Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제5권2호
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pp.66-70
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2004
The Sr$\_$0.7/Bi$\_$2.3/Ta$_2$O$\_$9/(SBT)thin films are deposited on Pt-coated electrode (Pt/TiO$_2$/SiO$_2$/Si) using a RE magnetron sputtering method. The ferroelectric properties of SBT capacitors with annealing times were studied. As a result of conducting the X-ray diffraction analysis and the electron microscopy analysis, the perovskite phase began to grow from 10 minutes after annealing the specimen, and excellent crystallization was accomplished at 60 minutes after annealing the specimen. The remanet polarization (2P$\_$r/) value and the coercive electric field (E$\_$c/) of the SBT thin film specimen showed the most excellent characteristics at 60 minutes after annealing the specimen, which were approximately 12.40 C/$\textrm{cm}^2$ and 30 kV/cm, respectively. The leakage current density of the SBT thin film specimen as annealed for 60 minutes was approximately 2.81${\times}$10$\^$-9/A/$\textrm{cm}^2$.
Highly homogeneous PZT powder was prepared by a partial oxalate method using chemicals of (Z $r_{0.53}$$Ti_{0.47}$) $O_2$, Pb(N $o_3$)$_2$and (COOH)$_2$ㆍ2$H_2O$. N $b_2$$O_{5}$ addition effect on microstructure and electrical properties of PZT ceramics was investigated. When the precursors were calcined at 71$0^{\circ}C$, a single perovskite phase was obtained. After sintering at 110$0^{\circ}C$, X-ray diffraction Patterns showed coexistence of rhombohedral and tetragonal phases regardless of the N $b_2$$O_{5}$ content. As the content of N $b_2$$O_{5}$ increased, grain size decreased but sintered density increased. The electromechanical coupling factor of kp and the piezoelectric constant of $d_{31}$ increased linearly with the content of N $b_2$$O_{5}$, and those values reached 0.7 and -200, respectively, when 1.2 mol% of N $b_2$$O_{5}$ is added. is added.ded.
Kim, Yong-Joo;Rawal, Sher Bahadur;Sung, Sang-Do;Lee, Wan-In
Bulletin of the Korean Chemical Society
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제32권1호
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pp.141-144
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2011
We report the synthesis of $SrTiO_3$, $BaTiO_3$ and $Ba_xSr_{1-x}TiO_3$ (BST) nanoparticles (NPs) in various compositions (x = 0.25, 0.5 and 0.75) by an inorganic sol-gel method under a basic condition. Highly crystalline nanoparticles were formed at the reaction temperature of 25 - $100^{\circ}C$ from a stabilized titanium alkoxide in tetramethylammonium hydroxide (TMAH) and barium or strontium acetate in aqueous solution. Morphology and particle structure of the synthesized BST NPs were characterized by scanning electron microscopy (SEM), X-ray diffraction (XRD) and transmission electron microscopy (TEM). The BST nanoparticles in various compositions were monodispersed without mutual aggregation, and their average sizes were in the range of 70 - 80 nm. Furthermore, they showed highly crystallized perovskite phase over the whole composition range from $SrTiO_3$ to $BaTiO_3$. We also proposed a mechanism for the low-temperature formation of BST NPs.
Dielectric and electrostrictive properties of 0.99Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-0.01Pb(Mn2/3W1/3)O3 system using KCl-NaCl salts have been investigated as a function of the amount of excess MgO. For the specimens calcined at $700^{\circ}C$ for 1h and then sintered at 115$0^{\circ}C$ for 4h, the perovskite phase and the relative density were about 98% and 95%, respectively. With the addition of excess MgO up to 10mol%, the dielectric constant and the electrostrictive strain increased due to the increase of density and grain size, and these properties were degraded by the further addition of excess MgO. For the 10mol% excess MgO added specimen, the maximum electrostrictive strain, Xmax, and the electrostrictive coefficient, Q11, were 4.5$\times$10-4, 3.5$\times$10-2m4/C2, respectively. These results were correlated with the property of PMW and microstructure.
The effect of excess Bi contents on the ferroelectric properties of B $i_{3.25}$ L $a_{0.75}$$Ti_3$$O_{12}$ (BLT) thin films has been investigated. Bismuth lanthanum titanate thin films with excess Bi contents were prepared onto Pt/Ti/ $SiO_2$/Si substrate by metalorganic decomposition (MOD) technique. The structure and morphology of the films were analyzed using X-ray diffraction (XRD) and atomic force microscopy (AFM), respectively. From the XRD analysis, BLT thin films show polycrystalline structure and the layered-perovskite phase was obtained over 10% excess of Bi contents. As a result of ferroelectric characteristics related to the Bi content of the BLT thin film, the remanent polarization and dielectric constant decreased with increasing over Bi content of 10% excess. The BLT film with Bi content of 10% excess was measured to have a dielectric constant of 326 and dielectric loss of 0.024. The BLT thin films showed little polarization fatigue test up to 3.5$\times$10$^{9}$ bipolar switching cycling.
