본 논문에서는 고장예측진단 및 건전성 관리 기법(Prognostics and Health Management, PHM)을 적용하기 위해 해당 시스템 혹은 회로 내부에서 결함특성을 감지하고 예측할 수 있는 회로 구조를 제안하였다. 기존 연구에서 회로 결함의 진행에 따라, S-parameter 크기 최소값의 주파수가 변화하는 것을 확인하였다. 이러한 특성을 기존에는 네트워크 분석기(Network Analyzer)를 활용하여 측정하였으나, 본 연구에서는 같은 결함검출기법을 활용하더라도 큰 계측장비 없이 결함의 진행상황 및 잔여 수명, 결함발생 여부를 확인할 수 있는 소형화된 회로를 설계하였다. 본 연구에서는 S-parameter의 변화를 야기하는 임피던스의 변화를 감지할 수 있도록 회로를 설계하였으며, Bond-wire의 온도반복에 따른 S-parameter 변화 측정결과를 제안하는 회로에 적용하였다. 이를 통해 해당 회로가 Bond-wire의 결함을 감지할 수 있다는 것을 성공적으로 검증하였다.
본 논문에서는 온-웨이퍼형 DUT 측정을 위한 입력 터미네이션의 정의방법을 제안하였으며, 제안된 방법으로 새롭게 정의된 입력 터미네이션과 잡음전력비에 기초한 잡음상관행렬 측정방법을 이용, 온-웨이퍼형 DUT의 잡음상관행렬을 측정하였다. 그리고 온-웨이퍼 DUT를 측정하기 위해 웨이퍼 프로브와 바이어스-티가 포함된 잡음측정 구성을 보였다. 온-웨이퍼형 DUT 측정을 위한 입력 터미네이션을 정의하기 위해서는 바이어스-티와 프로브 그리고 open으로 종단된 선로가 결합된 어댑터의 S-파라미터가 필요하며, 이를 위해 1-포트 측정을 통해 어댑터의 2-포트 S-파라미터를 결정하는 방법을 보였다. 이 측정된 어댑터의 S-파라미터 이용, 온-웨이퍼형 DUT 측정을 위한 새로운 입력 터미네이션을 정의하는 방법을 보였다. 제안된 방법으로 1.5 dB의 잡음지수를 갖는 칩 소자의 잡음상관행렬을 측정하였고, 측정된 잡음상관행렬을 이용하여 칩 소자의 잡음 파라미터 결과를 얻었다. 칩 소자의 잡음 파라미터 결과는 칩 소자의 데이터시트에 있는 잡음 파라미터 결과와 유사한 결과를 보였으며, 반복 측정을 통해 측정된 결과가 신뢰할 수 있는 결과임을 보였다.
Kim, Yong-Jin;Kim, Jang-Kyung;Lee, Young-Hee;Park, Chee-Hang
ETRI Journal
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제20권3호
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pp.251-271
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1998
It is well known that if usage parameter control/network parameter control (UPC/NPC) functions are used together with a cell loss priority control scheme in ATM networks, the measurement phasing problem can occur. This makes it difficult for a network provider to define and commit the cell loss ratio as a QoS parameter. To solve the problem, we propose a new UPC/NPC algorithm. By using the proposed UPC/NPC algorithm, we can define the cell loss ratios for CLP = 0 and CLP = 0+1 cell streams without the measurement phasing problem under any conditions. We analyzed the performance of the proposed UPC/NPC algorithm. Using a discrete time model for the UPC/NPC architecture with a discrete-time semi-Markov process (DSMP) input model, we obtained the cell discarding probabilities of CLP = 0 and CLP = 0+1 cells streams and showed that more CLP = 0 cells are accepted compared to what was proposed in ITU-T.
다양한 게이트 핑거 수(Nf)의 MOSFET에 대한 두 종류의 입력 저항이 $S_{11}$-parameter와 $Z_{11}$-parameter으로부터 변환 되어 저주파 영역에서 측정되었다. 본 연구에서 사용된 $Nf{\leq}64$의 범위에서 $S_{11}$-parameter로부터 추출된 1/Nf 종속 입력저항은 $Z_{11}$-parameter로부터 추출된 입력 저항보다 훨씬 낮은 값을 보여주며, 이러한 1/Nf 종속성은 MOSFET의 등가회로로부터 유도된 Nf 종속 비선형 방정식으로부터 이론적으로 증명하였다.
본 논문에서는 일반 측정환경에서 자유공간 물질상수 측정법을 사용한 판형 유전체의 유전율 측정 방법을 제안한다. 측정에는 회로망분석기와 동일한 두 개의 혼 안테나가 S-parameter 측정을 위해 사용되었으며, 측정 결과로부터 판형 유전체의 투과 및 반사계수를 계산하였다. 정밀한 측정을 할 수 없는 환경에서 신뢰할 수 있는 유전율을 얻기 위하여 상대적으로 측정 환경에 의한 측정불확도가 작은 투과계수의 크기만을 유전율 추정에 이용하였으며, 최종적으로 다양한 주파수에서 측정된 결과를 비교하여 유전율을 특정하였다.
