• 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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• 한국전기전자재료학회 2007년도 추계학술대회 논문집
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• pp.33-33
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• 2007

In PDP industry, the dielectrics and barrier ribs have been required with low dielectric constant, low melting point and Pb-free composition due to the low power consumption, low signal delay time and the environment restriction. We were studied with $B_2O_3-Al_2O_3$-SrO glass systems about optical, thermal and dielectric properties. The glass forming region of the $B_2O_3-Al_2O_3$-SrO glass systems was narrow due to the amount of the glass former $(B_2O_3)$. The glass transition temperature (Tg) of the glasses was at $550{\sim}590^{\circ}C$. The glasses have 6~8 for the dielectric constant. Furthermore, the transmittance of the glasses was over 80% on the range of the visible ray. From the results, the glasses of the $B_2O_3-Al_2O_3$-SrO glass systems should enable to be a good candidate of the PDP devices for information display with low dielectric constant. The aim of this study is to give a fundamental result of new glass system for low dielectric constant in the information display.

• 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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• 한국전기전자재료학회 2009년도 추계학술대회 논문집
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• pp.200-200
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• 2009

상용의 디스플레이로 널리 사용되고 있는 PDP(Plasma Display Panel)는 LCD와의 시장 경쟁으로 인하여 극한의 원가 경쟁 하에 있다. 따라서 각 공정에 대한 공정단가를 낮추기 위한 다양한 공정 및 소재 연구가 진행되고 있다. 그 가운데 하나가 Address와 Bus 전극으로 사용되고 있는 Ag 전극의 저온 소결이다. 이 공정은 저온소결 소재의 개발과 전극에 접촉하는 유전체 층과 matching이 중요하기 때문에 이들 소재의 동시 개발이 필요한 실정이다. 본 연구에서는 Ag 전극의 저온 소성을 위한 다양한 가능성을 검토하였다. 또한, 유전체와 동시 소결 가능한 소재의 특성 향상 및 저온 소성 연구를 동시에 수행하였다. Glass에 대한 유전체 층의 인쇄와 유전체 위에 전극 입자의 크기제어를 통한 기본 조성의 matching 특성을 비교하고 입자 크기가 전극의 소결 온도에 미치는 영향을 비교 평가 하였다. 유전체 층과의 matching 특성을 향상하기 위하여 유전체 조성의 일부를 전극에 첨가하여 두 소재간의 결합력을 증대시키기 위한 실험을 진행하였다. 그 결과를 바탕으로 저온 동시소성이 가능한 전극 소재의 최적화 실험을 실시하고 그 결과 최적의 전극 소재를 제시하였다.

• 한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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• 한국정보디스플레이학회 2004년도 Asia Display / IMID 04
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• pp.703-706
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• 2004

This paper deals with the various sealing conditions in a vacuum and the discharge characteristics. The MgO thin film is prepared by e-beam evaporation method. Sealing process was performed in a vacuum at panel temperature of 430 $^{\circ}C$. We find the cracks on the MgO film surface, which results in higher discharge voltage and lower luminous efficiency. The vacuum in-line sealing technology does not require additional annealing process but induces the MgO cracks because of the high temperature sealing cycle in a vacuum. Therefore we modify the vacuum in-line sealing cycle which the MgO cracks are not found and the good characteristics of plasma displays are found in higher sealing pressure at sealing temperature of 430 $^{\circ}C$.

• 한국세라믹학회지
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• 제38권4호
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• pp.337-342
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• 2001

PDP(Plasma Display Panel)용 녹색 형광체인 Zn$_2$SiO$_4$:Mn에 채-dopant로 Al을 첨가하여 졸-겔법으로 합성하였다. 졸-겔법으로 제조한 형광체는 기존의 고상 반응에 의해 합성된 경우보다 낮은 온도(1000-110$0^{\circ}C$)에서 Zn$_2$SiO$_4$단일상을 형성하였으며, 300-500nm의 비교적 균일한 입자를 얻을 수 있었다. 또한, co-dopant인 Al을 첨가함으로써 발광휘도를 향상시키고, 전광시간을 줄일 수 있었다. 한편, TEOS의 가수분해시 $H_2O$/TEOS 비율을 조절하여 발광의 최적 조건을 조사하였다.

• 한국조명전기설비학회:학술대회논문집
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• 한국조명전기설비학회 2008년도 추계학술대회 논문집
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• pp.3-6
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• 2008

PDP는 어드레스 기간 동안 유전체 위에 축적한 벽전하(Wall-Charge)를 이용하여 화상정보를 입력함으로서 표시방전 셀을 결정할 수 있다. 따라서 벽전하의 해석은 방전 셀 특성을 분석하기 위한 중요한 요소이나 실제 X-Y 전극 간 벽전압은 다른 인가 펄스의 영향과 공간전하의 영향이 작용하여 측정이 쉽지 않다. 본 논문에서는 공간전하의 영향과 다른 인가 펄스의 영향을 고려하여 실제 표시방전 펄스의 방전 조건과 동일한 조건을 만들어 벽전하가 소거된 상황의 방전개시전압을 측정하였으며 측정된 결과를 통해 벽전압을 계산하였다. 또한 공간전하 발생 후 시간을 변화시키면서 방전지연시간과 방전강도를 측정하여 방전 시 발생한 공간전하에 의한 영향을 분석하였다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제44권12호
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• pp.12-17
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• 2007