S $r_{0.89}$B $i_{2.4}$T $a_2$$O_{9}$ (SBT) thin films are deposited on Pt-coated electrode(Pt/Ti $O_2$/ $SiO_2$/Si) using RF magnetron sputtering method. In the XRD pattern, the SBT thin films had (105) orientation. As annealing temperature was increased from $600^{\circ}C$ to 85$0^{\circ}C$, the intensities of peak were increased. In the SEM images, Bi-layered perovskite phase was crystallized above $650^{\circ}C$ and rod-like grains grew above 75$0^{\circ}C$. The maximum remanent polarization and the coercive electric field at annealing temperature of 75$0^{\circ}C$ are 11.60$\mu$C/$\textrm{cm}^2$ and 48kV/cm respectively. The dielectric constant and leakage current density at annealing temperature of 75$0^{\circ}C$ are 213 and 1.01x10$^{-8}$ A/$\textrm{cm}^2$, respectively. The fatigue characteristics of SBT thin filmsdid not change up to 10$^{10}$ switching cycles.s.s.
In this present study, the luminescence characteristics and mechanism of energy $CaTiO_3$:Pr phosphor were studied using disk specimens sintered at various temperatures and envirenment. A single-phase $CaTiO_3$:Pr was synthesized by sintering above 140$0^{\circ}C$ and its crystal structure was found to be perovskite orthorhombic. A dominant peak around 360 nm and a broad peak around 395 nm were observed in the PLE(Photoluminescence Excitation) spectrum of $CaTiO_3$:Pr with fixed emission wavelength at 612 nm, the decay time of 360 nm excitation was found to be longer than that of 395 nm excitation. From this result, it is assumed that the free carrier excited to 360 nm is transferred to 395 nm energy level. Therefore, the decrease in 395 nm intensity observed in CaTiO$_3$:Pr specimens sintered in Ar gas environment induced shorter decay time and improved CL luminescence.
The Sr$\_$0.7/Bi$\_$2.6/Ta$_2$O$\_$9/(SBT) thin films are deposited on Pt-coated electrode(Pt/TiO$_2$/SiO$_2$/Si) using RF magnetron sputtering method. The structural and electrical properties of SBT capacitors were influenced with annealing atmosphere. In the XRD pattern, the SBT thin films in all annealed atmosphere had (105) orientation. In the SEM images, Bi-layered perovskite phase was crystallized in all annealing atmosphere and grain largely grew in oxygen annealing atmosphere. The maximum remnant polarization and the coercive electric field in oxygen annealing atmosphere are 12.40[${\mu}$C/cm$^2$] and 30[kV/cm] respectively. The dielectric constant and leakage current density of capacitors annealed oxygen atmosphere are 340 and 2.13${\times}$10$\^$-9/ [A/cm$^2$] respectively. The fatigue characteristics of SBT capacitors did not change up to 10$\^$10/ switching cycles.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제8권4호
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pp.149-152
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2007
[ $(Ba_{0.6}Sr_{0.3}Ca_{0.1})TiO_3$ ](BSCT) thick films doped with 0.1 mol% $MnCO_3\;and\;Yb_2O_3(0.1{\sim}0.7mol%)$ were fabricated by the screen printing method on the alumina substrates. And the structural and electrical properties as a function of $Yb_2O_3$ amount were investigated. The exothermic peak was observed at around $680^{\circ}C$ due to the formation of the poly crystalline perovskite phase. The lattice constants of the BSCT thick film doped with 0.7 mol% is 0.3994 nm. The specimen doped with 0.7 mol% $Yb_2O_3$ showed dense and uniform grains with diameters of about $4.2{\mu}m$. The average thickness of all BSCT thick films was approximately $70{\mu}m$. Relative dielectric constant and dielectric loss of the specimen doped with 0.7 mol% $Yb_2O_3$ were 2823 and 3.4%, respectively. The Curie temperature of the BSCT thick films doped with 0.1 mol% $Yb_2O_3$ was $46^{\circ}C$.
In this study, the opto-electric properties of EL devices with PMN dielectric layer with variation of firing tempereature were investigated. For the PMN dielectric layer process, the paste was prepared by optimization of quantitative mixing of PMN powder, $BaTiO_3$, Glass Frit, $\alpha$-Terpineol and ethyl cellulose. The EL device stack consists of Alumina substrate ($Al_2O_3$), metallic electrode (Au), insulating layer (manufactured PMN paste), phosphor layer (ELPP- 030, ELK) and transparent electrode (ITO), which is well structure as a thick film EL device. The phase transformation properties of PMN dielectric with various firing temperatures of $150^{\circ}C$ to $850^{\circ}C$ was characterized by XRD. Also the opto-electric properties of EL devices with different firing temperature were investigated by LCR meter and spectrometer. We found the best opto-electric property was obtained at the condition of $550^{\circ}C$ firing which is 3432.96 $cd/m^2$ at 1948.3 pF Capacitance, 40 kHz Frequency, 40% Duty, Vth+330 V voltage.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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