International Journal of Computer Science & Network Security
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제21권7호
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pp.93-102
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2021
This study aimed to test method on the accuracy of estimating the items parameters and ability, using the Three Parameter Logistic. To achieve the objectives of the study, an achievement test in chemistry was constructed for third-year secondary school students in the course of "natural sciences". A descriptive approach was employed to conduct the study. The test was applied to a sample of (507) students of the third year of secondary school in the "Natural Sciences Course". The study's results revealed that the (EAP) method showed a higher degree of accuracy in the estimation of the difficulty parameter and the abilities of persons higher than the MML method. There were no statistically significant differences in the accuracy of the parameter estimation of discrimination and guessing regarding the difference of the two methods: (MML) and (EAP).
This paper describes an equivalent circuit modeling of 4-port connector system. A coupled transmission line was designed and fabricated, mimicking a 4-port connector system, and then S-parameters were measured using 4 port VNA (Vector Network Analyzer). The S-parameters from measurement and from Full-wave simulator coincided quite nice. By using these S parameters, an equivalent circuit parameters for a 4-port system was obtained. The time domain response from the equivalent circuit model matched to the signals, which was measured using TDR(Time Domain Reflectometry) meter. We were also convinced that there should be enough bandwidth to get a meaningful time domain result from Fourier inverse transformation of the S parameters. In addition, we applied the conversion algorithm to the 4-port connector system, which calculates the S-parameters of a 4 port system using the data from a 2-port VNA with the other ports open. Comparison of the two data, one from measurement and the other one from the conversion algorithm, was made in this manuscript.
Communications for Statistical Applications and Methods
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제2권2호
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pp.94-100
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1995
Vector autoregressive process disturbed by measurement error is a vector autoregressive process with nonlineat parametric restrictions on the parameter. A Newton-Raphson procedure for estimating the parameter which take advantage of the information contained in the restrictions is proposed.
Seo, Jihye;Nirwono, Muttaqin Margo;Park, Seong Jin;Lee, Sang Hoon
Journal of Radiation Protection and Research
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제43권1호
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pp.29-38
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2018
Background: Radon contributing about 42% of annual average dose, mainly comes from soil. In this paper, standard measurement procedures for soil radon exhalation rate are suggested and their measurement uncertainties are analyzed. Materials and Methods: We used accumulation method for estimating surface exhalation rate. The closed-loop measurement system was made up with a RAD7 detector and a surface chamber. Radon activity concentrations in the system were observed as a function of time, with data collection of 5 and 15-minute and the measurement time of 4 hours. Linear and exponential fittings were used to obtain radon exhalation rates from observed data. Standard deviations of measurement uncertainties for two approaches were estimated using usual propagation rules. Results and Discussion: The exhalation rates (E) from linear approach, with 30 minutes measurement time were $44.8-48.6mBq{\cdot}m^{-2} {\cdot}s^{-1}$ or $2.14-2.32atom{\cdot}cm^{-2}{\cdot}s^{-1}$ with relative measurement uncertainty of about 10%. The contributions of fitting parameter A, volume (V) and surface (S) to the estimated measurement uncertainty of E were 59.8%, 30.1% and 10.1%, in average respectively. In exponential fitting, at 3-hour measurement we had E ranged of $51.6-69.2mBq{\cdot}m^{-2} {\cdot}s^{-1}$ or $2.46-3.30atom{\cdot}cm^{-2}{\cdot}s^{-1}$ with about 15% relative uncertainty. Fitting with 4-hour measurement resulted E about $51.3-68.2mBq{\cdot}m^{-2} {\cdot}s^{-1}$ or $2.45-3.25atom{\cdot}cm^{-2}{\cdot}s^{-1}$ with 10% relative uncertainty. The uncertainty contributions in exponential approach were 75.1%, 13.4%, 8.7%, and 2.9% for total decay constant k, fitting parameter B, V, and S, respectively. Conclusion: In obtaining exhalation rates, the linear approach is easy to apply, but by saturation feature of radon concentrations, the slope tends to decrease away from the expected slope for extended measurement time. For linear approach, measurement time of 1-hour or less was suggested. For exponential approach, the obtained exhalation rates showed similar values for any measurement time, but measurement time of 3-hour or more was suggested for about 10% relative uncertainty.
본 논문에서는 S-파라메타를 이용한 절연 변압기의 고주파 파라메타 추출 방법을 제안한다. 정상상태에서 회로상수 추출은 고전적 방법인 무 부하, 단락 회로 시험을 통해 나온 측정값을 계산하여 추출하는 방법이 있으며, 본 논문에서는 VNA(Vector Network Analyzer)로 측정한 S-파라메타를 이용하여 추출하는 방법에 대한 연구를 수행하였다. 상용주파수인 60 Hz를 포함한 고주파 대역에서의 변압기 회로상수는 측정한 S-파라메타에 데이터 피팅(최적화) 방식을 이용하여 추출하였다. 기본적으로 절연변압기에서의 고주파 파라메타 추출은 기존에 제시하는 변압기 등가 회로에 표유정전용량(Stray capacitance)을 추가한 등가회로 형태로 제시된다. 이렇게 추출한 회로상수의 S-파라메타와 실제 측정한 S-파라메타 결과를 비교하여 유사함을 확인하였고, 변압기의 1차 측에 신호발생기를 입력한 후, 출력되는 2차 측의 전압과 고주파 등가회로를 이용하여 추출한 2차 측 전압을 비교하여 두 값이 일치하는 것을 확인하였다. 이 결과를 통해 S-파라메타를 이용한 절연 변압기의 고주파 파라메타 추출 방법의 타당성을 입증하였다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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