• 제목/요약/키워드: RF test

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BIST 기법을 이용한 RF 집적회로의 테스트용이화 설계 (Testable Design of RF-ICs using BIST Technique)

  • 김용;이재민
    • 디지털콘텐츠학회 논문지
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    • 제13권4호
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    • pp.491-500
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    • 2012
  • 본 논문에서는 RF 송수신 시스템 칩 내부의 저잡음증폭기(LNA)와 전체 송수신기 시스템 테스트에 효과적인 새로운 루프백(Loopback) BIST 구조를 제안한다. 제안하는 테스트기법은 외부 테스트장비(Automatic Test Equipment)를 사용하는 기존의 테스트기법과 달리 테스트 모드에서 칩에 내장된 베이스밴드 프로세서를 테스터로 사용하므로써 테스트인가와 테스트평가등을 효율적으로 수행할 수 있는 장점을 갖는다. 높은 주파수의 테스트 출력신호는 낮은 주파수로 변환하여 베이스밴드 프로세서에서 평가하게 됨으로써 테스트용이도가 향상될 수 있다. 제안하는 테스트기법은 ATE와 같은 외부테스트장비의 필요를 최소화하고 테스트 시간과 비용을 줄여 결과적으로 칩 제조비용의 절감을 가능하게 해준다.

RF COMPATIBILITY TEST BETWEEN KOMPSAT AND TTC STATION

  • Ahn, Sang-Il;Choi, Hae-Jin
    • Journal of Astronomy and Space Sciences
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    • 제16권2호
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    • pp.191-198
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    • 1999
  • Results of RF compatibility test between KOMPSAT(Korea Multi-Purpose SATellite) and TTC(Tracking, Telemetry, and Command) station are described. S/C(Spacecreft) RF Test, telemetry test, command test, ranging test, and tracking receiver test were performed with respect to pass/fail criteria. To provide physical RF interface between KOMPSAT and TTC equipment, direct low cable and antenna-to-antenna interface were implemented. Through RF compatibility test, it was fully demonstrated that KOMPSAT and TTC equipment are functionally workable.

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이동형 RF 시험장비를 이용한 RF 호환성 시험 (RF Compatibility Test using RF Suitcase)

  • 김응현;정대원;김희섭;임정흠;이상정
    • 한국위성정보통신학회논문지
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    • 제1권2호
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    • pp.45-50
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    • 2006
  • 위성체와 지상국은 위성 운영 전에 접속이 가능한지 여부를 시험한다. 이러한 호환성 시험은 위성체와 지상국의 요구상항이 각각 검증된 후에 위성체와 지상국을 연결하여 시험한다. RF 호환성 시험의 내용은 접속 제어문서에 기술된 요구사항이 잘 개발되었는지 확인하는 것이다. 위성의 초기 운용 기간이나 일시적인 비상 운용상황에서는 항우연 지상국은 해외의 지상국을 이용한다. 해외 지상국은 국내의 특정한 위성 개발 프로그램 하에서 개발된 것이 아니기 때문에 시스템 차원에서 해외 지상국이 접속 요구사항을 만족하는지 검증해야 한다. RF 이동장비를 이용하면 항우연 지상국의 지원없이 해외 지상국에서 직접 접속 요구조건과 통신 내용을 검증할 수 있다. RF 이동장비를 이용한 RF 호환성 시험이 해외지상국과 항우연의 지상국에서 수행되었다. RF 호환성 시험의 항목은 다를 해외 지상국에서 이용할 수 있도록 표준화되었으며 발사 및 초기운용 기간의 운용 개념에 맞추었다. 시험 항목은 RF 특성, 프로토콜, 원격명령 및 원격측정 루프 시험, 지상국 접속 시험 등이다.

