Abstract
In this paper, a method for measuring the dielectric constant of a planar dielectric substrate using the free space material constant measurement method in a general measurement environment is proposed. Two horn antennas and a network analyzer were used for S-parameter measurement and the transmission and reflection coefficients of a planar dielectric substrate were calculated from the measurement results. To obtain a reliable dielectric constant in a low-precision-measurement environment, only the magnitude of the transmission coefficient, which has a small error due to the measurement environment, is used for dielectric constant estimation. Finally, the dielectric constant is determined by comparing the measured results at different frequencies.
본 논문에서는 일반 측정환경에서 자유공간 물질상수 측정법을 사용한 판형 유전체의 유전율 측정 방법을 제안한다. 측정에는 회로망분석기와 동일한 두 개의 혼 안테나가 S-parameter 측정을 위해 사용되었으며, 측정 결과로부터 판형 유전체의 투과 및 반사계수를 계산하였다. 정밀한 측정을 할 수 없는 환경에서 신뢰할 수 있는 유전율을 얻기 위하여 상대적으로 측정 환경에 의한 측정불확도가 작은 투과계수의 크기만을 유전율 추정에 이용하였으며, 최종적으로 다양한 주파수에서 측정된 결과를 비교하여 유전율을 특정하였다.
