The Journal of Korea Institute of Information, Electronics, and Communication Technology
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v.15
no.2
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pp.109-116
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2022
In this paper, we propose a band rejection filter (BRF) with a state variable filter (SVF) structure to effectively remove the influence of 60 Hz line frequency noise introduced into the sensor system. The conventional BRF of the SVF structure uses an additional operational amplifier (OPAMP) to add a low pass filter (LPF) output and a high pass filter (HPF) output or an input signal and a band pass filter. Therefore, the notch frequency and the notch depth that determine the signal attenuation of the BRF greatly depend on the tolerance of the resistors used to obtain the sum or difference of the signals. On the other hand, in the proposed BRF, since the BRF output is formed naturally within the SVF structure, there is no need for a combination between each port. The notch frequency of the proposed BRF is 59.99 Hz, and it can be confirmed that it is not affected at all by the tolerance of the resistor through the Monte Carlo simulation results. The notch depth also has an average of -42.54dB and a standard deviation of 0.63dB, confirming that normal operation as a BRF is possible. Also, with the proposed BRF, noise filtering was applied to the electrocardiogram (ECG) signal that interfered with 60 Hz noise, and it was confirmed that the 60 Hz noise was appropriately suppressed.
Cold-junction correction(CJC) and disconnection detection circuit design of various thermocouples(TC) and multi-channel TC interface circuit using them were designed. The CJC and disconnection detection circuit consists of a CJC semiconductor device, an instrumentation amplifier(IA), two resistors and a diode for disconnection detection. Based on the basic circuit, a multi-channel interface circuit was also implemented. The CJC was implemented using compensation semiconductor and IA, and disconnection detection was detected by using two resistor and a diode so that IA input voltage became -0.42V. As a result of the experiment using R-type TC, the error of the designed circuit was reduced from 0.14mV to 3㎶ after CJC in the temperature range of 0℃ to 1400℃. In addition, it was confirmed that the output voltage of IA was saturated from 88mV to -14.2V when TC was disconnected from normal. The output voltage of the designed circuit was 0V to 10V in the temperature range of 0℃ to 1400℃. The results of the 4-channel interface experiment using R-type TC were almost identical to the CJC and disconnection detection results for each channel. The implemented multi-channel interface has a feature that can be applied equally to E, J, K, T, R, and S-type TCs by changing the terminals of CJC semiconductor devices and adjusting the IA gain.
Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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v.31
no.2
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pp.69-77
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2024
Due to the miniaturization and multifunctionality of electronic devices, a surface mount technology in the form of molded interconnect devices (MID), which directly forms electrodes and circuits on the plastic injection parts and mounts components and parts on them, is being introduced to overcome the limitations in the mounting area of electronic components. However, when using plastic injection parts with low thermal stability, there are difficulties in mounting components through the conventional reflow process. In this study, we developed a process that utilizes induction heating, which can selectively heat specific areas or materials, to melt solder and mount components without causing any thermal damage to the plastic. We designed the shape of an induction heating Cu coil that can concentrate the magnetic flux on the area to be heated, and verified the concentration of the magnetic flux and the degree of heating on the pad part through finite element method (FEM). LEDs, capacitors, resistors, and connectors were mounted on a polycarbonate substrate using induction heating to verify the mounting process, and their functionality was confirmed. We presented the applicability of a selective heating process through magnetic induction that can overcome the limitations of the reflow method.
Purpose: The goal of this paper is to present the design and performance of a position encoding circuit for $16{\times}16$ array of position sensitive multi-anode photomultiplier tube for small animal PET scanners. This circuit which reduces the number of readout channels from 256 to 4 channels is based on a charge division method utilizing a resistor array. Materials and Methods: The position encoding circuit was simulated with PSpice before fabrication. The position encoding circuit reads out the signals from H9500 flat panel PMTs (Hamamatsu Photonics K.K., Japan) on which $1.5{\times}1.5{\times}7.0\;mm^3$$L_{0.9}GSO$ ($Lu_{1.8}Gd_{0.2}SiO_{5}:Ce$) crystals were mounted. For coincidence detection, two different PET modules were used. One PET module consisted of a $29{\times}29\;L_{0.9}GSO$ crystal layer, and the other PET module two $28{\times}28$ and $29{\times}29\;L_{0.9}GSO$ crystal layers which have relative offsets by half a crystal pitch in x- and y-directions. The crystal mapping algorithm was also developed to identify crystals. Results: Each crystal was clearly visible in flood images. The crystal identification capability was enhanced further by changing the values of resistors near the edge of the resistor array. Energy resolutions of individual crystal were about 11.6%(SD 1.6). The flood images were segmented well with the proposed crystal mapping algorithm. Conclusion: The position encoding circuit resulted in a clear separation of crystals and sufficient energy resolutions with H9500 flat-panel PMT and $L_{0.9}GSO$ crystals. This circuit is good enough for use in small animal PET scanners.
In this paper, two schemes of generating reference voltages using enhancement-mode MOS transistors and resistors are proposed. The first one is a voltage-mode scheme where the temperature compensation is made by summing a voltage component proportional to a threshold voltage and a voltage component proportional to a thermal voltage. In the second one, that is a current-mode scheme, the temperature compensation is made by summing a current component proportional to a threshold voltage and a current component proportional to a thermal voltage. The designed circuits have been simulated using a $0.65{\mu}m$ n-well CMOS process parameters. The voltage-mode circuit has a temperature coefficient less than $48.0ppm/^{\circ}C$ and a power-supply(VDD) coefficient less than 0.21%/V for a temperature range of $-30^{\circ}C{\sim}130^{\circ}C$ and a VDD range of $3V{\sim}12V$. The current-mode circuit has a temperature coefficient less than $38.2ppm/^{\circ}C$ and a VDD coefficient less than 0.8%/V for $-30^{\circ}C{\sim}130^{\circ}C\;and\; 4V{\sim}12V$. The power consumption of the voltage-mode and current-mode circuits are $27{\mu}W\;and\;65{\mu}W$ respectively for 5V and $30^{\circ}C$. Measurement results show that the voltage-mode reference circuit has a VDD coefficient less than 0.63%/V for $30^{\circ}C{\sim}100^{\circ}C$ and has a temperature coefficient less than $490ppm/^{\circ}C\;for\;3V{\sim}6V$. The proposed reference circuits are simple and thus easy to design. The proposed current-mode reference circuit can be designed to generate a wide range of reference voltages.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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