Kim, Ji-Hun;Cheon, Se-Min;Gang, In-Je;Lee, Heon-Ju
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2011.02a
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pp.213-213
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2011
DC arc plasmatron is powerful plasma source to apply etching and texturing processing. Even though DC arc plasmatron has many advantages, it is difficult to apply an industry due to the small applied area. To increase an effective processing area, we suggest a DC-RF hybrid plasma system. The DC-RF hybrid plasma system was designed and made. This system consists of a DC arc plasmatron, RF parts, reaction chamber, power feeder, gas control system and vacuum system. To investigate a DC-RF hybrid plasma, we used a Langmuir probe, OES (Optical emission spectroscopy), infrared (IR) light camera. For RF matching, PSIM software was used to simulate a current of an impedance coil. The results of Langmuir probe measurements, we obtain a homogeneous plasma density and electron temperature those are about $1{\times}1010$ #/cm3 and 1~4 eV. The DC-RF hybrid plasma source is applied for plasma etching experimental, and we obtain an etching rate of 10 ${\mu}m$/min. through a 90 mm of reaction chamber diameter.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.29
no.5
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pp.357-362
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1996
Several applications of radio-frequency (RF) thermal plasma to film formation are reviewed. Three types of injection plasma processing (IPP) technique are first introduced for the deposition of materials. Those are thermal plasma chemical vapor deposition (CVD), plasma flash evaporation, and plasma spraying. Radio-frequency (RF) plasma and hybrid (combination of RF and direct current(DC)) plasma are next introduced as promising thermal plasma sources in the IPP technique. Experimental data for three kinds of processing are demonstrated mainly based on our recent researches of depositions of functional materials, such as high temperature semiconductor SiC and diamond, ionic conductor $ZrO_2-Y_2O_3$ and high critical temperature superconductor $YBa_2Cu_3O_7-x$. Special emphasis is given to thermal plasma flash evaporation, in which nanometer-scaled clusters generated in plasma flame play important roles as nanometer-scaled clusters as deposition species. A novel epitaxial growth mechanism from the "hot" clusters namely "hot cluster epitaxy (HCE)" is proposed.)" is proposed.osed.
Park, In Yong;Lee, Jang Jae;Kim, Si-Jun;Lee, Ba Da;Kim, Kwang Ki;Yeom, Hee Jung;You, Shin Jae
Journal of the Semiconductor & Display Technology
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v.15
no.2
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pp.6-10
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2016
In RF plasma processing, when the plasma is generated, there is the difference of impedance between RF generator and plasma source. Its difference is normally reduced by using the matcher and the RF power is transferred efficiently from the power generator to the plasma source. The generated plasma has source impedance that it can be changed during processing by pressure, frequency, density and so on. If the range of source impedance excesses the matching range of the matcher, it cannot match all value of the impedance. In this research, we studied the elevation mechanism of the RF power delivery efficiency between RF generator to the plasma source by using the transmission line and impedance tuning of the plasma source. We focus on two plasma sources (capacitive coupled plasma (CCP), inductive coupled plasma (ICP)) which is most widely used in industry recently.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.29
no.5
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pp.371-378
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1996
An RF inductively coupled plasma (ICP) torch has been developed as a typical thermal plasma generator and reactor. It has been applied to various materials processings such as plasma flash evaporation, thermal plasma CVD, plasma spraying, and plasma waste disposal. The RF ICP reactor has been generally operated under one atmospheric pressure. Lately the characteristics of low pressure RF ICP is attracting a great deal of attention in the field of plasma application. In our researches of RF plasma applications, low pressure RF ICP is mainly used. In many cases, the plasma generated by the ICP torch under low pressure seems to be rather capacitive, but high density ICP can be easily generated by our RF plasma torch with 3 turns coil and a suitable maching circuiit, using 13.56 MHz RF generator. Plasma surface modification (surface hardening by plasma nitriding and plasma carbo-nitriding), plasma synthesis of AIN, and plasma CVD of BN, B-C-N compound and diamond were practiced by using low pressure RF plasma, and the effects of negative and positive bias voltage impression to the substrate on surface modification and CVD were investigated in details. Only a part of the interesting results obtained is reported in this paper.
