로 수행함으로써 시험에 소요되는 시간을 단축한다. 본 논문에서는 제안한 ESP 구조와 기존 시험 구조의 성능을 비교하기 위해서 수치적 비교를 한다.

• 한국정밀공학회:학술대회논문집
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• 한국정밀공학회 2002년도 추계학술대회 논문집
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• pp.1037-1040
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• 2002

In micro-stereolithography technology, fabrication conditions that include laser power, laser scan speed, laser scan pitch, and material property of photopolymer such as penetration depth and critical exposure are considered as major process variables. But the existing scan path generation methods based only on CAD model have not taken them into account, which has resulted in cross-section dimension of low accuracy. Thus, to enhance cross-section dimensional accuracy, the physical resin solidification n phenomena should be reflected in laser scan path generation and stage operating code. In this paper, multi-line experiments based on single line solidification model are performed. And the method for improving cross-section dimensional accuracy is presented, which is to apply the database based on experimental results to laser scan path generation.

• 대한기계학회논문집A
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• 제30권3호
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• pp.334-341
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• 2006

A solid freeform fabrication (SFF) system using selective laser sintering (SLS) is currently recognized as a leading process and the SLS extends the applications to machinery and automobiles due to various employing materials. In order to fabricate a large part with SFF system, dual laser approach has been introduced. Since the building room is divided into two regions, each scan path for dual laser system is generated based on the single laser scan path. Scan paths for each laser have to be synchronized and consider mechanical strength against fracture at the interfaced region. This paper will address generation of single laser scan path which deals with special cases for unnecessary scan points and generation of dual laser scan path according to various divided regions to enhance mechanical strength. To evaluate the developed scan path method, the specimen will be fabricated and evaluated.

• 한국정보처리학회논문지
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• 제3권7호
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• pp.1924-1937
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• 1996

본 논문에서는 다중 보드를 시험하기 위한 새로운 구조인 확장된 스캔 경로 (ESP: Exlended Scan Path)와 절차를 제안한다. 보드률 시험하기 위한 기존의 구조로는 단일 스캔 경로와 다중 스캔 경로가 있다. 단일 스캔 경로 구조는 시험 데이자의 전송 경로 인 스캔 경로가 하나로 연결되므로 스캔 경로가 단락이나 개방으로 결함이 생기면 나머지 스캔 경로에 올바른 시험 데이타를 입력할 수 없다. 다중 스캔 경로 구조는 다중 보드 시험 시보드마다 별도의 신호선이 추가된다. 그러므로 기존의 주 구조는 다중 보드 시험에는 부적절하다. 제안된 ESP구조를 단일 스캔 경로 구조와 비교하면, 스캔 경로 상에 결함이 발생하더라도 그 결함은 하나의 스캔 경로에만 한정되어 다른 스캔 경로의 시험 데이타에는 영향을 주지 않는다. 뿐만 아니라, 비스트(BIST: BUILT In Self Test)와 IEEE 1149.1 경계면 스캔 시험을 병렬로 수행함으로써 시험에 소요되는 시간을 단축한다. 또한 ESP 구조를 다중 스캔 경로 구조와 비교하면, 스캔 경로마다 신호선을 공통으로 사용함으로써 다중 보드 시험 시 추가되는 신호선이 없다. 본 논문 에서는 제안한 ESP 구조와 기존 시험 구조의 성능을 비교하기 위해서, ISCAS '85벤치 마크 회로를 대상으로 각 구조의 시험 수행 시간을 비교하여 우수함을 보였다.

• Journal of Power Electronics
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• 제7권4호
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• pp.278-285
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• 2007

Recently, plasma display panels (PDP) have become the most promising candidate in the market for large screen size flat panel displays. PDPs have many merits such as a fast display response time and wide viewing angle. However, there are still concerns about high cost because they require complex driving circuits composed of high power switching devices to generate various voltage waveforms for three operational modes of reset, scan, and sustain. Conventional PDP driving circuits use path switches for voltage separation and a scan switch to offer a scan voltage for reset and scan operations, respectively. In addition, there exist reset switches to initialize PDPs by regulating the wall charge conditions with ramp shaped pulses, which means the necessity of specific power devices for the reset operation. Because power for the plasma discharge accompanied by a large current is transferred to a panel via path switches, high power rating switches are used for path switches. Therefore, this paper proposes a novel low-cost PDP driving scheme achieved by not only eliminating path switches but also merging the function of reset switches into other switches used for sustain or scan operations. The simulated voltage waveforms of the proposed topology and experimental results implemented in a 42-inch panel to demonstrate the validity of using a new gate driver that merges the functions of power switches are presented.

