TiAlN thin films were prepared by a multi target r.f magnetron sputtering system under different conditions. We have investigated the resistivity and T.C.R. (Temperature Coefficient of Resistance) characteristics of TiAlN films deposited on $Al_2O_3$ and glass substrates by sputtering in an $Ar:N_2$ gas mixture. We used Al and Ti metal as Target Material and $Ar:N_2$ gas as working gas. We varied the partial pressure ratio of $N_2/Ar$ from 0.2/7 to 1.0/6.2 (SCCM). And the R.F power of Ti and Al Target also were varied as 160/240, 200/200 and 240/160(W). In this experiment, we can get the precision thin film resistor with a very low T.C.R. (Temperature Coefficient of Resistance) below 25 ppm ${\Omega}/^{\circ}C$.
In this parer aluminium-doped zinc oxide(ZnO:Al) conducting layer was deposited on polyethylene terephthalate(PET) substrate by r. f. magnetron sputtering method. The effects of gas pressure and r. f. sputtering power on the structural and electrical properties of ZnO:Al thin film were investigated experimentally. Especially the effect of position of PET substrate on the electrical properties of the film was studied and fixed to improve the electrical properties and also to increase the deposition rate. The results show that the structural and electrical properties of ZnO:Al thin film were strongly influenced by the gas pressure and sputtering power. The minimum resistivity of $1.1{\times}10^{-3}[{\Omega}-cm]$ was obtained at 5[mTorr] of gas pressure, and 18D[W] of sputtering power. The deposition rate of ZnO:Al film at 5[mTorr] of gas pressure was 248[nm/min]. and is higher by around 3 times compared to that at 25[mTorr].
한국정보디스플레이학회 2002년도 International Meeting on Information Display
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pp.822-824
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2002
Transparent conducting ZnO:$Ga_2O_3$ thin films were deposited on glass substrates using rf magnetron sputtering method. The ZnO:$Ga_2O_3$ thin films were highly c-axis oriented normal to the substrates and had smooth surface features. The sheet resistance of the films was 2.8-6.4 ${\Omega}/{\square}$ at the growth temperature ranging from 25 to 30$^{\circ}C$.
Cubic boron nitride (c-BN) is a promising material for use in many potential applications because of its outstanding physical properties such as high thermal stability, high abrasive wear resistance, and super hardness. Even though 316L austenitic stainless steel (STS) has poor wear resistance causing it to be toxic in the body due to wear and material chips, 316L STS has been used for implant biomaterials in orthopedics due to its good corrosion resistance and mechanical properties. Therefore, in the present study, c-BN films with a $B_4C$ layer were applied to a 316L STS specimen in order to improve its wear resistance. The deposition of the c-BN films was performed using an r.f. (13.56 MHz) magnetron sputtering system with a $B_4C$ target. The coating layers were characterized using XPS and SEM, and the mechanical properties were investigated using a nanoindenter. The friction coefficient of the c-BN coated 316L STS steel was obtained using a pin-on-disk according to the ASTM G163-99. The thickness of the obtained c-BN and $B_4C$ were about 220 nm and 630 nm, respectively. The high resolution XPS spectra analysis of B1s and N1s revealed that the c-BN film was mainly composed of $sp^3$ BN bonds. The hardness and elastic modulus of the c-BN measured by the nanoindenter were 46.8 GPa and 345.7 GPa, respectively. The friction coefficient of the c-BN coated 316L STS was decreased from 3.5 to 1.6. The wear property of the c-BN coated 316L STS was enhanced by a factor of two.
Aluminum and hydrogen doped zinc oxide (AZHO) films were prepared by r.f. magnetron sputtering. The structural, electrical, and optical properties of the AHZO films were investigated in terms of the annealing conditions to study the thermal stability. The XRD measurements revealed that the degree of c-axis orientation was decreased and the crystallintiy of the films was deteriorated by the heat treatment. The electrical resistivity was significantly increased when the films were annealed at higher temperature. Although the optical transmittance of AHZO films didn't highly changed by heat treatment, the optical band gap was reduced, regardless of annealing temperature and duration. The thermal stability of AHZO films was worse compared to AZO films.
Tin oxide thin films doped with silicon as anodes for lithium secondary battery were fabricated by R.F. magnetron sputtering technique. The electrochemical results showed that the irreversible capacity was reduced during the first discharge/charge cycle, because the audition of silicon decreased the oxidic state of Tin. Capacity was increased with the increase of substrate temperature, however decreased with the increase of RTA temperatures. The reversible capacity of thin films fabricated under the substrate temperature of $300^{\circ}C$ and the Ar:$O_2$ratio of 7:3 was 700mA/g.
R.F. magnetron sputtering에 의해 $Al_2O_3$ 기판상에 $LaFeO_3$ 박막을 증착하고 막의 구조적, 전기적 및 가스감도 특성을 조사하였다. $600^{\circ}C$ 이상에서 열처리 된 박막에서 (121) 방향의 주결정상을 확인할 수 있었고 가스감지특성에서 박막은 p형 반도체의 특성을 보였다. 박막의 두께 및 열처리 온도의 변화에 대하여, 감도는 박막의 두께변화에는 둔감하였지만 열처리온도에는 큰 변화를 보였다. $800^{\circ}C$에서 열처리된 두께 400 nm의 박막에서 동작온도가 $300^{\circ}C$일때 5000 ppm의 CO 가스에 대해서는 약 400%, 350 ppm의 $NH_3$ 가스에서는 약 60%의 감도를 보였다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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