It has been reported that the surface properties of the plasma treated material were changed while maintaining its bulk properties. In this study, surface modification of nylon fiber by plasma treatment was tried to attain high water-repellency Nylon fiber was treated with RF plasma under a vacuum system using various parameters such as gas specious, processing time and processing power. Morphological changes by low pressure plasma treatment were observed using scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM). Moreover, the mechanical and inherent properties were analyzed by tensile strength, differential scanning calorimetry (DSC) and thermogravimetric analysis (TGA). The high water-repellency property of nylon fiber was evaluated by a water-drop standard test under various conditions in terms of aging effect. The results showed that the water-repellency of plasma-surface-treated nylon fiber was greatly improved compared to untreated nylon fiber.
RF biased inductively coupled plasma (ICP) is widely used in semiconductor and display etch processes which are based on vacuum science. Up to now, researches on how rf-bias power affects have been focused on the controls of dc self-bias voltages. But, effect of RF bias on plasma parameters which give a crucial role in the processing result and device performance has been little studied. In this work, we studied the correlation between the RF bias and plasma parameters and the recent published results were included in this paper. Plasma density was changed with the RF bias power and this variation can be explained by simple global model. As the RF bias was applied to the ICP, increase in the electron temperature from the electron energy distribution was measured indicating electron heating. Plasma density uniformity was enhanced with the RF bias power. This study can be helpful for the control of the optimum discharge condition, as well as the basic understanding for correlation between the RF bias and plasma parameters.
Proceedings of the Korean Society of Propulsion Engineers Conference
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2010.11a
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pp.781-783
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2010
Chonbuk national university High-enthalpy plasma research center is under construction for 60kW and 200kw ICP(RF) Plasma system as Advance Material R&D and production equipment. The 60kW & 200kW ICP(RF) plasma systems will contribute to promote Korea's material industrial development and Thermal plasma technology.
Radio frequency (RF) plasma treatment is studied for the size reduction and the spheroidization of coarse particles to change them into nano-sized powders of spherical shape in MLCC fields. The uni-nanoadditives manufactured by RF plasma processing for high dispersion have been investigated for the effect on core-shell structure in dielectrics of MLCC. Microstructures have been characterized using scanning electron microscope (SEM), transmission electron microscope (TEM) and Electron Probe Micro Analyzer (EPMA). We compared the distribution of core-shell grains between specimens manufactured using uni-nanoadditive and using mixed additive. In addition, the uniformity of rare earth elements in the core-shell structured grains was analyzed. It was shown, from TEM observations, that the sintered specimen manufactured using uni-nanoadditives had more dense small grains with well-developed core-shell structure than the specimen using mixed additives, which had a homogeneous microstructure without abnormal grain growth and shows broad temperature coefficient of capacitance (TCC) curves in all temperature ranges because of well dispersed additives.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.29
no.6
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pp.781-787
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1996
Silicom oxide films with good water repellency were prepared by rf plasma-enhanced CVD (rf-PECVD) using four kinds of organosilicon compound, which had different number of methyl ($CH_3$) groups, and oxygen as gas sources. The differences in the deposition rates, film composition and film properties were studied in detail. Water repellency depended on the number of $CH_3$ groups in the organosilicon compounds and the partial pressure of oxygen in the plasma. The highest contact angle for water drops, about 95 degrees, was obtained when trimethy lmethoxy silane (TMMOS) was used. The contact angle decreased with the amount of oxygen gas introduced into the plasma. The dissociation of $CH_3$ groups by adding oxygen was comfirmed by Fourier transform infrared spectroscopy(FTIR) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). The optical properties were estimated by double-beam spectroscopy and ellipsometry. The transmittance of the glass plate coated by the film prepared with tetramethoxy silane (TMOS) was about 90% and the refractive index of film was 1.44. This value was smaller than the refractive index of a glass plate(soda lime glass, refractive index is 1.515) and this film played a role of anti-refractive coating.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2013.02a
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pp.203-203
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2013
Low pressure plasmas play a key role in many areas including electronic, aerospace, automotive, biomedical, and toxic waste management industries, and the advantages of the plasma are well known the processing procedure is established. However, the insight behavior of the discharges remains a mystery, even though a simple geometry as capacitive discharges. In this work, we measured RF power dissipation in capacitively coupled plasma (CCP) at various experiment conditions with potential probe and RF current probe. Through the results, we will have a clearer view of the inner nature of the CCP.
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