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저잡음 증폭기를 위한 프로그램 가능한 고주파 Built-In Self-Test회로 (Programmable RF Built-ln Self-Test Circuit for Low Noise Amplifiers)

  • 류지열;노석호
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국해양정보통신학회 2005년도 춘계종합학술대회
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    • pp.1004-1007
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    • 2005
  • 본 논문에서는 저잡음 증폭기 (Low Noise Amplifier, LNA)를 위한 프로그램 가능한 RF (고주파) BIST (Built-In Self-Test) 회로를 제안한다. 개발된 BIST 회로는 온 칩 형태로 DC 측정만을 이용하여 LNA의 RF 변수들을 측정할 수 있다. BIST 회로는 프로그램 가능한 커패시터 뱅크 (programmable capacitor banks)를 가진 test amplifier와 RF 피크 검출기로 구성되어 있다. 이러한 온 칩 회로는 각각 GSM, Bluetooth 및 IEEE802.11g의 응용을 위해 세 가지 주파수 대, 즉 1.8GHz, 2.4GHz 및 5GHz에서 사용할 수 있도록 프로그램 되어있고, LNA가 가지는 RF 사양들, 즉 입력 임피던스 및 전압이득 등을 DC 전압으로 변화시켜주는 역할을 한다.

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COMS RF호환성 시험을 위한 RF지원 장비의 설계 및 제작 (Design of RF Supporting Unit for COMS RF Compatibility Test)

  • 박덕종;박천우;안상일
    • 항공우주기술
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    • 제7권2호
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    • pp.176-186
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    • 2008
  • COMS RF호환성 시험에서 단일 동축 선로가 사용되도록 결정됨에 따라 서로 다른 주파수의 신호를 하나의 이동경로에서 교환될 수 있도록 하는 RF지원 장비가 필요하게 되었다. 이러한 RF지원 장비는 단일 동축 선로와 연동하여 정상운영에서의 위성과 지상국간의 경로손실을 모사 할 수 있어야 한다. RF지원 장비의 설계를 위해 우선 각 단품들의 측정데이터를 반영한 level diagram을 수행하였고 이로부터 위성과 지상국간의 통신환경을 적절히 모사 할 수 있음을 확인하였다. RF지원 장비가 조립된 후에 수행된 시험을 통해서 tunable attenuator를 이용하여 위성의 MODCS와 TC&R에서 요청한 input dynamic range 가 만족됨을 확인하였다. 현재 완성된 RF지원 장비는 향후 예정된 COMS RF 호환성 시험에서 사용될 것이다.

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Embedded RF Test Circuits: RF Power Detectors, RF Power Control Circuits, Directional Couplers, and 77-GHz Six-Port Reflectometer

  • Eisenstadt, William R.;Hur, Byul
    • Journal of information and communication convergence engineering
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    • 제11권1호
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    • pp.56-61
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    • 2013
  • Modern integrated circuits (ICs) are becoming an integrated parts of analog, digital, and radio frequency (RF) circuits. Testing these RF circuits on a chip is an important task, not only for fabrication quality control but also for tuning RF circuit elements to fit multi-standard wireless systems. In this paper, RF test circuits suitable for embedded testing are introduced: RF power detectors, power control circuits, directional couplers, and six-port reflectometers. Various types of embedded RF power detectors are reviewed. The conventional approach and our approach for the RF power control circuits are compared. Also, embedded tunable active directional couplers are presented. Then, six-port reflectometers for embedded RF testing are introduced including a 77-GHz six-port reflectometer circuit in a 130 nm process. This circuit demonstrates successful calibrated reflection coefficient simulation results for 37 well distributed samples in a Smith chart. The details including the theory, calibration, circuit design techniques, and simulations of the 77-GHz six-port reflectometer are presented in this paper.

새로운 저가형 고속 RF 자동화 테스트 시스템 (New Challenges for Low Cost and High Speed RF ATE System)

  • Song, Ki-Jae;Lee, Ki-Soo;Park, Jongsoo;Lee, Jong-Chul
    • 한국전자파학회논문지
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    • 제15권8호
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    • pp.744-751
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    • 2004
  • 본 논문에서는 RF소자들의 테스트시 비용 절감을 극대화 할 수 있는 저가형 고속 RF 자동화 테스트 시스템(Automatic Test Equipment, ATE)의 제작에 관하여 다루어진다. 제작된 RF ATE는 고속의 스위칭 시간과 고정밀 디지타이저를 포함한 16개의 독립적인 RF 입출력 단자를 갖고 있으며 산업 표준인 VXI(Versus module eXtensions for Instrument)와 GPIB(General Purpose Interface Bus) 인터페이스를 사용하여 구성된다. 또한 소자의 생산효율을 극대화하기 위하여 동시에 4개의 소자를 테스트할 수 있도록 시스템이 구성된다. 마지막으로 현재 가격 경쟁이 상당히 심한 소자 중 하나인 RF 전력증폭모듈올, 제작된 RF ATE를 이용하여 테스트를 진행하여 시스템 성능을 검증한다.

