1 |
K. Yoshida, H. Uchike and M. Sawa: IEICE Trans. Electron. E82-C, 1798 (1999)
|
2 |
E. H. Choi, H. J. Oh, Y. G. Kim, J. J. Ko, J. Y. Lim, J. G. Kim, D. I. Kim, G. S. Cho, and S. O. Kang: Jpn. J. Appl. Phys. 37, 7015 (1998)
DOI
|
3 |
Y. Motoyama, Y.Hirano, K. Ishii, Y. Murakami, and F. Sato: J.appl. Phys. 95, 8419 (2004)
DOI
ScienceOn
|
4 |
G. Oversluizen, S. Zwart, M. F. Gillies, T. Dekker, T. J. Vink: Microelectron. J. 35, 319 (2004)
DOI
ScienceOn
|
5 |
J. Kang, O. D. Kim, W. G. Jean and J. W. Song: J. Korean Phys. Soc. 37, 854 (2000)
DOI
ScienceOn
|
6 |
S. J. Kwon, and C. K. Jang: Jpn. J. Appl. Phys. 45, 804 (2006)
DOI
|
7 |
Z. N. Yu, J. W. Seo, S. J. Yu, D. X. Zheng, J. Sun: Surf. Coat. Technol., 162, 11 (2002)
DOI
ScienceOn
|
8 |
M. S. Park, D. H. Park, B. H. Kim, B. G. Ryu, and S. T. Kim: SID06 Dig, 1399 (2006)
|
9 |
A. Saito, T. Maeda, M. Tone, T. Shiga, S. Mikoshiba, G. Overshuizer: SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap. 35, 210 (2004)
|
10 |
H. D. Hagstum: Phys. Rev. 96 (2), 336 (1954)
DOI
|
11 |
S. J. Kwon, and C K. Jang: J. Korean Phys. Soc., 47, 371 (2005)
|
12 |
M. Noh, Y. Yi and K. Jeong: J. Korean Phys. Soc. 42, 631 (2003)
|