본 연구에서는 전자빔 증착의 증착률이 MgO 보호막의 특성과 제작된 PDP의 방전 특성에 주는 영향에 대하여 연구, 분석 하였다. MgO 박막을 여러 조건의 증착률로 증착하였고, 이 후 결정 구조, 표면 거칠기, 박막 구조와 같은 특성을 XRD, AFM 등을 사용하여 측정, 평가하였다. 실험 결과와 Paschen law을 통해서 $5\AA/sec$의 증착률에서 이차전자방출이 최대가 되는 것을 확인할 수 있었으며, 동일 조건에서 방전 전압이 가장 작고, 발광 효율은 가장 큰 값을 갖는 것이 확인되었다. 또한 $5\AA/sec$의 (200) 결정 방향과 $F^+$ center 측정값도 가장 높게 측정되었다. XRD와 CL 스펙트럼의 결과를 통하여 이차전자방출계수가 MgO 박막의 분자 결정상의 $F/F^+$ centers구조와 관련 있음을 확인할 수 있었다.

• 한국진공학회지
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• 제16권3호
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• pp.181-186
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• 2007

본 연구에서는 플라즈마 디스플레이 패널의 방전 특성과 MgO 보호막 물성에 영향을 미치는 MgO 증착률에 대해 분석을 하였다. 물성 특성으로 결정 방향과 표면 거칠기 결정 구조 및 음극선 발광을 XRD (X-ray Diffraction), AFM (Atomic Force Microscopy), Mono-CL (Mono Cathode Luminescence analysis)등을 이용하여 측정하였고, 방전 특성으로는 방전개시전압과 방전 전류, 휘도를 진공 챔버와 오실로스코프 (TDS 540C), 전류 프로브 (TCP 312A), 휘도 색차계 (CS-100A)를 이용하여 측정하였다. 실험 결과 $5{\AA}/sec$의 증착률이 최적의 증착률임을 확인하였고, 또한 MgO의 증착률에 따라서 MgO 보호막의 물성특성이 변화하고 이에 의해서 전기적 광학적 특징이 영향을 받는 것을 확인하였다. 즉, 증착률 $5{\AA}/sec$을 기준으로 증착률이 증가할수록 (200) 결정 방향 및 음극선 발광의 밀도가 감소되고, 동작 전압은 증가하며 점차 효율이 나빠지는 경향을 보인다.

• 전자공학회논문지SC
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• 제40권6호
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• pp.39-47
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• 2003

본 논문에서는 세폭소거 방식에 관한 연구를 하였으며, 종래에는 세폭소거 이후 전극에 벽전하가 쌓이지 않게 하기 위해 X전극과 Y전극의 전압 레벨을 같게 하여 벽전하를 소거한 반면, 본 논문에서는 세폭소거 이후 X전극과 Y전극의 전압 레벨을 다르게 하고 유지구간에서 스위치의 펄스 타이밍을 조절하여 약한 방전을 일으키게 한 뒤 벽전하를 소거하였다. 실험결과 종래의 방식은 Y_Reset 전압이 150V, 서스테인 전압이 180V일 때 어드레스 전압 마진이 31.3V로 가장 크게 나타났다. 본 논문에서 제안한 방식은 Y_Reset 전압이 100V, 서스테인 전압이 180V, 185V일 때, 어드레스 전압 마진이 38.3Y로 가장 크게 나타났다. 본 논문에서 제안한 방식으로 인하여 종래의 방식 보다 약 7V(22%)정도의 전압마진을 더 확보할 수가 있었다.

• Journal of KIEE
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• 제11권1호
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• pp.41-45
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• 2001

The addressing time should be reduced by modifying cell structure and/or driving method in order to replace the dual scan system by single scan and increase the luminance in large ac plasma display panel(PDP). In this paper, the effects of the dielectric layer thickness and the barrier rib height on the addressing time of ac PDP are investigated. It is found out that the addressing time was decreased with decreasing thickness of dielectric layer on the front glass and thickness of white dielectric layer on the rear glass. The decreasing rate were 160ns/10${\mu}{\textrm}{m}$ and 270nsd/10${\mu}{\textrm}{m}$, respectively. Also in case of decreasing the height of barrier rib, addressing time was decreased at the rate of 550ns/10${\mu}m$.

• 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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• 한국전기전자재료학회 2003년도 하계학술대회 논문집 Vol.4 No.2
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• pp.857-860
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• 2003

Tin doped indium oxide(ITO) and Al doped zinc oxide(ZnO:Al) films, which are widely used as a transparent conductor in optoelectronic devices such as solar cell, liquid crystal display, plasma display panel, thermal heater, and other sensors, were prepared by using the capacitively coupled DC magnetron sputtering method. The electrical and optical properties of both the ITO and ZnO:Al thin films were investigated as functions of substrate temperature, working gas pressure and deposition time. ITO and ZnO:Al films with the the present experimental conditions of temperature and pressure showed resistivity of $2.36{\times}10^{-4}{\Omega}-cm,\;9.42{\times}10^{-4}{\Omega}-cm$ and transmittance of 86.28%, 90.88% in the wavelength range of the visible spectrum, respectively.