• 한국정밀공학회:학술대회논문집
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• 한국정밀공학회 1993년도 추계학술대회 논문집
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• pp.687-692
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• 1993

This paper deals with the generation of laser scan path for manufacturing 3-dimensional body using StereoLithography. The purpose of this study is to develop one module of the StersoLithography system(SLA) for Rapid Protyping and Manufacturing. AutoCAD system is used to supply CAD information from model. The X-Y controller which was made for a special purpose is used to test this system. The system software developed is composed of 3 main modules, the first module is calculating the boundary point os laser scan path. The scound module is generating final output file which is used to down load on the controller. The result of this study shows a good algorithm to generate laser scan path on the basis of simple mathematical background.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제38권8호
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• pp.72-84
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• 2001

마이크로파이프라인 회로의 모든 연산 소자의 타이밍은 아주 중요하다. 스캔 플립플롭을 이용한 경로 지연고장 테스팅에 관한 기존 연구들은 두 개의 테스트 패턴 중 두 번째 패턴의 조절용이도가 높아야 한다는 점을 간과하였다. 본 논문에서는 작은 면적 오버헤드로 마이크로파이프라인 회로의 경로 지연고장을 테스트 할 수 있는 새로운 스캔 래치 및 테스트 방법을 제안하였다. 새로운 스캔 래치를 사용하여 마이크로파이프라인의 경로지연고장을 테스트한 결과에서 기존연구에 비해 높은 경성 경로 지연고장 검출율을 얻었다. 또한 제안된 스캔 래치는 마이크로파이프라인의 고착고장 검출을 위한 BIST로 응용을 확대하기 쉽다.

• 대한전기학회:학술대회논문집
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• 대한전기학회 2007년도 심포지엄 논문집 정보 및 제어부문
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• pp.333-334
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• 2007

We propose a path planning method to decrease a inspection lead time of line scan camera in SMT(surface mount technology) in-line system. The inspection window area of printed circuit board should be minimized to consider the FOV(field of view) of line scan camera so that line scan inspector is going to find a optimal solution of path planning. We propose one of the hierarchical clustrering algorithm for a given board. Comparative simulation results are presented to verify the usefulness of proposed method.

• 전자공학회논문지A
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• 제32A권5호
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• pp.749-758
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• 1995

There are many testable design techniques, among which Scan path and BIST techniques are mainly used. In this paper, the increase of design effectiveness is discussed, when these techniques are applied to the practical implementation of chips. The following techniques are presented : 1) Blocks are commonly used to reduce test time without hardware increase, 2) MUX is used to implement the shortest Scan path, 3) Scan register is used which controls and/or observes several blocks to avoid the increase of hardware.

• 한국정밀공학회지
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• 제13권12호
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• pp.142-150
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• 1996

Nowadays, as the development paeiod of new products becomes even shorter, the importance of Rapid Prototyping Technology(RPT) has been rapidly increased. The major application of RPT is an early verification of product designs and quick production of prototypes for testing. Moreover, RPT is applied not only as a second tooling process such as mold making and investment casting but also as a creating some physical structure in medical field. Despite the remarkable progress of RPT, it is required to improve various problems resulting from application such as production time, accuracy and materials. This paper presents a laser scan path generation for accuracy of stereolithographicparts The methodology of laser scan path generation is discussed based on the stereolithography, The procedure of this research is as follows : 1) Input laser scanning conditions such as a laser beam diameter and a laser scanning interval, 2) Reconstruct original contours without self intersecting offset, 3) Calculate offset about reconstructed contours, 4) Calculate intersection points between horizontal or vertical lines and offset contours for internal hatch, 5) Decide laser shutter on/off points. The algorithm developed and programmed by C language is verified as an efficient method after testing a number of STL files of mechanical parts.