DESCRIPTION ON THE CONSTITUTION OF RF TEST SET FOR SOC 13M ANTENNA

  • Park, Durk-Jong;Yang, Hyung-Mo;Ahn, Sang-Il
    • 대한원격탐사학회:학술대회논문집
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    • 대한원격탐사학회 2006년도 Proceedings of ISRS 2006 PORSEC Volume I
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    • pp.208-211
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    • 2006
  • The contents of RF test set which can be used for checking the function and performance of 13m antenna installed in KARI site are described in this paper. For the purpose of considering RF test set as the transceiver in COMS, it is designed to retransmit the LRIT and HRIT in L-Band after receiving them in S-Band from 13m antenna. Additionally, this set has a function to turnaround raging tone used for the measurement of distance between satellite and 13m antenna. The required all equipments of RF test set are summarized with configuration. Measurements of several equipments which have already been delivered are described in this paper. The assembled RF test set will be used for the verification of 13m antenna

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RF Front End의 결함 검출을 위한 새로운 온 칩 RF BIST 구조 및 회로 설계 (New On-Chip RF BIST(Built-In Self Test) Scheme and Circuit Design for Defect Detection of RF Front End)

  • 류지열;노석호
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제8권2호
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    • pp.449-455
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    • 2004
  • 본 논문에서는 입력 정합(input matching) BIST(Built-In Self-Test, 자체내부검사) 회로를 이용한 RF front end(고주파 전단부)의 새로운 결함 검사방법을 제안한다. 자체내부검사 회로를 가진 고주파 전단부는 1.8GHz LNA(Low Noise Amplifier, 저 잡음 증폭기)와 이중 대칭 구조의 Gilbert 셀 믹서로 구성되어 있으며, TSMC 40.25{\mu}m$ CMOS 기술을 이용하여 설계되었다. catastrophic 결함(거폭 결함) 및 parametric 변동 (미세 결함)을 가진 고주파 전단부와 결함을 갖지 않은 고주파 전단부를 판별하기 위해 고주파 전단부의 입력 전압특성을 조사하였다. 본 검사방법에서는 DUT(Device Under Test, 검사대상이 되는 소자)와 자체내부검사회로가 동일한 칩 상에 설계되어 있기 때문에 측정할 때 단지 디지털 전압계와 고주파 전압 발생기만 필요하며, 측정이 간단하고 비용이 저렴하다는 장점이 있다.

Reliability and Validity of the Side-lying Instability and Prone Instability Tests in Patients with Lumbar Segmental Instability

  • Kim, Bo-Eon;Lee, Kwan-Woo;Park, Dae-Sung
    • 대한물리의학회지
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    • 제16권1호
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    • pp.1-7
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    • 2021
  • PURPOSE: The purpose of this study is to conduct inter-rater and intra-rater reliability tests in patients with low back pain (LBP) using the prone instability test (PIT) and side-lying instability test (SIT). We have analyzed the Korean version Oswestry disability index (K-ODI) correlations and radiograph finding (RF) for validity. METHODS: Individuals (n = 51) (mean age of 40.27 ± 13.28) with LBP for at least over a week were recruited, together with two participating physical therapist examiners. The measurement consisted of PIT, PST, K-ODI, and RF. Sensitivity (Sn), specificity (Sp), positive predictive value, negative predictive value, prevalence index, agreement %, Cohen's kappa, and prevalence-adjusted bias-adjusted kappa (PABAK) were calculated. The PIT and SIT were compared with RF for validity analysis, while PIT, SIT, K-ODI, and RF were calculated for the correlation analysis. RESULTS: The intra-rater reliability test measured for the PIT (kappa = .79, PABAK = .88) and SIT (kappa = .73, PABAK = .84), and inter-rater reliability test measured for the SIT (kappa = .80, PABAK = .88) showed good agreements. The PIT (Sn = .65, Sp = .63) and SIT validities (Sn = .68, Sp = .70) were compared with RF, showing a significant correlation in PIT and RF (r = .69), SIT and RF (r = .73), and PIT and K-ODI (r = .53). CONCLUSION: The SIT is a more comfortable position test than the PIT in patients. Both PIT and SIT have acceptable reliability and validity.